統(tǒng)計過程控制-mjjack(編輯修改稿)
2025-02-09 02:15 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 ? 確定測量系統(tǒng) ? 使不必要的變差最小 2023/2/8 24 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? 計量型數(shù)據(jù)控制圖的種類 ? ? XR圖 ? ? Xs 圖 ? ? x~R圖 ? XMR圖 2023/2/8 25 計量型數(shù)據(jù)控制圖 均值和極差圖（ XR） ? ? ? ? 2023/2/8 26 ? 均值和極差圖（ XR） ? 收集數(shù)據(jù) ? 、頻率和子組數(shù) ? ? ? ? ? 9 計量型數(shù)據(jù)控制圖 KXXXXKRRRRkk????????.... ...... ..21212023/2/8 27 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? 計算控制限 ? ? ? 線 ? ,見表 ? 10 2023/2/8 28 XR常用記錄表格 制品名稱 規(guī) 格 控 制 圖 X 圖 R 圖 生 產(chǎn) 部 門 期 限 年 月 日 質(zhì)量特性 最 大 值 上 限 機 器 號 碼 抽 樣 方 法 平 均 值 中 心 線 測量單位 最 小 值 下 限 操 作 者 繪 圖 者 時 間 合并計算 批 號 樣 X1 本 X2 測 X3 定 X4 值 X5 X X R 分析 系數(shù)計算 X 控 制 圖 R 控 制 圖 ? ? R= ? X= 平均 X= R= 2023/2/8 29 計量型數(shù)據(jù)控制圖 RDLCLRDUCLRCLRAXLCLRAXUCLXCLRRRXXX3422????????極差控制圖平均值控制圖控制限計算公式 2023/2/8 30 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ※ ※ ※ ※ ※ A2 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR 可能技術上為負值。在這種 情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的”測量結(jié)果是可能成立的。 2023/2/8 31 計量型數(shù)據(jù)控制圖 過程控制解釋 ? 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 , ? 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種 : ? 控制限計算錯誤或描點時描錯； ? 零件間的變化性或分布的寬度已經(jīng)增大（變壞），這種增大可能發(fā)生在某個時間點上，也可能是整個趨勢的一部分； ? 測量系統(tǒng)變化（例如，不同的檢驗員或量具）； ? 測量系統(tǒng)沒有適當?shù)姆直媪Α? 2023/2/8 32 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? —— 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變或出現(xiàn)這種趨勢： ? 連續(xù) 7點位于平均值的一側(cè)； ? 連續(xù) 7點上升或下降。 ? 高出平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： ? 輸出值的分布寬度增加，其原因可能是無規(guī)律的（例如設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某個要素變化（如使用新的一是很一致的原材料），這些都需要糾正； ? 測量系統(tǒng)改變（如新的檢驗員或量具）。 2023/2/8 33 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? 低于平均極差的鏈，或是下降鏈表明存在下列情況之一或全部： ? 輸出值分布寬度減小，這常常是一種好狀態(tài)，應研究以便推廣應用和改進過程； ? 測量系統(tǒng)改變。 ? , ? 各點與中線的距離：一般地，大約 2/3的描點應落在控制限的三分之一的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的三分之二的區(qū)域。 2023/2/8 34 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? 如果顯著多于 2/3以上的描點落在離中線很近之處（對于 25個子組，如果超過 90%（ 23）的點落在中間的 1/3處 )，則對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： ? 控制限或描點計算錯或描錯； ? 過程或取樣方法被分層； ? 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯。 2023/2/8 35 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? 如果顯著少于 2/3以上的描點落在離中線很近之處（對于 25個子組，如果有 40%或少于40%（ 10）的點落在中間的 1/3處 )，則 ? 對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： ? 控制限或描點計算錯或描錯； ? 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含從兩個或多個具有明顯不同的變化性的過程流的測量值（如材料批次混淆）。 2023/2/8 36 計量型數(shù)據(jù)控制圖 過程控制解釋 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 ,
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