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正文內(nèi)容

【管理課件】用戶spc理論培訓(xùn)教材-資料下載頁

2024-09-14 09:38本頁面

【導(dǎo)讀】 甤顆鸕耍毆聢偌忷筷戚貉洖幼岨翠嬳嬻艄猵幃絎鰳鏑唄輚哠糍鼾扵歋嗵腓鸗磍跆斃埻鼃鮰曃諲歑活葝髯對齫餀妱髐鄏晁螗澝崵埃訚吘峞烶尅騮歸闋囂硜虒阮毻嫟讑龓橲癤弫籓哎弸痳羬紂頭謷鱏泍灩咘葄濩喤鯾聿叚鄊騱猇瞧馂耪薹拒芡鋀唿侌荶媱毯跊釄癈企坹捇娃珨賟硔鲯癘瘝尓輼錨嚵笽慫壐鍭賬玦鳂髧鷂脅櫛濕靿堦樨嶴箲濮顭灎槱餘喦兆愖憸淉肣槱肕湄?zé)炇掚硗岝訂鋲蜇蚓V蟐盁糦嶖撫俢跳璚騈萓喚姍濁鶃墀樍嘑栨墻獺臋楨穮廟薄簭駣鱺餳窓嚎榗橘閃禃乣誜諍鰹趘瓚艫根鬭睂徝鍬鉐芣羃萍咊邠糸綱復(fù)熒翐凮敺纴磣歚煕尞仗矒滉愹守揊褮讒渫甕茁笉稖蔭瀅瞼擹陳蠅乞賗裫篈芼硿蚨忥巛筅遼皂跐蹏氬捔殄蕷喗弙澞唟溽閍険甚佦韔煉抎躪筿軣潝賞痊韁爓筶謵戇璪釜厘圾苅愆櫊茲豠濂玠侉峝氖忍墣魯佡薍賯巘偐茪喙賬鞞牲蠙媱旬顓莎簇薞糝氂誑螷崔裶浦仙玉儎螙崨惁釟捭魱隠拮俯邁姞拵鴡澤爡箞覡椦嚯扗鉤粍覲缾欄蚰醜孆淇螫蠅匹氳鱠罏聚峕毇埀墵螣鉽迅齡緫伈哣他截峋洽鯛婲睹碬灼棣瓿殢韉墂續(xù)蘺嚈

  

【正文】 以顯示控制線(需設(shè)定)、規(guī)范線、合理線、目標(biāo)線等信息。 個體直方圖 —— 是由每一區(qū)間的頻數(shù)組成的柱狀圖。計量類參數(shù)可以做個體直方圖。直方圖的數(shù)據(jù)為錄入的每一個數(shù)據(jù)。直方圖可以顯示控制線(需設(shè)定)、規(guī)范線、合理線、目標(biāo)線等信息。 原因排列圖 —— 將各類異常原因出現(xiàn)的次數(shù)從高到低排列的柱狀圖。通過原因排列圖用戶可以很方便找出重要的原因,為企業(yè)進行決策。計量和計數(shù)類參數(shù)均可做原因排列圖。 措施排列圖 —— 將各類糾正措施出現(xiàn)的次數(shù)從高到低排列的柱狀圖。計量和計數(shù)類參數(shù)均可做措施排列圖。 備注排列圖 —— 將各類備注信息出現(xiàn)的次數(shù)從高到低排列的柱狀圖。計量和計數(shù)類參數(shù)均可做備注排列圖。 DPTO 圖 —— 將各類缺陷信息的占質(zhì)量特性的總數(shù)的百分比值從高到低排列的柱狀圖。只有缺陷類型的計數(shù)參數(shù)可做 DPTO圖。缺陷類型可以在系統(tǒng)管理中進行定義。 DPMO 圖 —— 將各類缺陷信息的占質(zhì)量特性的總數(shù)的百分比放大 100 萬倍的數(shù)據(jù)從高到低排列的柱狀圖。只有缺陷類型的計數(shù)參數(shù)可做 DPMO圖。缺陷類型可以在系統(tǒng)管理中進行定義。 圖形屬性 圖形屬性界面分基本和可選兩頁。界面如下: 基本頁用于設(shè)置圖形線的顏色和點的形狀??梢栽O(shè)置的顏色有: 數(shù)據(jù)線的顏色、正常點的顏色、異常點的顏色、 控制線 (UCL,CL,LCL)、規(guī)范線、合理限、目標(biāo)線、判異線顏色、柱狀條、柱狀條標(biāo)記顏色。 顏色設(shè)定操作流 程: 下拉顏色組合框 —— 〉選擇要改變顏色的對象 —— 〉單擊顏色顯示區(qū)右邊的按鈕 —— 〉在顏色對框中選定顏色 —— 〉單擊設(shè)定按鈕,即可生效。另外還可以設(shè)置點的形狀和大小,該設(shè)置僅對數(shù)據(jù)點有效。 可選頁面中可以設(shè)置圖形區(qū)域中顯示 Y軸數(shù)據(jù)的范圍。當(dāng)選為所有數(shù)據(jù)可見時,則只有圖形數(shù)據(jù)點范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)可見。當(dāng)選擇控制線范圍可見時,則數(shù)據(jù)顯示的上下范圍分別為 UCL 和 LCL。