過程fmea的作業(yè)教程(編輯修改稿)
2025-07-22 11:56 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 本欄目是用來又需要附加過程控制的零部件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)的一些特采過程特性進行分級的。如果在過程FMEA中確定了某一分級，應通知技術(shù)主管，因為它可能會影響有關(guān)確定控制項目標識的工程文件。潛在失效起因是指失效是怎么發(fā)生的，并根據(jù)可以糾正或控制的原則來描述。（0）頻度指具體的失效起因/機理發(fā)生頻率、頻度的分級數(shù)著重在其含義而不是數(shù)值，其評價準則如下：失 效 發(fā) 生 的 可 能 性可能的失效率CPK頻度數(shù)很高：失效幾乎是不可避免的≥1/2101/3≥9高：一般與以前經(jīng)常發(fā)生失效的過程相似的工藝有關(guān)1/8≥81/20≥7中等：一般與以前時有失效發(fā)生，但不占主要比例的過程相類似的工藝有關(guān)1/80≥61/400≥51/2000≥4低：很少幾次與相似過程有關(guān)的失效1/15000≥3很低：很少幾次與幾乎完全相同的過程有關(guān)的失效1/150000≥2極低：失效不大可能發(fā)生，幾乎完全相同的過程也未有過失效≤1/1500000≥1現(xiàn)行的過程控制是對盡可能阻止失效模式的發(fā)生或者探測將發(fā)生的失效模式的控制的描述。(D)不易探險測度是指在零部件在離開制造工序或裝配工位之前，列于第16欄中的第二種現(xiàn)行過程控制方法找出失效起因/機理過程缺陷的可能性的評價指標或用第三種過程控制方法找出后工序發(fā)生的失效模式的可能性評價指標。其評價準則如下：探測性評價準則：在下一個或后續(xù)工藝前，或零
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