基于nino芯片的tot讀出電子學(xué)系統(tǒng)研究-資料下載頁
2025-10-02 20:07本頁面
【導(dǎo)讀】分立的放大器和甄別器芯片+TDC芯片。NINO是ALICE工作組在TOF探測器中基于TOT方法設(shè)計(jì)的專用集成ASIC芯片，板室的信號(hào)處理。其集成高增益放大器、前沿定時(shí)甄別、輸出脈。沖延展電路以及LVDS輸出驅(qū)動(dòng)電路。測試得到的NINO芯片帶入的抖動(dòng)在5ps左右。輸出信號(hào)寬度隨輸入信號(hào)幅度的增加呈指數(shù)增加的趨勢。間游走效應(yīng)帶來的誤差。NINO芯片的線性放大動(dòng)態(tài)范圍是10fc到100fc，由于在噪聲信號(hào)幅度小于100fc，會(huì)導(dǎo)致其產(chǎn)生誤觸發(fā)輸出。NINO+高精度TDC芯片：時(shí)間測量精度好于25ps. 需要低噪聲的良好環(huán)境。有望在日后的BESIII端蓋TOF升級工程中以及中。子管位置靈敏探測器中得到應(yīng)用。
【正文】 ina 輸出信號(hào)時(shí)間寬度與輸入信號(hào)幅度關(guān)系 輸出信號(hào)寬度隨輸入信號(hào)幅度的增加呈指數(shù)增加的趨勢。 在實(shí)際應(yīng)用于時(shí)間測量時(shí)可根據(jù)實(shí)際測得的脈寬變化曲線修正前沿定時(shí)的時(shí)間游走效應(yīng)帶來的誤差。 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China NINO芯片的低閾值帶來的誤觸發(fā) 圖中的毛刺即為 NINO在閾值設(shè)定為 50fC時(shí)因噪聲帶來的誤觸發(fā)。 NINO芯片的線性放大動(dòng)態(tài)范圍是 10fc到 100fc，由于在噪聲信號(hào)幅度小于 100fc，信號(hào)被 NINO線性放大，因此產(chǎn)生的毛刺不是滿幅度方波?？梢?，使用 NINO芯片時(shí)一定要注意其應(yīng)處于比較理想的工作環(huán)境中，工作中應(yīng)保持較低的噪聲，否則會(huì)導(dǎo)致其產(chǎn)生誤觸發(fā)輸出。 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China ?NINO芯片：低電子學(xué) ?NINO+高精度 TDC芯片：時(shí)間測量精度好于 25ps ?需要低噪聲的良好環(huán)境 ?有望在日后的 BES III 端蓋 TOF升級工程中以及中 子管位置靈敏探測器中得到應(yīng)用。 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China 謝謝！
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