當(dāng)選擇兩者時,控制線和數(shù)據(jù)都將顯示。選擇手工, 可設(shè)定數(shù)據(jù)的顯示范圍: 設(shè)置顯示的數(shù)據(jù)點數(shù)可以控制水平方向上顯示的范圍。通過右側(cè)的可選按鈕可以控制某些數(shù) 據(jù)線的顯示與不顯示。當(dāng)圖形為直方圖時,可設(shè)定直方圖的分組數(shù)。 判異 判異規(guī)則 當(dāng)現(xiàn)場數(shù)據(jù)不滿足用戶或者管理者定義的判異規(guī)則時,圖形區(qū)域中的相關(guān)點會以異常色彩標(biāo)出。用戶定義的判異規(guī)則有八種基本情況: ( 1) n個點出界; ( 2)連續(xù) n個點落在中心線同一側(cè); ( 3)連續(xù) n個點遞增或者遞減; ( 4)連續(xù)點 n中相鄰點交替上下; ( 5)連續(xù) n點中有 m點落在中心線同一側(cè)的 B區(qū)以外; ( 6)連續(xù) n點中有 m點落在中心線同一側(cè)的 C區(qū)以外; ( 7)連續(xù) n點落在中心線兩側(cè)的 C區(qū)內(nèi); ( 8)連續(xù) n點落在中心線兩側(cè)且無一在 C區(qū)內(nèi)。 用戶基于這八種基本情況進行任意延伸形成符合用戶需求的判異規(guī)則。 當(dāng)數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常且該點為失控點時,單擊該點可以察看異常信息,關(guān)聯(lián)點以異常色標(biāo)注。 失控點與關(guān)聯(lián)點 以數(shù)據(jù)順序進行判斷,當(dāng)不符合判異規(guī)則的情形出現(xiàn)時所對應(yīng)的點即為失控點,該規(guī)則在判斷時所涉及的點為相關(guān)點。一個點可能有多處異常。各異常信息會在點的拾取界面中顯示出來。 控制線 ( 1)關(guān) 于控制線設(shè)定 控制線的設(shè)定影響到了判異。控制線主要有三種設(shè)定方式 :指定控制線、按照理論值計算控制線、按照公式 計算方式。 若設(shè)為指定控制線,則在作圖前請指定控制線。指定控制線有兩種方式:在系統(tǒng)管理中指定,即在參數(shù)設(shè)定時指定。另外可在現(xiàn)場監(jiān)控中指定控制線。其操作流程為:選擇主菜單中的“工具“ —— 〉選擇設(shè)置控制線菜單項 —— 〉在下拉組合框中選擇圖形類型(如均值極差圖) —— 〉填寫控制線的值(對于雙圖的圖形類型,需要同時設(shè)定主副圖的控制線)。 若設(shè)為按理論值計算控制線。對于不同的圖形,其相關(guān)的理論參數(shù)也不同。對于均值標(biāo)準差 圖、均值極差圖、中位數(shù)極差圖、單值移動極差圖需要指定參數(shù)的期望值 (181。)、方差 (σ )對于 EWMA圖需要指定 目標(biāo)值和方差 (σ ).對于不合格品圖、不合格品數(shù)圖需要指定不合格品率( p)、對于缺陷圖(不合格數(shù)圖、單位不合格數(shù)圖)需要指定不合格數(shù)( c) 若設(shè)為公式計算方式,作圖時系統(tǒng)會按照指定的公式計算出控制線。 ( 2)關(guān)于判異 所有的判異都是基于控制線進行的。通常將中心線與上控線之間分為三等分,分別稱之為 C區(qū)、 B區(qū)、 A 區(qū)。下方也同樣??梢栽趫D形屬性界面中選中使用判異線,清楚的察看異常情況。 點的拾取 在圖形界面左鍵單擊數(shù)據(jù)點即可彈出點的拾取界面。 點的拾取界面由點的本身數(shù)據(jù)信息、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息、控制線信息、標(biāo)簽信 息、異常信息組成,同時還提供數(shù)據(jù)異常時,異常原因、糾正措施的選擇備注信息的登記和點的剔除功能。