論大口徑管座角焊縫超聲波檢驗(yàn)工藝規(guī)程(編輯修改稿)
2025-07-25 23:01 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 個(gè)月檢查一次。每次檢驗(yàn)前均應(yīng)對(duì)掃描線、靈敏度進(jìn)行復(fù)核，遇有下述情況應(yīng)隨時(shí)對(duì)其進(jìn)行重新核查：1） 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋紐發(fā)生改變時(shí)；2） 開(kāi)路電壓波動(dòng)或者檢驗(yàn)者懷疑靈敏度有變化時(shí)；3） 連續(xù)工作4小時(shí)以上時(shí)；4） 工作結(jié)束時(shí)。如果距離——波幅曲線上任意一點(diǎn)在掃描線上的偏移超過(guò)掃描讀數(shù)的10%，則掃描量程應(yīng)予以修正，并在檢驗(yàn)記錄中加以標(biāo)明?！ǚ€的復(fù)核復(fù)核時(shí)，校核應(yīng)不少于3點(diǎn)。如曲線上任何一點(diǎn)幅度下降2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的檢驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行復(fù)檢；如幅度上升2dB，則應(yīng)對(duì)上一次復(fù)核以來(lái)所有的記錄信號(hào)進(jìn)行重新評(píng)定。校準(zhǔn)、復(fù)核和線性校驗(yàn)時(shí)，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或?yàn)V波開(kāi)關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。7. 試塊。該材料用直探頭檢驗(yàn)時(shí)，不得有大于Φ2mm平底孔當(dāng)量直徑的缺陷。、短橫孔、橫通孔、平底孔、線切割槽和V型槽等。校準(zhǔn)時(shí)，探頭主聲束應(yīng)與反射體的反射面相垂直。，試塊厚度應(yīng)與被檢工件的厚度相對(duì)應(yīng)。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度的部件進(jìn)行熔焊時(shí)，試塊的厚度應(yīng)由其平均厚度來(lái)確定。，為校驗(yàn)靈敏度和時(shí)基線性，也可以采用其它型式的等效試塊。 A，CSKII A、CSKIII A、CSKIV A和曲面平底孔試塊。其中曲面平底孔試塊是用于直探頭探測(cè)曲面受檢件的對(duì)比試塊。其形狀和尺寸應(yīng)分別符合圖圖圖圖圖6和表1的規(guī)定。圖2 CSKI A試塊 CSKI A、CSKII A和CSKIII A試塊適用壁厚范圍為8~120mm的焊縫，CSKI A和CSKIV A系列試塊適用壁厚范圍大于120~300mm的焊縫。在滿足靈敏度要求時(shí)，也可采用其它型式的等效試塊，見(jiàn)鋼制對(duì)接焊縫超聲波檢驗(yàn)工藝規(guī)程（SENSE/TGY22002）的附錄A。，如檢測(cè)面曲面半徑R小于等于W2/4時(shí)（W為探頭接觸面寬度，環(huán)縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭寬度，縱縫檢驗(yàn)時(shí)為探頭長(zhǎng)度），應(yīng)采用與檢測(cè)面曲率相同的對(duì)比試塊，反射孔的位置可參照對(duì)比試塊確定。試塊應(yīng)滿足：b≥2λS/D0式中：b——試塊寬度，mm；λ——聲波波長(zhǎng)，mm；Ｓ——聲程，mm；Ｄ０——聲源有效直徑，mm。圖3 CSKII A試塊L——試塊長(zhǎng)度，由使用的聲程確定；T——試塊厚度，由被檢材料厚度確定；l——標(biāo)準(zhǔn)孔位置，由被檢材料
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