【文章內(nèi)容簡介】 的 計 算： m inm a x xxR ??2 2 3 3 3 極 差 100 平均 99 100 99 99 101 5 99 99 101 100 100 4 98 100 100 97 99 3 97 101 98 99 98 2 98 100 99 98 100 1 每組 平均值和 極 差 的計 算 示例 ： A 選擇 控制 圖 的刻度 ： ? 對于 Xbar圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組（ Xbar ）的最大值與最小值差的 2倍； ? 對于 R圖，坐標(biāo)上的刻度值應(yīng)從 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差值（ R ）的 2倍； A 將均值和極差畫到 控制 圖上 ： ? 在確定了刻度后盡快完成： ? 將極差畫在極差 控制 圖上，將各點(diǎn)用直線依次連接 ： ? 將均值畫在均值 控制 圖上，將各點(diǎn)用直線依次連接 ： ? 確保所畫的同一個樣本組的 Xbar和 R點(diǎn)在縱向是對應(yīng)的； ? 分析用控制圖應(yīng)清楚地標(biāo)明 “ 初始研究 ” 字樣； ? 標(biāo)明 “ 初始研究 ” 的控制圖，是僅允許用在生產(chǎn)現(xiàn)場中還沒有控制限的過程控制圖。 ? （備注：控制用控制圖必須要有控制限！） Ｂ計算控制限 B1計 算平均 極 差及 過 程平均值 B2計 算控制限 B3在控制 圖 上作出平均值和 極 差控制限的控制 線 步 驟 B： K為子組數(shù) k R R R R k x x x x x k k ? ? ? ? ? ? ? ? ? ..... ..... 2 1 3 2 1 極差控制圖： 平均值控制圖： B 計 算平均 極 差及 過 程平均值 R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 ? ? ? ? ? ? ? ? 極差控制圖： 平均值控制圖： B 計 算控制限 注： D D A2為常數(shù)，隨樣本容量 n的不同而不同，見《控制圖的常數(shù)和公式表》。 B 在控制 圖 上 畫 出平均值和 極 差控制限的控制 線 ? 將平均 極 差 （ R bar） 和過程均值（ Xdouble bar）畫成黑色水平實(shí)線，各控制限（ UCLR、 LCLR、 UCLX、LCLX） 畫成 紅色 水平虛線； ? 在初始研究階段，這些被稱為試驗(yàn)控制限。 Ｃ過程控制解釋 C1分析 極 差 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (極 差 圖 ) C3重新 計 算控制界限 (極 差 圖 ) C4分析均值 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 C5識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (均值 圖 ) C6重新 計 算控制界限 (均值 圖 ) C7為 了 繼續(xù)進(jìn) 行控制延 長 控制限 步 驟 C： ? 控制圖的判定準(zhǔn)則： ? （ 1）、基本判定準(zhǔn)則： – 當(dāng)控制圖中的點(diǎn)出現(xiàn)下列情況之一，說明 生產(chǎn)過程存在特殊原因 ，需立即采取措施予以消除以確保過程處于穩(wěn)定狀態(tài)： ? 超出控制線的點(diǎn)； ? 連續(xù)七點(diǎn)上升或下降； ? 連續(xù)七點(diǎn)全在中心點(diǎn)之上或之下； ? 點(diǎn)出現(xiàn)在中心線單側(cè)較多時，如： – 連續(xù) 11點(diǎn)中有 10點(diǎn)以上 – 連續(xù) 14點(diǎn)中有 12點(diǎn)以上 – 連續(xù) 17點(diǎn)中有 14點(diǎn)以上 – 連續(xù) 20點(diǎn)中有 16點(diǎn)以上 ? （ 2） 、 圖示 判 定準(zhǔn)則： ? 當(dāng)控制圖中的點(diǎn)出現(xiàn)下列情況之一 ， 說明生產(chǎn)過程存在特殊原因 ， 需立即采取措施予以消除以確保生產(chǎn)過程處于穩(wěn)定狀態(tài) 。 