【總結(jié)】??????????第第8章章掃描電子顯微分析掃描電子顯微分析掃描電鏡的工作原理、和性能構(gòu)造?1:SEM的主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)的收集和圖像顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)三部分。?2:掃描電鏡重要指標(biāo)是分辨率,是由特定樣品在特定工作狀
2025-01-15 04:31
【總結(jié)】第二十三章掃描電子顯微分析與電子探針第一節(jié)掃描電子顯微鏡工作原理及構(gòu)造?一、工作原理圖22-1掃描電子顯微鏡原理示意圖二、構(gòu)造與主要性能?掃描電子顯微鏡由電子光學(xué)系統(tǒng)(鏡筒)、偏轉(zhuǎn)系統(tǒng)、信號(hào)檢測(cè)放大系統(tǒng)、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、電源系統(tǒng)和
2025-05-03 08:20
【總結(jié)】?電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題?透射電子顯微鏡的結(jié)構(gòu)?電子衍射?金屬薄膜成像?復(fù)型?掃描電子顯微分析第二篇電子顯微分析術(shù)電子顯微鏡中的電子光學(xué)問題光學(xué)顯微鏡的局限性電子性質(zhì)電子透鏡的像差成像透鏡及性質(zhì)?分辨本領(lǐng):?指光學(xué)儀器所能區(qū)分的兩
2025-01-15 07:00
【總結(jié)】電子顯微分析與應(yīng)用?1.透射電子顯微分析?2.掃描電子顯微分析?3.微區(qū)元素分析?4.微區(qū)物相分析?5.應(yīng)用舉例答疑地點(diǎn):分析測(cè)試中心(校醫(yī)院斜對(duì)面)205答疑人:王超電話:13775988566電子顯微分析與應(yīng)用電子顯微分析的概念利用經(jīng)過聚焦的高能電子照射樣
2025-05-01 18:11
【總結(jié)】在18900倍下對(duì)PVC糊樹脂近行觀測(cè)應(yīng)用實(shí)例在26000倍下觀測(cè)碳酸鈣粉末掃描電鏡ScanningElectronMicroanalyzer掃描電鏡(SEM)SEM的基本原理★焦深大,圖像富有立體感,特別適合于表面形貌的研究★放大倍數(shù)范圍廣,從十幾倍到2萬倍,幾乎覆蓋
2025-05-12 18:43
【總結(jié)】Dept.ofMSE,CQU1第十章掃描電子顯微分析材料現(xiàn)代測(cè)試方法掃描電子顯微分析Dept.ofMSE,CQU2本章主要內(nèi)容概述掃描電鏡的特點(diǎn)和工作原理掃描電鏡的主要性能
2025-01-15 06:53
【總結(jié)】第二章電子顯微分析ElectronMicro-Analysisv研究對(duì)象?微結(jié)構(gòu)與顯微成分?微結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系?微結(jié)構(gòu)形成的條件與過程機(jī)理v材料的性能由微結(jié)構(gòu)所決定,人們可通過控制材料的微結(jié)構(gòu),使其形成預(yù)定的結(jié)構(gòu),從而具有所希望的性能。vv電子顯微分析是利用聚焦電子束與式樣物質(zhì)相互作用產(chǎn)生各種物理信號(hào),分
2025-02-15 14:32
【總結(jié)】透射電子顯微鏡的成像原理透射電鏡像1、復(fù)型像:反映試樣表面狀態(tài)的像,襯度取決于復(fù)型試樣的原子序數(shù)和厚度;2、衍襯像:反映試樣內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和完整性,起源于衍射光束;3、相襯像:由透射束和一束以上的衍射束相互干涉產(chǎn)生的像。2、衍射襯度像明場(chǎng)像暗場(chǎng)像晶體的衍襯像:由于晶體的
2024-12-31 01:57
【總結(jié)】附:掃描電子顯微分析方法及其工程應(yīng)用掃描電子顯微圖象分析(SEM,黃銅管金相樣品二次電子象)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅基體)微區(qū)成分能譜分析(EDS-銅合金管表面的點(diǎn)腐蝕)AlKPk●EDS,Al-Si合金中的Alk的線分布和面分布掃描電鏡成象原理和方法滴狀作用體積
2025-01-02 05:38
【總結(jié)】實(shí)驗(yàn)八-1細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)觀察與透射電子顯微鏡的使用掌握透射電子顯微鏡的成像基本原理及其應(yīng)用實(shí)驗(yàn)?zāi)康呐c要求一、透射電子顯微鏡的成像基本原理在真空條件下,電子束經(jīng)高壓加速后,穿透樣品時(shí)形成散射電子和透射電子,它們?cè)陔姶磐哥R的作用下在熒光屏上成像。顯微鏡分辨本領(lǐng)光源透鏡真空成像原理LM
2024-07-27 22:09
【總結(jié)】透射電子顯微鏡的成像原理透射電鏡像1、復(fù)型像:反映試樣表面狀態(tài)的像,襯度取決于復(fù)型試樣的原子序數(shù)和厚度;2、衍襯像:反映試樣內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和完整性,起源于衍射光束;3、相襯像:由透射束和一束以上的衍射束相互干涉產(chǎn)生的像。2、衍射襯度像明場(chǎng)像暗場(chǎng)像晶體的衍襯像:由于晶體的取向不同,導(dǎo)
2025-01-16 05:50
【總結(jié)】第四章透射電子顯微鏡n???????透射電子顯微鏡(簡稱透射電鏡)是以波長極短的電子束作為照明源,用電磁透鏡聚焦成像的一種高辨率、高放大倍數(shù)的電子光學(xué)儀器。n????????n??
2024-12-29 21:44
【總結(jié)】第八章掃描電子顯微鏡與電子探針顯微分析序?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡(TEM)之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以電子束作為照明源,把聚焦得很細(xì)的電子束以光柵狀掃描方式照射到試樣上,產(chǎn)生各種與試
2025-01-16 16:16