【文章內(nèi)容簡介】 B區(qū)或之外6. 14 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)交互上升和下降7. 15 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在任一個(gè) C區(qū)8. 8個(gè)點(diǎn)在 C區(qū)之外的成一行，并在中心線的同一邊Tests proposed by Lloyd Nelson (1984) and used by MINITAB? for run and trend analysis哪一個(gè)測試比較好 ?Western Electric? 超出控制限之外的點(diǎn)? 在中心線同一邊有 7個(gè)連續(xù)的點(diǎn)? 7個(gè)連續(xù)點(diǎn)上升或下降? 3個(gè)點(diǎn)中有 2個(gè)同在 A區(qū)或是之外? 5個(gè)點(diǎn)中有 4個(gè)同在 B區(qū)或是之外? 14個(gè)連續(xù)的點(diǎn)交互上下? 14個(gè)連續(xù)的點(diǎn)任一 C區(qū)Nelson? 在控制限之外的任何點(diǎn)? 9 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在中心線的同一邊? 6 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)連續(xù)上升或下降? 3個(gè)點(diǎn)中有 2個(gè)都在 A區(qū)或之外? 5個(gè)點(diǎn)中有 4個(gè)都在 B區(qū)或之外? 14 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)交互上升和下降? 15 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在任一個(gè) C區(qū)? 8個(gè)點(diǎn)在 C區(qū)之外的成一行， 并在中心線的同一邊發(fā)錯(cuò)誤警報(bào)的比率是關(guān)鍵的Nelson? 在控制限之外的任何點(diǎn)? 9 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在中心線的同一邊? 6 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)連續(xù)上升或下降? 3個(gè)點(diǎn)中有 2個(gè)都在 A區(qū)或之外? 5個(gè)點(diǎn)中有 4個(gè)都在 B區(qū)或之外? 14 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)交互上升和下降? 15 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在任一個(gè) C區(qū)? 8個(gè)點(diǎn)在 C區(qū)之外的成一行， 并在中心線的同一邊錯(cuò)誤警報(bào)率.0027大約 .003大約 .003.00305.0043大約 .004大約 .003大約 .003Nelson的所有測試錯(cuò)誤警報(bào)率基本相同。 Western Electric 規(guī)則沒有這個(gè)特性。Nelson 測試 1規(guī)則 1: 超出控制限之外的任意點(diǎn)ABCCBANelson 測試 2規(guī)則 2: 9 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在中心線的同一邊ABCCBANelson 測試 3規(guī)則 3: 6 個(gè)連續(xù)的點(diǎn)連續(xù)上升或下降A(chǔ)BCCBANelson 測試 4規(guī)則 4: 3個(gè)點(diǎn)中有 2個(gè)都在 A區(qū)或是之外ABCCBANelson 測試 5規(guī)則 5: 5個(gè)點(diǎn)中有 4個(gè)都在 B區(qū)或是之外ABCCBANelson 測試 6規(guī)則 6: 14個(gè)連續(xù)的點(diǎn)交互上升和下降A(chǔ)BCCBANelson 測試 7規(guī)則 7: 15個(gè)連續(xù)的點(diǎn)在任一 C區(qū)ABCCBANelson 測試 8規(guī)則 8: 8個(gè)點(diǎn)在 C區(qū)之外的成一行，并在中心線的同一邊ABCCBAMINITAB 中的 Nelson 測試StatControl ChartsXbarR變量數(shù)據(jù)控制圖控制圖選擇指南變量數(shù)據(jù)XbarR 圖IMR 圖Xbars 圖N10 否是N=1 否是XbarR: 均值 , 極差圖XbarR 圖規(guī)則XbarR 圖 (和 Xbars) 是利用相同的子組數(shù)據(jù)得到兩個(gè)單獨(dú)的圖形? Xbar 圖是子組均值圖? R 圖是子組分布范圍圖 (如果是 s, 就是子組標(biāo)準(zhǔn)偏差圖 ) ? 對(duì)追蹤并識(shí)別特殊原因?qū)е碌淖兓?，是非常敏感? 假設(shè)子組內(nèi)是正態(tài)分布為基礎(chǔ)劃控制圖? 確定 3倍 sigma 的過程限XbarR 和子組數(shù)據(jù)?