篇油藏描述及水淹層分析-資料下載頁
2025-05-14 03:44本頁面
【正文】 Σw2為已知 ， 故可用測 — 注 — 測的方法 ， 在注淡水油藏中解決 Sor計算的方法 。 （ 四 ） 利用電阻率測井及自然電位測井計算剩余油飽合度 。 1． 計算公式 正如前述 ， 淡水水淹層在強(qiáng)水淹階段 ， 隨著 Sw上升 ， Rt上升 。 電阻率與 Sw之間呈 U形特征 。 但在中 — 高含水階段 ， 水淹層的電阻率指數(shù) （ I） 與 Sw在雙對數(shù)坐標(biāo)下仍為直線關(guān)系 。 尤其是早期注淡水 ， 后期注污水的情況下 ， 甚至在高 — 特高含水期 ， 阿爾奇公式仍然適用 。 即： 由公式可見 ， Sw的計算的關(guān)鍵是 Rz的計算 。 2． 地層混合液電阻率 Rz 地層注水以后 ， 地層水的礦化度發(fā)生很大變化 ， 如果不能很好地計算 Rz， 將不可能計算準(zhǔn)Sw。 我們可以采用 SP測井計算 Rz。 利用 SP測井計算 Rz， 首先應(yīng)進(jìn)行壓濾電位 、 層厚等校正 。 )(11 12 12 ww ttSwSor ??? ??????? ?由實(shí)驗(yàn)和經(jīng)驗(yàn)給出巖性系數(shù)飽合度指數(shù)值中高含水期的?????????????????banmmRtRzbaSmnw,?① 壓濾電位校正 我們知道油井 SP是由吸附一擴(kuò)散電動勢及壓濾電動勢 （ Eda） 兩部分組成 。 當(dāng)鉆井時 ，泥漿柱壓力 地層壓力時 ， 在此壓差下泥漿濾液會向油層中滲透 ， 并會帶動泥漿中顆粒表面雙電層吸附的陽離子向壓力低的一方移動 ， 進(jìn)入油層后 ， 受巖石顆粒表面負(fù)離子的吸附而滯留 ， 從而在低壓一側(cè)形成正電富集 ， 在高壓一側(cè)形成負(fù)電荷富集 ， 從而產(chǎn)生過濾電位 。其電場方向與吸附擴(kuò)散電場指向相反 。 抵消了一部分吸附擴(kuò)散電動勢 。 為此必須從吸附一擴(kuò)散電動勢及壓濾電動勢 （ Eda） 中減去這部分電動勢 。 壓濾電位的計算，可由亥姆霍茲 [Helmhotz]方程來表示： E— 壓濾電位 (mv)； Rmf— 泥漿濾液電阻率 （ Ωm） ； ε— 泥漿濾液介電常數(shù)； ξ— 雙電層的擴(kuò)散層的電位勢 （ 電動電位 ） ； μ— 泥漿濾液粘度 [MPas]； ΔP— 泥漿柱與地層壓力差；atm； A— 與巖石的物理化學(xué)性質(zhì)有關(guān)的過濾電動勢系數(shù) ， A=εξ/4π。 上述方程是理論方程 ， 其中參數(shù) ξ很難確定 。 因此為了能實(shí)際計算出過濾電位的大小 ， 勝利油田提出以下經(jīng)驗(yàn)方程： E= ΔP 因此，將實(shí)測的自然電位減去過濾電位就得到了消除過濾電位影響的自然電位數(shù)值： ② 地層厚度特征 由于地層厚度影響 SP的幅度 。 當(dāng)?shù)貙訙p薄時 ， 地層 SP幅度會降低 。 ???????? ?????? R m fAPR m fE 4PR m fRwR m fegKEE daU s p ????????? 44 ?h/d 1 2 5 SP / SP′ 1 1 SP′— 為經(jīng)厚度校正的 SP。 h— 地層厚度（ m）， d— 井名度井徑 (m)。 如果知道地層厚度 h和 d， 則可以查園板 ， 內(nèi)插出 SP/SP′值 ， 則可以根據(jù)實(shí)測 SP經(jīng)壓濾電動勢校正后 ， 計算出 SP′（ 經(jīng)地層厚度校正 ） 。 3． 應(yīng)用校正后的自然電位計算混合液電阻率 Rz 上述 SP為未經(jīng)泥質(zhì)校正的 SP′， 如果地層中含有泥質(zhì)時 ， 采用下式求得校正以后的SSP。 則： SSP—— 靜自然電位值； Rz—— 混合液電阻率； RmfT—— 地層溫度下的泥漿瀘液電阻率 從而可以求出 Rz。 PS V s hSSPSSPPSV s h ?????? 11RzRmfIKSSP lg???
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