【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 所以，我們一 定要扭轉(zhuǎn)只搞性能指標(biāo)設(shè)計(jì)，忽視可靠性設(shè)計(jì) 的傾向，在產(chǎn)品研發(fā)、設(shè)計(jì)階段，認(rèn)真開(kāi)展可 靠性設(shè)計(jì)，為產(chǎn)品固有可靠性奠定基礎(chǔ)。 可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性 近年來(lái)可靠性仿真技術(shù)得到了長(zhǎng)足的發(fā)展。仿真技術(shù)，在設(shè)計(jì)前端與可靠性設(shè)計(jì)技術(shù)結(jié)合使用，在產(chǎn)品概念階段及時(shí)驗(yàn)證設(shè)計(jì)效果，達(dá)到及時(shí)更正的目的。目前可靠性仿真技術(shù)有：熱仿真技術(shù)、 EMC/EMI仿真技術(shù)、 SI仿真技術(shù)、 PI仿真技術(shù)等。隨著公司的發(fā)展和壯大，把可靠性仿真技術(shù)逐步推廣到設(shè)計(jì)前端，把設(shè)計(jì)可靠性問(wèn)題解決在樣品可靠性試驗(yàn)前。 EMI/EMS的軟件仿真和詳細(xì)設(shè)計(jì)階段的試制樣品仿真技術(shù)是可靠性活動(dòng)的重要內(nèi)容。在電路詳細(xì)設(shè)計(jì)階段可及時(shí)解決 EMI問(wèn)題，可節(jié)省樣品在 3米法等遠(yuǎn)場(chǎng)摸底測(cè)試的試驗(yàn)費(fèi)用 ,并且提前解決了設(shè)計(jì)故障 .可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析技術(shù)可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性為了有效提高電子產(chǎn)品的可靠性，在產(chǎn)品研究開(kāi)發(fā)、制造和使用過(guò)程中，采用可靠性分析技術(shù)?？煽啃苑治黾夹g(shù)包括很多，但是最常用的是，故障模式及影響分析（ FMEA)、危害性分析（ CA）、故障樹(shù)分析 (FTA)、潛在通路分析 (SCA)等?？煽啃苑治黾夹g(shù)應(yīng)應(yīng)用到產(chǎn)品的不同階段的壽命周期中。 可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析技術(shù)可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性可靠性試驗(yàn)工程在系統(tǒng)可靠性工程中占有重要的位置。主要驗(yàn)證電子器件及產(chǎn)品可靠性設(shè)計(jì)指標(biāo)的落實(shí)情況，同時(shí)也為后期批量產(chǎn)品生產(chǎn)提供重要的決策信息。主要開(kāi)展研發(fā)階段的 qualification test, 開(kāi)展生產(chǎn)過(guò)程中的 Ongoing測(cè)試，來(lái)評(píng)價(jià)和監(jiān)控批產(chǎn)品可靠性，和生產(chǎn)過(guò)程中的工藝穩(wěn)定性。 可靠性試驗(yàn)在產(chǎn)品壽命周期的不同階段開(kāi)展，包括設(shè)計(jì)階段、制造階段、物料控制環(huán)節(jié)、出廠檢驗(yàn)、失效分析等?？煽啃詳?shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性?破壞性物理失效分析（ DPA）是一種破壞性的可靠性分析方法。通過(guò)破壞性物理分析，可以追查出產(chǎn)品、器件產(chǎn)生故障和失效的真正原因。 失效機(jī)理找出后才能有效改進(jìn)產(chǎn)品可靠性。 它是可靠性工程活動(dòng)過(guò)程中重要的技術(shù)手段 之一。對(duì)于光電子產(chǎn)品、組件、器件來(lái)說(shuō)比 較常見(jiàn)的失效模式有 ESD、 EOS、 LACTHUP 對(duì)塑封器件來(lái)說(shuō)還有氣密性失效等等。 ESD、 LACTH－ UP等分析技術(shù)的建立是 非常重要和必要的?？煽啃詳?shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性?工藝可靠性主要體現(xiàn)在產(chǎn)品制造過(guò)程中， 對(duì)于 PCBA板級(jí)產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，制造工藝可靠 性主要集中在焊點(diǎn)可靠性；對(duì)于結(jié)構(gòu)件來(lái) 說(shuō)，還涉及到整機(jī)工藝可靠性。 