制造部對(duì)軸加工過程利用 SPC進(jìn)行監(jiān)控，左邊是所測量得到的數(shù)據(jù)。 ?過程受控嗎 ? ?由于數(shù)據(jù)是子組數(shù)據(jù)，因此將使用XbarR 圖。 畫 XbarR 圖確定 XbarR UCL 和 LCL A2, D3 和 D4 是休哈特控制常數(shù)43RRUCL D RLCL D R==被計(jì)算值同在 MINITAB 中得到的值一樣計(jì)算 XbarR UCL 和 LCL 在 MINITAB中作 XbarR 圖 步驟 1? 將數(shù)據(jù)分組拷貝或輸入進(jìn)表單中? 打開文件 SPC VARIABLE 在 MINITAB中作 XbarR 圖 步驟 2堆棧數(shù)據(jù)在 MINITAB中作 XbarR 圖 步驟 3StatControl ChartsXbarR在 MINITAB中作 XbarR 圖 步驟 4在 MINITAB中作 XbarR 圖 步驟 5XbarR 課堂練習(xí)使用文件 SPC Variable Class “Xbar Charts Data”1. 找到 Xbars, Xdbar 和 Rbar2. 確定可用的休哈特常數(shù)3. 計(jì)算 Xbar 和 R 的 UCL 和 LCL4. 將數(shù)據(jù)拷貝進(jìn) MINITAB5. 堆棧數(shù)據(jù)6. 驗(yàn)證你的計(jì)算結(jié)果 7. 確定過程是否受控IMR: 單值 , 移動(dòng)極差圖IMR 圖規(guī)則IMR 圖是針對(duì)相同數(shù)據(jù)的兩個(gè)單獨(dú)的圖形? I 圖是單值圖? MR 圖是移動(dòng)極差圖? IMR 圖對(duì)趨勢，循環(huán)和模式是敏感的? 當(dāng)子組變差為零或沒有子組存在時(shí)使用它– 破壞性測試– 成批處理IMR 和 單值圖每隔一個(gè)小時(shí)，質(zhì)量部就會(huì)測一次鈑金的焊接強(qiáng)度。 過程受控嗎 ?由于數(shù)據(jù)是單值，因此將要使用 IMR圖 。這是破壞性測試的一個(gè)例子 。畫 IMR 圖Note: calculated for a moving range of 2E2, D3 和 D4 是休哈特控制常數(shù)確定 IMR UCL 和 LCL 被計(jì)算的值同在 MINITAB 中計(jì)算的結(jié)果一樣計(jì)算 IMR UCL 和 LCL 在 MINITAB中作 IMR 圖 步驟 1? 將數(shù)據(jù)拷貝或輸入進(jìn)表單中? 打開文件 SPC VARIABLE 在 MINITAB中作 IMR 圖 步驟 2StatControl ChartsIMR在 MINITAB中作 IMR 圖 步驟 3用 IMR 圖來表現(xiàn)過程的改進(jìn)為增加焊接強(qiáng)度，針對(duì)過程做了一項(xiàng) “改進(jìn) ” 。它是真實(shí)的嗎？堆棧數(shù)據(jù)IMR 表示有兩個(gè)總體根據(jù)改善后的數(shù)據(jù)計(jì)算出的控制限表示 “老的 ”過程有顯著地差異。焊接強(qiáng)度很高。IMR 課堂練習(xí)使用文件 SPC Variable Class “IMR Charts Data”1. 找到 Xbar, Xdbar 和 Rbar2. 確定可用的休哈特常數(shù)3. 計(jì)算 Xbar 、 R圖的 UCL 和 LCL4. 將數(shù)據(jù)拷貝到 MINITAB 軟件中5. 堆棧數(shù)據(jù)6. 驗(yàn)證計(jì)算結(jié)果 7. 確定過程是否受控目標(biāo) IMR 圖規(guī)則目標(biāo) IMR 圖使用相同的數(shù)據(jù)得到的兩個(gè)單獨(dú)的圖形 ? 畫的單點(diǎn)圖，不同于目標(biāo)圖? MR 圖是移動(dòng)極差圖? IMR 圖對(duì)趨勢，循環(huán)和樣式比較敏感目標(biāo) IMR 和實(shí)際數(shù)據(jù)銷售部門使用需求預(yù)測流程對(duì)每周的銷售進(jìn)行預(yù)測。 他們的需求預(yù)測流程受控嗎 ?由于數(shù)據(jù)是單值，因此使用 IMR 圖 . 實(shí)際數(shù)據(jù)的 IMR 圖看起來預(yù)測好像是受控的，但更進(jìn)一步看 …目標(biāo) IMR 圖要求需求預(yù)測不能得到 “實(shí)際的狀況 ”——顧客期望的 .需求預(yù)測確定了一個(gè)需求目標(biāo)。預(yù)測和實(shí)際之間的差異就是過程的真實(shí)測量。IMR 圖是差異圖目標(biāo) IMR 圖需求預(yù)測過程不受控。6Sigma項(xiàng)目可能起作用的區(qū)域 !目標(biāo)回顧參與者將能夠 : – 運(yùn)用 SPC法則– 解釋控制圖中的運(yùn)行和趨勢圖– 作圖并解釋 ? XbarR 圖 ? IMR 圖? 目標(biāo) IMR 圖特性數(shù)據(jù)控制圖特性數(shù)據(jù)控制圖選擇特性數(shù)據(jù)u 圖p 圖缺陷還是不合格品 ?缺陷恒定區(qū)域機(jī)會(huì)數(shù)？n = 常數(shù)？不合格品np 圖 c 圖是否 是否np圖np圖法則np圖? 測量不合格品比例– 使用二項(xiàng)式分布– 好 /壞 , 接收 /拒收 , 是 /否? 每個(gè)比例值是樣本的子組– 需要很多個(gè)子組 (最少 50)? 子組樣本量保持不變