A B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 判 定 準(zhǔn)則 1:(2/3A) 3點(diǎn) 中有 2點(diǎn) 在 A區(qū) 或 A區(qū) 以外 判 定 準(zhǔn)則 2: (4/5B) 5點(diǎn) 中有 4點(diǎn) 在 B區(qū) 或 B區(qū) 以外 XXA B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 判 定 準(zhǔn)則 3:(6連 串 ) 連續(xù) 6點(diǎn)持續(xù) 地上升或下降 判 定 準(zhǔn)則 4: (8缺 C) 有 8點(diǎn) 在中心 線 的 兩側(cè) ,但 C區(qū) 并 無點(diǎn) 子 XXA B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 判 定 準(zhǔn)則 5: (7單側(cè) ) 連續(xù) 7點(diǎn) 在 C區(qū) 或 C區(qū) 以外 判 定 準(zhǔn)則 6: (14升降 ) 連續(xù) 14點(diǎn) 交互 著 一升一降 XXA B C C B A UCL LCL A B C C B A UCL LCL 判 定 準(zhǔn)則 7: (15C) 連續(xù) 15點(diǎn) 在中心 線 上下 兩側(cè) 的 C區(qū) 判 定 準(zhǔn)則 8: (1界外 ) 有 1點(diǎn) 在 A區(qū) 以外 XXC 重新計算控制限 ? 當(dāng)進(jìn)行首次工序研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點(diǎn)； ? 重新計算并描畫過程均值和控制限； ? 確保當(dāng)與新的控制限相比時，所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復(fù) 判定 /糾正 /重新計算 的程序。 C 延長控制限繼續(xù)進(jìn)行控制 ? 當(dāng)控制圖上的點(diǎn)處于受控狀態(tài)并且 CPK大于 1時，將控制限應(yīng)用于制造過程控制，此時控制圖稱為 控制用控制圖 ； ? 將控制限畫在 控制用控制圖 中，用來繼續(xù)對工序進(jìn)行控制； ? 操作人員或現(xiàn)場檢驗(yàn)人員根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計算 Xbar和 R并將其畫在控制圖中并與前點(diǎn)用短直線連接、 立即 應(yīng)用前述判定原則和標(biāo)準(zhǔn)判定工序是否處于受控狀態(tài)； ? 如工序處于非受控狀態(tài)，操作人員或現(xiàn)場檢驗(yàn)人員應(yīng) 立即 分析異常原因并采取措施確保工序恢復(fù)到受控狀態(tài)； ? 工序質(zhì)控點(diǎn)的控制圖應(yīng)用的“ 三立即 ”原則； ? 工序質(zhì)控點(diǎn)的控制圖出現(xiàn)異常情況的處理 20字方針是“ 查出異因，采取措施，加以消除，不再出現(xiàn)，納入標(biāo)準(zhǔn) ” 。 七、計數(shù)型控制圖 的制作步驟和判定原則 建立 P控制 圖 的 步驟： A 收集 數(shù)據(jù) B 計 算控制限 C 過 程控制解 釋 D 過 程能力解 釋 建立 p圖 的步 驟 A Ａ 階段收集數(shù)據(jù) A1選擇 子 組 的容量、 頻 率及 數(shù) 量 子 組 容量 分 組頻 率 子 組數(shù) 量 A2計 算每 個 子 組 內(nèi)的不合格品率 A3選擇 控 制圖的 坐 標(biāo) 刻度 A4將 不合格品率描 組 在控制 圖 A1 選擇 子 組 容量、 頻 率、 數(shù) 量 ? 子 組 容量 ：用 于計數(shù) 型 數(shù)據(jù) 的控制 圖 一般要求 較 大的子 組 容量 (例如 50~200)以便 檢驗(yàn) 出性能的 變 化，一般希望每 組 內(nèi)能包括 幾個 不合格品，但 樣 本 數(shù) 如果太 大 也 會 有不利之 處 。 ? 分 組頻 率 ： 應(yīng) 根 據(jù)產(chǎn) 品的 周 期 確 定分 組 的 頻 率以便 幫 助分析和 糾 正 發(fā)現(xiàn) 的 問題 。 時間隔 短 則 反 饋 快，但也 許與 的子 組 容量的要求矛盾 ? 子 組數(shù) 量 ：要大 于 等 于 25組 以上，才能判定其 穩(wěn)定 性。 Ppn 5~1?A2 計 算每 個 子 組 內(nèi)的不合格品率 ? 記錄 每 個 子 組 內(nèi)的下列值 – 被檢項 目的 數(shù) 量 ─ n – 發(fā)現(xiàn) 的不合格 項 目的 數(shù) 量 ─ np – 通 過這 些 數(shù)據(jù)計 算不合格品率 nnpndp ??A3 選擇 控制 圖 的坐 標(biāo) 刻度 ? 描 繪數(shù)據(jù)點(diǎn) 用的 圖應(yīng)將 不合格品率作 為縱坐標(biāo) ，子 組識 別作 為橫 坐 標(biāo) 。 縱 坐 標(biāo) 刻度 應(yīng)從 0到初步研究 數(shù)據(jù)讀數(shù) 中最大的不合格率值的