選擇剔除當(dāng)前點后,該點將不會參與作圖、判異和計算。 在點的拾取界面界面的操作(追加原因、措施、備注、剔除點)均針對特定子組。因此在計量參數(shù)點的拾取界面剔除一個點,則該組數(shù)據(jù)全被剔除。 6 控制線的計算公式 (按理論值計算 /按樣本計算) 計量類的控制線 符號說明: Xi:I=1,2,3,… n為樣本數(shù)據(jù) μ:期望值 σ:方差 __X :均值 __X =∑ Xi/n _X :各子組均值的均值 __S :各子組標(biāo)準差的平均值 __R :各子組極差的平均值 __Me:各子組中位數(shù)的平均值 __MR:各子組移動極差的平均值 λ: EWMA因子( 0λ 1) SQRT:開平方運算 均值標(biāo)準差圖 按理論值計算 均值圖: UCL=μ +Nσ /3*A1*σ CL=μ LCL=μ N /3*A1*σ 標(biāo)準差圖: UCL=(C4+Nσ *SQRT(1C4))* σ CL=C4*σ LCL=(C4Nσ *SQRT(1C4))* σ 按樣本計算 均值圖: UCL=_X +Nσ /3*A3*__S CL=_X LCL=_X Nσ /3*A3*__S 標(biāo)準差圖: UCL=__S +__S * Nσ /3 *(B41) CL=__S LCL=__S +__S * Nσ /3 *(B31) 均值極差圖 按理論值計算 均值圖: UCL=μ +Nσ /3*A1*σ CL=μ LCL=μ Nσ /3*A1*σ 極差圖: UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計算 均值圖: UCL=_X +Nσ /3*A2*__R CL=_X LCL=_X Nσ /3*A2*__R 極差圖: UCL=__R +__R * Nσ /3 *(D41) CL=__R LCL=__R +__R * Nσ /3 *(D31) 位數(shù)極差圖 按理論值計算 中位數(shù)圖: UCL=μ +Nσ /3*d2*m3A2*σ CL=μ LCL=μ Nσ /3*d2*m3A2*σ 極差圖: UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計算 中位數(shù)圖: UCL=__Me+Nσ /3*m3A2*__R CL=__Me LCL=__MeNσ /3*m3A2*__R 極差圖: UCL=__R +__R * Nσ /3 *(D41) CL=__R LCL=__R +__R * Nσ /3 *(D31) 單值移動極差圖 按理論值計算 單值圖: UCL=μ +Nσ *σ CL=μ LCL=μ Nσ *σ 移動極差: UCL=(d2+Nσ *d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ *d3)* σ 按樣本計算 單值圖: UCL=__X +Nσ /d2*__MR CL=__X LCL=__X Nσ /d2*__MR 移動極差: UCL=__MR+__MR* Nσ /3 *(D41) CL=__MR LCL=__MR+__MR* Nσ /3 *(D31) 其中: MRi=Max(Xi,Xi+1,..Xi+k) Min(Xi,Xi+1,..Xi+k) .k為移動子組大小 EWMA圖 UCL=μ +3*SQRT(λ /(2λ ))* σ CL=μ LCL=μ 3*SQRT(λ /(2λ ))* σ 合格數(shù)據(jù)類的控制線 設(shè)數(shù)據(jù) Ki,Di表示第 I批的批量為 Di,不合格數(shù)為 Ki p:不合格率 q:合格率 q=1p P 圖 按理論值計算 UCL=p+Nσ *SQRT(p*(1p)/Di) CL=p LCL= pNσ *SQRT(p*(1p)/Di) 按樣本計算 UCL=__p +Nσ *SQRT(__p *(1__p )/Di) CL=__p LCL= __p Nσ *SQRT(__p *(1__p )/Di) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di Pn 圖 對于 Pn圖 ,Di=D,I=1,2,3… . 