xrf定量分析原理ppt課件(編輯修改稿)
2025-06-01 18:34 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 率背景； 3. 非線性背景（彎曲背景） (1) (2) (2) 恒定背景區(qū)峰底背景的計(jì)算 BP BH BP = Rb = BH = 1 峰底背景 線性區(qū)峰底背景強(qiáng)度的計(jì)算 BP B1 B2 2BBB Hlp e a k??非線性區(qū)峰底背景計(jì)算 峰底背景利用通過(guò) 4個(gè)背景點(diǎn)的多項(xiàng)式進(jìn)行計(jì)算：式中 : BgC表示常數(shù)項(xiàng)； BgL表示線性項(xiàng)； BgQ表示二次項(xiàng)； BgT 表示高次項(xiàng)。 X表示離主峰中心位置的 (2?)。 R(background)表示峰位的背景強(qiáng)度 定量分析方法根據(jù)基體影響處理不同可分為： 實(shí)驗(yàn)校正和數(shù)學(xué)校正兩類(lèi)： 1. 實(shí)驗(yàn)校正方法 : 外標(biāo)法，內(nèi)標(biāo)法，散射內(nèi)標(biāo)法和標(biāo)準(zhǔn)加入法。 2. 數(shù)學(xué)校正法 : 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論系數(shù)法和基本參數(shù)法 1. 實(shí)驗(yàn)校正法 工作曲線法 ： 以一組標(biāo)樣的分析元素測(cè)量強(qiáng)度對(duì)濃度 繪制的校準(zhǔn)曲線 (最小二乘法 )進(jìn)行未知樣品分析的方法。這種方法也稱(chēng)校準(zhǔn)曲線法。 實(shí)驗(yàn)校正法 (內(nèi)標(biāo)法 ) 試樣中定量加入某種已知的元素，以分析線與內(nèi)標(biāo)線 的強(qiáng)度比對(duì)分析元素濃度繪制校準(zhǔn)曲線，計(jì)算樣品的 濃度 .這種方法的優(yōu)點(diǎn) :能有效地補(bǔ)償基體的吸收－增 強(qiáng)效應(yīng)和樣品狀態(tài)變化產(chǎn)生的影響。 散射內(nèi)標(biāo)法 以波長(zhǎng)與分析線相近的散射靶線或背景作為比較 線，以分析線與散射線的強(qiáng)度比對(duì)分析濃度作校 準(zhǔn)曲線 ，分析未知樣品的元素濃度。通常用 銠靶的 RhKaC RhKbC康普頓線作為內(nèi)標(biāo)線 . 2. 數(shù)學(xué)校正法 數(shù)學(xué)校正法 : 以數(shù)學(xué)解析方法校正基體的吸收－增強(qiáng)影響，實(shí)現(xiàn)分 析線強(qiáng)度與濃度的準(zhǔn)確換算。該方法可分為經(jīng)驗(yàn)系數(shù) 法、理論 Alpha系數(shù)法和基本參數(shù)法。 數(shù)學(xué)校正法 1. 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法： 利用一組標(biāo)樣的強(qiáng)度與濃度數(shù)據(jù)和多元線性回歸法 計(jì)算基體的影響系數(shù)，實(shí)現(xiàn)強(qiáng)度與濃度的準(zhǔn)確換算 。 為了獲得準(zhǔn)確的校正系數(shù)，必須使用數(shù)量足夠的標(biāo) 準(zhǔn)樣品，根據(jù)精度公式，計(jì)算經(jīng)驗(yàn)系數(shù)必須的標(biāo)準(zhǔn) 樣品數(shù)量： n =3K+2。這樣可保證回歸計(jì)算的精度。 RMS C C n k chem calc ? － ? S [ ] 2 經(jīng)驗(yàn)校正數(shù)學(xué)模型 C D E R? ? * C D E R Wij jJ? ? ????????* * *1 ? C D E R WWWij jJik kiK? ? ? ????????? ?* * **11?? ???????????? ??KikikJjijWWWREDC???1*1*** C D E R W W Wij jJijk j kj? ? ? ???????? ?* * *1 ? ? 數(shù)學(xué)模型 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)校正的計(jì)算方法 : 利用標(biāo)準(zhǔn)樣品中的元素濃度計(jì)算影響 系數(shù)。這種方法適用于寬范圍校正； : 利用影響元素的強(qiáng)度計(jì)算影響系數(shù) 。 這種方法適用于濃度未知的影響元素 校正和較窄的濃度范圍。 經(jīng)驗(yàn)校正系數(shù)的計(jì)算方法 經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法校正項(xiàng)
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