基于nino芯片的tot讀出電子學(xué)系統(tǒng)研究(存儲(chǔ)版)
【正文】 lectronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China 輸出信號(hào)時(shí)間寬度與輸入信號(hào)幅度關(guān)系 輸出信號(hào)寬度隨輸入信號(hào)幅度的增加呈指數(shù)增加的趨勢(shì)。 Tech. of China 測(cè)試工具： ROHDEamp。 Tech. of China ? TOT傳統(tǒng)設(shè)計(jì)思路： ? 分立的放大器和甄別器芯片 +TDC芯片 ? TOT設(shè)計(jì)新思路： ? ASIC芯片 +TDC。 Tech. of China ? TOT方法： TOT原理示意圖 相同前沿過(guò)閾時(shí)間： tvm 幅度不同，后沿過(guò)閾時(shí)間tw1 、 tw2 、 tw3 不同 快電子學(xué)實(shí)驗(yàn)室 Fast Electronics Lab 中國(guó)科學(xué)技術(shù)大學(xué) University of Sci.amp。 Tech. of China 基 于 NINO的測(cè)試板結(jié)構(gòu)框圖 實(shí)物圖 T H S 4 5 0 9N I N O時(shí) 間 測(cè) 量信 號(hào) 源 單 端 輸 入8 通 道全 差 分 信 號(hào)8 通 道L V D S 輸 出N I N O 放 大 甄 別 測(cè) 試 板T H S 4 5 0 9T H S 4 5 0 9T H S 4 5
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