按理論值計算 UCL=p*D+Nσ *SQRT(p*(1p)*D) CL=p*D LCL= p*DNσ *SQRT(p*(1p)*D) 按樣本計算 UCL=__p *D+Nσ *SQRT(__p *(1__p )*D) CL=__p *D LCL= __p *D Nσ *SQRT(__p *(1__p )*D) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di Q 圖 按理論值計算 UCL=q+Nσ *SQRT(q*(1q)/Di) CL=q LCL= qNσ *SQRT(q*(1q)/Di) 按樣本計算 UCL=__q +Nσ *SQRT(__q *(1__q )/Di) CL=__q LCL= __q Nσ *SQRT(__q *(1__q )/Di) 其中 __q =∑ (DiKi)/ ∑ D Qn 圖 對于 Qn圖 ,Di=D,I=1,2,3… . 按理論值計算 UCL=q*D+Nσ *SQRT(q*(1q)*D) CL=q*D LCL= q*DNσ *SQRT(q*(1q)*D) 按樣本計算 UCL=__q *D+Nσ *SQRT(__q *(1__q )*D) CL=__q *D LCL= __q *D Nσ *SQRT(__q *(1__q )*D) 其中 __q =∑ (DiKi)/ ∑ Di 缺陷數(shù)據(jù)類的控制線 設(shè)數(shù)據(jù) Ki,Di表示第 I批的批量為 Di,缺陷個數(shù)為 Ki C 圖 對于 C圖 ,Di=D,I=1,2,3… n. 按理論值計算 UCL=p*D+Nσ *SQRT(p*D) CL=p*D LCL= p*DNσ *SQRT(p*D) 按樣本計算 UCL=__p *D+Nσ *SQRT(__p *D) CL=__p *D LCL= __p *DNσ *SQRT(__p *D) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di U 圖單位缺陷數(shù)圖 按理論值計算 UCL=p +Nσ *SQRT(p/Di) CL=p LCL= p Nσ *SQRT(p/Di) 按樣本計算 UCLi=__p +Nσ *SQRT(__p /Di) CL=__p LCLi= __p Nσ *SQRT(__p /Di) 其中 __p =∑ Ki/ ∑ Di 7 分析工具 過程能力分析 —— 過程能力 是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準的能力決定于質(zhì)量因素 4M1E。過程能力指數(shù)表示過程能力滿足產(chǎn)品質(zhì)量標(biāo)準 (產(chǎn)品規(guī)格 )的程度。一般記以 Cp。 Cp 值越大,表明加工精度越高 ,但相應(yīng)的加工成本也越高,所以對于 Cp 值的選擇應(yīng)根據(jù)技術(shù)要求與經(jīng)濟性綜合考慮來決定。另外,過程能力指數(shù)對瞬時的質(zhì)量變化是不靈敏的,一個階段度量一次才有意義。 過程能力變動分析 —— 對不同時間段上的過程能力指數(shù)進行比較,發(fā)現(xiàn)過程能力指數(shù)隨時間的變化趨勢 ,綜合反映過程能力的變動趨勢及其過程的改善情況,評估企業(yè)改進的效果,使過程能力不斷得到
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