【文章內(nèi)容簡介】 極小的 . 因此 , 可以認為這時生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . n 偏離 : 較多的點間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . n 連續(xù)的 11點中至少有 10點出現(xiàn)在一側(cè)時 。n 連續(xù)的 14點中至少有 12點出現(xiàn)在一側(cè)時 。n 連續(xù)的 17點中至少有 14點出現(xiàn)在一側(cè)時 。n 連續(xù)的 20點中至少有 16點出現(xiàn)在一側(cè)時 .59控制圖的觀察分析n 傾向 : 若干點連續(xù)上升或下降的情況稱為傾向 , 其判別準(zhǔn)則如下 :n 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 5點不斷上升或下降趨向時 , 要注意該工序的操作方法 。n 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 6點不斷上升或下降的趨向時 , 要開始調(diào)查原因 。n 當(dāng)出現(xiàn)連續(xù) 7點不斷上升或下降的趨向時 , 應(yīng)判斷為異常 , 需采取措施 .n 周期 : 點的上升或下降出現(xiàn)明顯的一定的間隔時稱為周期 .n 周期包括呈階梯形周期變動、波狀周期變動、大小波動等情況 .60控制圖的觀察分析n 接近 : 圖上的點接近中心線或上下控制界限的現(xiàn)象稱為接近 . 接近控制界限時 , 在中心線與控制界限間作三等分線 , 如果在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi)存在下述情況可判定為異常 :n 連續(xù) 3點中有 2點 (該兩點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。n 連續(xù) 7點中有 3點 (該 3點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) 。n 連續(xù) 10點中有 4點 (該 4點可不連續(xù) )在外側(cè)的 1/3帶狀區(qū)間內(nèi) .61為了繼續(xù)進行控制延長控制限n 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 n 計算新的控制限62Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7663Case studyn 請計算出上表的 XR控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？n 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？64Ｄ過程能力解釋D1計算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差D2計算過程能力D3評價過程能力D4提高過程能力D5對修改的過程繪制控制圖並分析建立 XR圖的步驟 D65666768製程績效指標(biāo)69群體平均值 =μ標(biāo)準(zhǔn)差 =σ對 σ的估計群體標(biāo)準(zhǔn)差的估計7010 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm13 2 T10 14 1812 1610 14 18T12 16μ Cp CPL CPU CPK Cpm14 2 μ Cp CPL CPU CPK Cpm15 2 指數(shù)差異說明71Case studyn 請依照上個 case study的數(shù)據(jù)，計算其下列的各項指標(biāo)結(jié)果，假設(shè)其規(guī)格為： 75177。5。n Can Cpn Cpkn Ppn Ppk727374何時應(yīng)用 Cmk指數(shù)n 新機器驗收時n 機器大修後n 新產(chǎn)品試製時n 產(chǎn)品不合格追查原因時n 在機械廠應(yīng)和模具結(jié)合在一起考慮75Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 101 50 47 46 50 46 50 47 48 50 492 50 53 45 48 48 49 49 50 50 513 49 53 49 49 50 52 50 46 49 514 52 45 48 49 54 51 48 49 51 465 51 50 49 52 50 54 52 51 53 48平均s76Case studyn 假設(shè)其規(guī)格為 50177。5，試計算其 Cmk？77LSL u USL6σ6σWHAT IS MOTOROLA’S 6σ78WHAT IS MOTOROLA’S 6σn 最佳狀況，製程中心等於規(guī)格中心，此時Cpk=2。n 最差情形，可以允許製程中心，偏差 177。， 此時的 Cpk=LSL u USL6σ6σ79Sigma=σ=Deviation(Square root of variance7 6 5 4 3 2 1 0 1 2 3 4 5 6 7Between+/1σBetween+/2σBetween+/3σBetween+/4σBetween+/5σBetween+/6σ%%%%%%Result:317300 ppm outside（ deviation) 45500 ppm2700 ppm63 ppm ppm ppmσAxis grach in SigmaNormal DistributionGaussian Curve80n A收集數(shù)據(jù)：在計算各個子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差其公式分別如下：81n B計算控制限82n C過程控制解釋n (同 XR圖解釋 )83n D過程能力解釋84Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76 74 70 72 70 73 74 73 70 722 68 75 73 74 78 74 72 74 78 76 74 76 75 793 68 77 96 75 78 71 73 75 77 75 76 77 75 804 69 79 95 72 80 72 71 76 72 75 77 72 72 7815 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 75 74 70 62 74 78 80 80 72 55 70 73 72 732 74 78 65 64 75 77 81 79 68 56 72 73 74 723 78 77 65 62 76 72 81 74 68 58 71 76 70 744 79 72 64 61 75 73 79 74 65 56 72 74 74 7685Case studyn 請計算出上表的 Xs控制圖的控制限？n 請判定過程是否穩(wěn)定？n 如果是不穩(wěn)定該如何處理？n 如果製程假設(shè)已穩(wěn)定，但想將抽樣數(shù)自 n=4調(diào)為 n=5時，那麼其新控制限為何？86n A收集數(shù)據(jù)n 一般情況下，中位數(shù)圖用在樣本容量小於 10的情況，樣本容量為奇數(shù)時更為方便。如果子組樣本容量為偶數(shù)，中位數(shù)是中間兩個數(shù)的均值。87n B計算控制限88nC過程控制解釋n(同 XR圖解釋 )89n 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差：90Case study1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 141 67 76 74 72 76