spc-yang(編輯修改稿)
2025-03-08 14:16 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 “n”=10~25控制圖的選定資料性質(zhì)不良數(shù)或缺陷數(shù)單位大小是否一定“n”是否一定樣本大小n≧ 2Cl的性質(zhì)“n”是否較大“u”圖“c”圖“np”圖“p”圖XRm圖XR圖XR圖Xs圖計(jì)數(shù)值計(jì)量值“n”=1n≧ 1中位數(shù)平均值“n”=2~5缺陷數(shù)不良數(shù)不一定 一定一定不一定控制圖的選擇What is the next to?SolarisOracle HPUXOracle 8iTRU64Oracle 9i開(kāi)始具體制作控制圖繪制流程搜集數(shù)據(jù)繪 分析 用控制圖是否穩(wěn)定繪直方圖是否滿足規(guī)格控制用控制圖尋找異常原因檢討機(jī)械、設(shè)備提升制程能力NYYN分 析用控制圖216。制程解析用216。制程能力研究用216。制程管制準(zhǔn)備用控制圖種類 (依用途分 )管制用控制圖216。追查不正常原因迅速消除此項(xiàng)原因216。并且研究采取防止此項(xiàng)原因重復(fù)發(fā)生之措施。XR圖制作A收集數(shù)據(jù)B計(jì)算控制限C過(guò)程控制解釋D過(guò)程能力解釋建立 XR圖的步驟 AＡ階段收集數(shù)據(jù)A1選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù)子組大小子組頻率子組數(shù)大小A2建立控制圖及記錄原始記錄A3計(jì)算每個(gè)子組的均值 X和極差 RA4選擇控制圖的刻度A5將均值和極差畫(huà)到控制圖上取樣的方式? 取樣必須達(dá)到組內(nèi)變異小，組間變異大? 樣本數(shù)、頻率、組數(shù)的說(shuō)明組內(nèi)變異和組間差異說(shuō)明? 不同槽之間的謂 組間變異 ，我們?cè)谟诹私庠谙嗤牟僮鳁l件之下，不同槽之間的差異，如果差異很大，表示組間有差異。? 同一槽之內(nèi)的變異謂 組內(nèi)變異 ，此時(shí)就要去分析為何在同一槽之內(nèi)會(huì)有不均之現(xiàn)象。組間變異大的解決方法?此時(shí)的異常將在 Xbar圖中顯示出來(lái)，此時(shí)一般的責(zé)任是在現(xiàn)場(chǎng)人員，可能是用錯(cuò)材料，沒(méi)有依照標(biāo)準(zhǔn)作業(yè)方法等。?此種問(wèn)題比較容易解決， 85%應(yīng)由現(xiàn)場(chǎng)人員就可以處理。錯(cuò)誤的分組方式以及其后果? 如此的取樣方式會(huì)造成無(wú)法有效區(qū)別組內(nèi)變異和組間變異，造成控制界限變寬，無(wú)法有效偵測(cè)制造變異 。時(shí)間質(zhì)量特性 制程的變化使用控制圖的注意事項(xiàng)?分層問(wèn)題– 同樣產(chǎn)品用若干臺(tái)設(shè)備進(jìn)行加工時(shí) , 由于每臺(tái)設(shè)備工作精度、使用年限、保養(yǎng)狀態(tài)等都有一定差異 , 這些差異常常是增加產(chǎn)品質(zhì)量波動(dòng)、使散差加大的原因 . 因此 , 有必要按不同的設(shè)備進(jìn)行質(zhì)量分層 , 也應(yīng) 按不同條件對(duì)質(zhì)量特性值進(jìn)行分層控制 , 作分層控制圖 . 另外 , 當(dāng)控制圖發(fā)生異常時(shí) , 分層又是為了確切地找出原因、采取措施所不可缺少的方法 .使用控制圖的注意事項(xiàng)?控制界限的重新計(jì)算– 為使控制線適應(yīng)今后的生產(chǎn)過(guò)程 , 在確定控制圖最初的控制線 CL、 UCL、 LCL時(shí) , 常常需要反復(fù)計(jì)算 , 以求得切實(shí)可行的控制圖 . 但是 , 控制圖經(jīng)過(guò)使用一定時(shí)期后 , 生產(chǎn)過(guò)程有了變化 , 例如加工工藝改變、刀具改變、設(shè)備改變以及進(jìn)行了某種技術(shù)改革和管理改革措施后 , 應(yīng)重新收集最近期間的數(shù)據(jù) , 以重新計(jì)算控制界限并作出新的控制圖 .組數(shù)的要求 (最少 25組 )當(dāng)制程中心值偏差了二個(gè)標(biāo)準(zhǔn)差時(shí)，它在控制限內(nèi)的概率為 那么連續(xù) 25點(diǎn)在線內(nèi)的概率為：平均值和極差? 平均值的計(jì)算n R值的計(jì)算每個(gè)子組的平均值和極差的計(jì)算1 100 98 99 100 982 98 99 98 101 973 99 97 100 100 984 100 100 101 99 995 101 99 99 100 96平均 100 極差 3 3 3 2 3平均 極差99 2 4 3 2 5 選擇控制圖 刻度?X圖 ，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值的最大值與最小值差的 2倍 。?R圖 ，刻度值應(yīng)從最低值為 0開(kāi)始到最大值之間為初始階段所遇到的最大極差的 2倍 。Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算平均極差及過(guò)程平均值B2計(jì)算控制限B3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線建立 XR圖的步驟 BＣ過(guò)程控制解釋C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)C2識(shí)別並標(biāo)注特殊原因 (極差圖 )C3重新計(jì)算控制界限 (極差圖 )C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形超出控制限的點(diǎn)鏈明顯的非隨機(jī)圖形C5識(shí)別並標(biāo)注特殊原因 (均值圖 )C6重新計(jì)算控制界限 (均值圖 )C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限建立 XR圖的步驟 C控制圖的點(diǎn)子全部在控制界限內(nèi) 由于在穩(wěn)定狀態(tài)下，控制圖也會(huì)發(fā)生誤發(fā)信號(hào)的錯(cuò)誤 (第一類錯(cuò)誤 )，因此規(guī)定在下述情況下 ，判定第一個(gè)條件，即點(diǎn)子全部在控制界限內(nèi)是滿足的。 ? (1)至少連續(xù) 25點(diǎn)處于控制界限內(nèi)； ? (2)連續(xù) 35點(diǎn)中，僅有 1點(diǎn)超出控制界限； ? (3)連續(xù) 100點(diǎn)中，至多有 2點(diǎn)超過(guò)控制界限?？刂茍D特殊原因判定 8大原則216。點(diǎn)出現(xiàn)在 3標(biāo)準(zhǔn)差以外（管制界限）的幾率 216。(%)216。點(diǎn)出現(xiàn)在 2標(biāo)準(zhǔn)差以外的幾率 (%)216。點(diǎn)出現(xiàn)在 1標(biāo)準(zhǔn)差以外的幾率 (%)基礎(chǔ)知識(shí)控制圖的判讀? 超出控制界限的點(diǎn)： 連續(xù) 25點(diǎn) 出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制界限是該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù)
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