【文章內(nèi)容簡介】 + % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ x ?xxx ?? 3 3 ??xxx??33??中心線上控制限U C L下控制限L C L個別值的正態(tài)分布 平 均值的正態(tài)分布 控制圖的正態(tài)分布 控制 圖由來說 明 中心線C區(qū)μ+2σμ+1σμ+3σB區(qū)A區(qū) 管制下限管制上限A區(qū)B區(qū)規(guī)格範(fàn)圍超過管制上限，為不可接受區(qū)域 在管制界限內(nèi)，為可接受區(qū)域 搜集 數(shù)據(jù) 繪 解析用控制 圖 是否 穩(wěn) 定 繪 直方 圖 是否滿足 規(guī) 格 控制用控制 圖 尋 找 異 常原因 檢討機械 、 設(shè)備 提 升 制 程能力 管制圖制作 均值和極差圖（ XR） 制作說明 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的 抽取子組。 注：應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程流等。 （ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生 產(chǎn)流。） 112 子組頻率 ：在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能反映潛在的變 化，這些變化原因可能是換班 /操作人員更換 /材料批次不同等原因引起。對 正在生產(chǎn) 的產(chǎn)品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一次 等。 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。一般為 25組，首次使用管 制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度”X R圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機油格 規(guī)范溫度： 170175176。c 機器名稱： 烤爐 = 均值 = U C L = + A2R = L C L = A2R=173 U C L = + A 2 = 175 L C L = +A 2 = 170 = 均值 R = U C L = D4 = L C L = D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24日期 / 時間9 / 68 : 0 0 9 : 0 09 / 69 : 0 0 1 0 : 0 09 / 61 0 : 1 1 : 0 09 / 61 1 : 0 0 1 2 : 0 09 / 61 3 : 3 0 1 4 : 3 09 / 61 4 : 3 0 1 5 : 3 09 / 61 5 : 3 0 1 6 : 3 09 / 78 : 0 0 9 : 0 09 / 79 : 0 0 1 0 : 0 09 / 71 0 : 0 0 1 1 : 0 09 / 71 1 : 0 0 1 2 : 0 09 / 71 3 : 3 0 1 4 : 3 09 / 71 5 : 3 0 1 6 : 3 09 / 81 0 : 3 0 1 1 : 3 09 / 81 3 : 3 0 1 4 : 3 09 / 81 4 : 3 0 1 5 : 3 09 / 81 5 : 3 0 1 6 : 3 09 / 1 18 : 0 0 9 : 0 09 / 1 19 : 0 0 1 0 : 0 09 / 1 11 0 : 0 0 1 1 : 0 09 / 1 11 1 : 0 0 1 2 : 0 09 / 1 11 3 : 3 0 1 4 : 3 09 / 1 28 : 0 0 9 : 0 09 / 1 21 3 : 3 0 1 4 : 3 0讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=0 .577D3=0 .000D4=2 .115172175 172備注 日期 / 時間 備注174 175 175 173 171 173 174XX?RXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+… +Xn） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 n 表示子組的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 X 和 R 的測量值。 42 刻度選擇 ： 對于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 （例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應(yīng)的。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明 “ 初始研究 ” 字樣。 2 計算控制限 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+… +Rk） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+… +Xk） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 計算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個負(fù)值。在這種情 況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “ 同樣 的 ” 測量結(jié)果是可能成立的。 23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線 ? 平均極差和過程均值用畫成實線。 ? 各控制限畫成虛線。 ? 對各條線標(biāo)上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗控制限。 不合格品率的 P圖 ? 用來測量在一批檢驗項目中 不合格品 (不符合或所謂的缺陷 )項目的 百分?jǐn)?shù) 。 ? 這可以是評價一個 特性值 （ 是否安裝了一個特殊的零件 ） 或是許多特性值 （ 在電氣系統(tǒng)檢查臺中是否發(fā)現(xiàn)某些不正常之處 ） 。 ? 把被檢查的每一個組件 ， 零件或項目記錄成合格或不合格 （ 即使一個項目有幾處不合格 ， 也僅記錄為一個不合格項 ） ； ? 把這些檢驗的結(jié)果按一個有意義的基礎(chǔ)條件分組 ，并且把不合格的項目用占子組大小的十分之幾來表示 。 不合格品率的 P圖 制作方法 ? 第一步： 收 集資 料 ? 選擇子組 的容量， 頻 率及 數(shù) 量 一般要求 較 大的子 組 容量 (例如 50到 200或更多， np5 ) 根 據(jù)產(chǎn) 品的周期 確 定分 級 的 頻 率 收集 資 料的 時間應(yīng)足夠長 ，以便查找 變 差源 ? 計算 每 個 子 組內(nèi) 的不合格品率 被 檢項 目的 數(shù) 量－ n 發(fā)現(xiàn) 的不合格 項 目的 數(shù) 量－ np 通過這 些 資 料 計 算不合格品率： p = np / n ? 選擇控制圖 的坐 標(biāo) 刻度 最大的不合格率值的 2倍的值 ? 將 不合格品率描 繪 在控制 圖 上 第二步： 計 算控制限 計 算 過 程平均不合格品率 n1p1+n2p2+n3p3+???nkpk Pbar =——————————— (n1 + n2 + n3 +???+nk) nPPPL C LnPPPU C LPP)1(3)1(3??????第三步： 劃線并標(biāo)注 過 程均值－水平 實線 。 控制線 (UCL,LCL)－ 水平 虛線 。 注： 在初始研究 階 段， 這 些被 認(rèn)為 是 試驗 控制 線 標(biāo)準(zhǔn)化作業(yè)程序 樣本容量改變 (即使是一個子組 )，控制限隨之變化，對每個具有不同的樣本容量的子組，應(yīng)分別計算各組的控制限 合理的作業(yè)程序： ? 確定可能超過其平均值士 25%的樣本容量范圍 ， 找出樣本容量超出該范圍的所有子組； ? 按以上公式重新計算這些點的控制限 ? 在控制圖上描繪受影響的子組新的上 、 下控制限 ， 并作為識別特殊原因的依據(jù) 。 ? 注：樣本資料不同時 ， 建議調(diào)整資料收集計劃 ， 從而使樣本容量恒定 控制圖解析 意義： 分析影響過程的因