焊點(diǎn)、結(jié)構(gòu)工藝、三防技術(shù)可靠性 驗(yàn)證評(píng)價(jià)，是工藝可靠性活動(dòng)的重要職能范圍 之一?？煽啃詳?shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性?可靠性數(shù)據(jù)管理是系統(tǒng)可靠性工程活動(dòng)過(guò)程 中又一重要內(nèi)容。產(chǎn)品全壽命周期內(nèi)的數(shù)據(jù) 應(yīng)可查可控。 建立可靠性基礎(chǔ)數(shù)據(jù)：包括生產(chǎn)過(guò)程 中 PPM指標(biāo)、售后 PPM指標(biāo)；新產(chǎn)品平均壽 命數(shù)據(jù)、產(chǎn)品極限值數(shù)據(jù)等。 以上產(chǎn)品應(yīng)按照產(chǎn)品類型劃分、按照部件、 組件 PN不同進(jìn)行劃分。對(duì)于一個(gè)公司來(lái)說(shuō) 可靠性數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析工作要到器件級(jí)。可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性 產(chǎn)品研制過(guò)程中要進(jìn)行一系列的可靠性工程技術(shù) 活動(dòng)，涉及到產(chǎn)品研制過(guò)程的各個(gè)環(huán)節(jié)。這樣就 需要有一個(gè)綱領(lǐng)性的文件來(lái)組織指導(dǎo)，這就是產(chǎn) 品可靠性大綱。 產(chǎn)品研發(fā)制造過(guò)程應(yīng)按照可靠性工程大綱計(jì)劃實(shí) 施。新產(chǎn)品從立項(xiàng)開(kāi)始就要建立可靠性大綱。 產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、試驗(yàn)、評(píng)審、制造、出廠檢驗(yàn)、物 料認(rèn)證等工程活動(dòng)均要按照規(guī)范的可靠性大綱來(lái) 實(shí)施。 可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性?產(chǎn)品在整個(gè)壽命期內(nèi)會(huì)遇到關(guān)鍵性的可靠性 問(wèn)題。這就需要立項(xiàng)進(jìn)行專門研究，徹底解 決產(chǎn)品的不可靠性問(wèn)題。 比如 ,下列的可靠性問(wèn)題應(yīng)立項(xiàng)進(jìn)行研究 : 1. 焊點(diǎn) Kirkendall voiding 可靠性研究 2. 點(diǎn)接電可靠性問(wèn)題 3. 產(chǎn)品壽命分布函數(shù)的研究 4. 對(duì)于特定 IC, 進(jìn)行 ESD三種失效模型的研究可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） 可靠性分析可靠性設(shè)計(jì)可靠性仿真可靠性物理失效分析可靠性試驗(yàn)工程工藝可靠性 軟件可靠性，在整個(gè)可靠性工程中占有一 定的位置。故障率也是度量軟件可靠性的 直觀指標(biāo)。一般要求：在軟件交付用戶的 三個(gè)月內(nèi)，早期故障率不大于 ；在 交付用戶四個(gè)月后，故障率不大于 。 其中應(yīng)用工具 (手段 )查出的錯(cuò)誤包括 :1. 模擬 20%2. 設(shè)計(jì)語(yǔ)言 32%3. 代碼標(biāo)準(zhǔn)審核 20%4. 單位統(tǒng)一分析 5%5. 初值 /引用檢查 13%6. 兼容性檢查 10% 可靠性數(shù)據(jù)管理項(xiàng)目可靠性管理專項(xiàng)可靠性研究軟件可靠性? －魚(yú)骨圖（ 1H） ? （ 2H） ? 1）可靠性特征量值介紹? 2）產(chǎn)品失效率統(tǒng)計(jì)計(jì)算方法? 3）產(chǎn)品壽命統(tǒng)計(jì)分析方法 浴盆曲線介紹? 4）產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng) PPM統(tǒng)計(jì)技術(shù)? 5）產(chǎn)品壽命設(shè)計(jì)值，可靠性試驗(yàn)測(cè)定值與現(xiàn)場(chǎng)壽命統(tǒng)計(jì)值及產(chǎn)品返修率PPM的關(guān)系? （ 2H） 1）可靠性特征量值介紹? 可靠性度 R(t)? 產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，完成規(guī)定功能的概率。