【正文】
NINO芯片輸出信號(hào)波形 噪聲帶入抖動(dòng)直方圖統(tǒng)計(jì)分析 測(cè)試得到的 NINO芯片帶入的抖動(dòng)在 5ps左右。 Tech. of China NINO: 線(xiàn)性放大范圍: 0~100fC 全差分信號(hào)處理技術(shù) 低噪聲和寬帶放大( 500MHz)設(shè)計(jì) 單通道閾值: 10fc~100fc 輸出信號(hào)前沿: 1ns HPTDC測(cè)試前沿抖動(dòng) 25ps 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China ? ? ? ? 報(bào)告主要內(nèi)容 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China 基于 NINO芯片的 TOT讀出電子學(xué)系統(tǒng)研究 報(bào)告人:黃亞齊 中科院核探測(cè)技術(shù)與核電子學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué)近代物理系 2020817