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正文內(nèi)容

spc統(tǒng)計(jì)制程管制綜合概述(編輯修改稿)

2025-03-10 15:16 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 製程能力不足 發(fā)生不良品,必須進(jìn)行全數(shù)檢驗(yàn),並改善製程管理。 5. /0 .83 > Cp 製程能力不足 無法滿足品質(zhì)之狀態(tài)。必須追查原因,進(jìn)行品質(zhì)改善和緊急對(duì)策。此外,須再度檢討規(guī)格的訂定。 28 MOTOROLA達(dá)到 6 Sigma的步驟 。 ,及他們的要求。 ,以提供顧客滿意的產(chǎn)品或服務(wù)。 (Define)現(xiàn)在的製程 (程序 ) (程序 ),避免浪費(fèi)資源。 、分析、控制已改善的製程 (程序 )不斷改良,精益求精。 29 MOTOROLA邁向 6 Sigma之路 1979-管理階層的承諾與了解 1981-品質(zhì)喚醒 - 5年內(nèi) 10倍的改善 1986-企業(yè)標(biāo)竿及品質(zhì)訪查 1987- 6 Sigma遠(yuǎn)景 1989- 10倍之品質(zhì)改善 1991- 100倍之品質(zhì)改善 1992- 6 Sigma 1993-超越 6 Sigma 1994-每 2年 10倍之品質(zhì)改善 2023-獲利率乘 2倍 30 十、管制圖的運(yùn)用 管制圖的由來 管制圖是 1924年由蕭華特博士 (Dr. W. A. Shewhart),在研究產(chǎn)品品質(zhì)特性之次數(shù)分配時(shí)所發(fā)現(xiàn)。正常的工程所生產(chǎn)出來產(chǎn)品之品質(zhì)特性,其分配大都呈常態(tài)分配的,會(huì)超出三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差 (177。3σ)的產(chǎn)品只有 %。依據(jù)此原理,將常態(tài)曲線圖旋轉(zhuǎn) 90度,在三個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差的地方加上兩條界限,並將抽樣之?dāng)?shù)據(jù)順序點(diǎn)繪而成為管制圖。 31 A區(qū) B區(qū) C區(qū) C區(qū) A區(qū) B區(qū) % % % % % % 規(guī)格範(fàn)圍 % %%%%32 管制圖定義 一種用於調(diào)查製造程序是否在 穩(wěn)定狀態(tài)下,或者維持製造程 序在穩(wěn)定狀態(tài)上所用之圖。 33 數(shù) 據(jù) 分 為 語言資料:用語言所表現(xiàn)的事實(shí) 計(jì)量值: Variable Data,一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值,可用連續(xù)量 (Continuous quantity)計(jì)量者。 計(jì)數(shù)值: Attribute Data,一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值,可用以間斷數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)者。 數(shù)值數(shù)據(jù) 34 管制圖的種類 .計(jì)量值管制圖 X- R Chart(平均值與全距管制圖 ) X- R Chart(中位數(shù)與全距管制圖 ) X- Rm Chart(個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ) X- S Chart(平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ) .計(jì)數(shù)管制圖 P- Chart(不良率管制圖 ) nP- Chart(不良數(shù)管制圖 ) C- Chart(缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) U- Chart(單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 ) ~ 35 管制圖點(diǎn)繪原則 依照下述這些原則點(diǎn)繪管制圖,容易整齊劃一有助於資料之整理與研判 .製程名稱、管制特性、測(cè)定單位、規(guī)格值、設(shè)備號(hào)碼、操作者、測(cè)定者、抽樣方法、樣本數(shù)、期間、製程要因、 (人員、設(shè)備、材料、方法、環(huán)境 )之任何變更資料需清楚填入,以便資料之分析整理。 .中心線 (CL)記以實(shí)線,管制上限 (UCL)及管制下限 (LCL)記以虛線,中心線及管制上、下限,分別記入其數(shù)值及 CL、 UCL、 LCL等符號(hào)。 . CL、 UCL、 LCL之位數(shù)比測(cè)定位數(shù)多兩位即可。 36 X- R Chart (平均值與全距管制圖 ) 適用製程 .可用以管制分組之計(jì)量數(shù)據(jù),即每次同時(shí)取得幾個(gè)數(shù)據(jù)之工程。 .是把握工程狀態(tài)最有效的一種管制圖。 37 X- R管制圖公式 X管制圖: 中心線 (CL)= X 管制上限 (UCL)= X+ A2R 管制下限 (LCL)= X- A2R R管制圖: 中心線 (CL)= X 管制上限 (UCL)= D4R 管制下限 (LCL)= D3R X - R 管制圖係數(shù)表樣本大小 A2D4D32 03 04 05 15 06 07 8 9 10 2? dR??38 建立 X- R管制圖步驟 . 建立解析用管制圖的步驟: (1)搜集數(shù)據(jù)-依測(cè)定時(shí)間順序排列 (2)數(shù)據(jù)分組-以 3~ 5個(gè)數(shù)據(jù)為一組最佳 (3)記入管制圖的數(shù)據(jù)欄內(nèi) (4)計(jì)算平均值 X-求各組的平均值 X (5)計(jì)算全距 R-求各組的全距 R (6)計(jì)算總平均值 X-求各組均值 X的總平均值 X (7)計(jì)算全距的平均值 R-求各組全距 R的平均值 R (8)查係數(shù) A2, D4, D3並代入公式計(jì)算管制界限 (9)繪制管制界限及中心線- X管制圖在上, R管制圖在下 (10)點(diǎn)繪-點(diǎn)在其數(shù)值之位置並以直線連接之 (11)管制界限檢討如流程圖 39 解析用計(jì)量值管制圖分析流程 (R-管制圖 ) 註:摘自 SPC Simplified 全距均在管制 界限內(nèi)嗎? 是 否 只有一個(gè)或二個(gè)點(diǎn) 在管制界限外? 是 否 3個(gè)以上的點(diǎn)在管制界限外 剔除這一或二個(gè) 全距值的樣本 重新計(jì)算 X、 R 的全距管制界限 全距失控 停止計(jì)算平均值的管制界限限外 其餘的全距值均在界限內(nèi)嗎? 找出亦修正非機(jī)遇原因 重新收集資 計(jì)算平均值的管制界限 是 否 全距值均 在控制中 計(jì)算平均值的管制圖 平均值管制圖分析流程 40 .建立製程管制用管制圖步驟 (1)記上必要事項(xiàng) (2)繪入管制界限 (3)繪點(diǎn) (4)狀態(tài)之判定 (5)改正措施 (6)管制界限的延續(xù)使用 41 X- R Chart (中位數(shù)與全距管制圖 ) 適用製程與 X- R Chart同,但檢出力較差,故多以 X- R Chart代之。 公式: X管制圖: 中 心 線 (CL)= X 管制上限 (UCL)= X+ m3A2R 管制下限 (LCL)= X- m3A2R R管制圖: 中心線 (CL)= R 管制上限 (UCL)= D4R 管制下限 (LCL)= D3R 係數(shù)表樣本大小 m3A4D4D32 0 7 03 7 5 04 9 2 05 1 15 06 9 4 07 9 4 68 2 4 69 2 6 410 3 7 3~ ~ ~ ~ ~ 42 X- Rm Chart (個(gè)別值與移動(dòng)全距管制圖 ) 適用製程 .耗用時(shí)間很多方能完成測(cè)試者 .屬極為均勻一致之產(chǎn)品 .破壞性試驗(yàn)或是測(cè)量不易之產(chǎn)品 .產(chǎn)品係非常貴重之物品 .產(chǎn)量不大,批量很小時(shí) .爭(zhēng)取時(shí)效時(shí) 43 X- Rm管制圖公式 X管制圖: 中 心 線 (CL)= X 管制上限 (UCL)= X+ E2Rm 管制下限 (LCL)= X- E2Rm Rm管制圖: 中 心 線 (CL)= Rm 管制上限 (UCL)= D4Rm 管制下限 (LCL)= D3Rm X - Rm 管制圖係數(shù)表樣本大小 E2D4D32 03 04 05 15 06 07 8 9 10 44 X- S Chart (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 ) 適用製程與 X- R管制圖同,但當(dāng) n> 10,則使用 X- S管制圖 X管制圖: 中 心 線 (CL)= X 管制上限 (UCL)= X+ A3S 管制下限 (LCL)= X- A3S S管制圖: 中 心 線 (CL)
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