天線測量理論介紹(編輯修改稿)
2025-09-11 22:05 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 采用銳方向發(fā)射天線，使它垂直面方向圖的第一個零點指向地面反射點，此時hr≥，如圖所示。 天線遠(yuǎn)場測量 ? 室外測試場 ? 斜天線測試場 斜天線測試場就是收發(fā)天線架設(shè)高度不等的一種測試場。通常把待測天線架設(shè)在比較高的塔上，且作接收使用，把輔助發(fā)射天線靠近地面架設(shè)，由于發(fā)射天線相對待測天線有一定仰角，適當(dāng)調(diào)整它的高度，使自由空間方向圖的最大輻射方向?qū)?zhǔn)待測天線口面中心，零輻射方向?qū)?zhǔn)地面，就能有效抑制地面反射。 天線遠(yuǎn)場測量 ? 室內(nèi)測試場 ? 室內(nèi)遠(yuǎn)場 相對于室外測試場，室內(nèi)遠(yuǎn)場具有全天候、保密、對昂貴待測系統(tǒng)（如即將投入使用的衛(wèi)星）起到保護(hù)作用以及能夠避免外界電磁干擾等眾多優(yōu)勢。 天線遠(yuǎn)場測量 ? 室內(nèi)測試場 ? 緊縮場 室內(nèi)遠(yuǎn)場測試需要很大的空間，如果采用射線光學(xué)原理，就可以在較小空間產(chǎn)生理想的平面波照射，根據(jù)這個原理，緊縮場應(yīng)運(yùn)而生。 天線遠(yuǎn)場測量 ? 測試場照片 天線遠(yuǎn)場測量 ? 輻射方向圖測量 天線的輻射方向圖可以在發(fā)射或接收狀態(tài)下測得。由于無法嚴(yán)格測出天線的立體方向圖，故只能由許多切割面上的測量值來近似。以 為變量， 為參變量進(jìn)行測量的切割面方向圖稱為俯仰方向圖；以 為變量， 為參變量進(jìn)行測量的切割面方向圖稱為方位方向圖。 為取得這樣的方向圖，轉(zhuǎn)臺必須能夠?qū)崿F(xiàn)兩類位置控制：俯仰角在方位角上面（ EL/AZ）的位置控制和方位角在俯仰角上面（ AZ/EL）的位置控制。 ?? ???天線遠(yuǎn)場測量 ? 輻射方向圖測量 ?天線遠(yuǎn)場測量 ? 方向系數(shù)測量 天線的最大方向系數(shù)可以通過已經(jīng)測得的歸一化功率方向圖 積分求得： ?p ? ??? ?D m4 ??0??02 ??p ? ??? ? s in ?? ????d???d??天線遠(yuǎn)場測量 ? 增益測量 一般把測量天線增益的方法分成相對增益測量和絕對增益測量兩類。就具體測量方法而言，又可分為：比較法、兩相同天線法、三天線法、鏡像法、外推法、輻射計法以及通過測量與增益有關(guān)的其它參數(shù)而求出天線增益等方法。除比較法屬相對增益測量外，其余方法都屬絕對增益測量。比較法只能確定待測天線的增益；絕對增益測量不僅可以確定待測天線的增益，而且可以確定標(biāo)準(zhǔn)天線的增益。 ?p ? ??? ?天線遠(yuǎn)場測量 ? 增益測量 ? 比較法 比較法的實質(zhì)就是把待測天線的增益與已知標(biāo)準(zhǔn)天線的增益進(jìn)行比較而得出待測天線的增益。根據(jù)互易原理，可以把待測天線作發(fā)射使用，也可作接收使用。 實際測量時，可先后把待測天線和標(biāo)準(zhǔn)增益天線作接收使用，分別測量各自的接收功率 Pxr 和 Psr ，由下式求出待測天線的增益（ Gx是待測天線增益； Gs是標(biāo)準(zhǔn)天線增益）： G x G sP xrP sr???天線遠(yuǎn)場測量 ? 極化測量 天線的極化特性，目前大多數(shù)都采用軸比（ AR）、旋向（ RH或 LH）和傾角 t 三個參數(shù)來評定，因此測量天線極化參數(shù)的任務(wù)就是用直接或間接的方法來確定這三個參數(shù)。所謂直接方法就是直接測出極化橢圓參數(shù)或其圖形，比如極化圖法、利薩如圖法等；所謂間接方法就是直接測出 和 分量的幅度和相位，最后通過計算得出極化參數(shù)。 E? E?天線遠(yuǎn)場測量 ? 極化測量 ? 極化圖法 極化圖法是一種最簡便、直接而常用的方法。其主要測量設(shè)備和方向圖測量相同，只是增加了發(fā)射天線繞本身機(jī)械軸可以旋轉(zhuǎn)的裝置。 Ⅳ 天線近場測量 天線近場測量 近場測量指的是在小于最小遠(yuǎn)區(qū)距離內(nèi)，求得天線遠(yuǎn)場特性的測量。由于近場測量克服或基本克服了”有限距離效應(yīng)“，不需要龐大的室外、室內(nèi)測試場，具有測試精度高、可全天候工作以及一次測量可得到全部遠(yuǎn)場信息等一系列優(yōu)點，故一直是天線測量領(lǐng)域研究的重點課題。 近場掃描技術(shù)：用一個特性已知的探頭，抽測天線近區(qū)某一表面（平面掃描、圓柱面掃描
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