它是時(shí)間的函數(shù)，記作 R(t)? 設(shè) N個(gè)產(chǎn)品從時(shí)刻 “0” 開(kāi)始工作，到時(shí)刻 t失效的總個(gè)數(shù) n(t), 當(dāng) N足夠大時(shí)，? ? R(t)=[ N－ n(t)]/N ? R(t)通常稱為殘存率 ? 累積故障分布函數(shù) F(t)? 產(chǎn)品在規(guī)定的條件下和規(guī)定的時(shí)間內(nèi)，喪失規(guī)定功能的概率稱為累積故障概率，記作 F(t)? ? F(t)=n(t)/N ? （ 2H） 1）可靠性特征量值介紹? ? 故障率 λ(t)? 工作到某時(shí)刻尚未發(fā)生故障的產(chǎn)品，在該時(shí)刻后單位時(shí)間內(nèi)發(fā)生故障的概率，稱為產(chǎn)品的故障率。? 設(shè)有 N個(gè)產(chǎn)品，從 t＝ 0時(shí)刻開(kāi)始工作，到時(shí)刻 t時(shí)的失效數(shù)為 n(t),即 t時(shí)刻的殘存產(chǎn)品數(shù)為 N－ n(t),又若在（ t,t+Δt) 時(shí)間間隔內(nèi)，有 Δn(t) 個(gè)產(chǎn)品失效，則根據(jù)上述定義，在時(shí)刻 t的失效率可用下式估計(jì)：? ? λ（ t)=[n(t+Δt)n(t)] / [Nn(t)] /Δt ? （ 2H） 1）可靠性特征量值介紹 ? 平均壽命 MTBF 是一組產(chǎn)品無(wú)故障工作時(shí)間的算術(shù)平均值，對(duì)于不可修產(chǎn)品來(lái)說(shuō)是平均無(wú)故障工作時(shí)間，對(duì)于不可修產(chǎn)品來(lái)說(shuō)是平均無(wú)故障間隔時(shí)間。 例：有一套雷達(dá)設(shè)備總共開(kāi)機(jī)工作 1486h,出現(xiàn) 48次故障，故障維修時(shí)間共78h30min,求該雷達(dá)的 MTBF: 解： MTBF=()/48=29(h)? （ 2H） 1）可靠性特征量值介紹 ? 返修率 PPM? 返修率是不合格品對(duì)出貨總量的比值。在故障率已知的情況下，如何計(jì)算產(chǎn)品的返修率，舉例如下：? ? 例如， 故障率 λi 和年返修率 αi 之間的數(shù)學(xué)關(guān)系如下：? ? （ 2H） 2）產(chǎn)品失效率統(tǒng)計(jì)計(jì)算方法 （加速壽命試驗(yàn)） AF(t)=exp{(Ea/k)(1/Tuse1/Tstress)} λ is chisquare failure rate。 x2 is chisquare value 。α is chisquare confidence interval。 . is degrees of freedom = (2r+2)。 r is the number of observed countable ELFR failures。 . is the devicehours at equivalent use conditions = (sst)。SS is the sample size。 AF is product of voltage and temperature acceleration factors。t is the time at stress.? （ 2H） 3）產(chǎn)品壽命統(tǒng)計(jì)分析方法 浴盆曲線介紹 An exponential distribution is used to model random failures. The failure rate should be reported for both 60% and 90% onesided confidence limits.And early failure also meet the an exponential distribution.An lognormal distribution is used to model wearout failures.The wearout failure rate is calculated from the median life and standard deviation.? （ 2H） 4）產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng) PPM統(tǒng)計(jì)技術(shù) 在降低返修率的過(guò)程總，產(chǎn)品現(xiàn)場(chǎng)返修率數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)是非常重要的，對(duì)于器件級(jí)產(chǎn)品常用的單邊置信度統(tǒng)計(jì)模型如下：λ is chi