【摘要】第五章掃描電子顯微術(SEM)SEM的特點?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個樣品,然后迅速轉換到觀察某些選擇的結構的細節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51
【摘要】第六章掃描電子顯微書LettuceField(16MDRAM)TheoryofScanningElectronMicroscopeHitachiHigh-TechnologiesCorporationNanoTechnologiesSalesDept.1.ResolutionImprovement30kV1kVn
2025-05-12 02:39
【摘要】掃描電子顯微鏡?引言?掃描電鏡結構原理?掃描電鏡圖象及襯度?掃描電鏡結果分析示例?掃描電鏡的主要特點返回首頁掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。SEM與電子探針(EPMA)
2024-08-13 16:50
【摘要】電子顯微鏡原理班級:微電三甲學生:4973a057黃昭穎4973a058蘇暐倫指導老師:方信普目錄?電子顯微鏡原理?電子顯微鏡的種類?穿透式電子顯微鏡的原理?穿透式電子顯微鏡成像原理?掃描式電子顯微鏡的原理?掃描式電子顯微鏡的成像原理電子顯微鏡原理電子顯微鏡系
2024-10-11 14:45
【摘要】研究生畢業(yè)去向表屆姓名去向發(fā)表論文情況02周建萍中南大學博士發(fā)光學報,2022,1:51-5503趙斌中山大學博士JournalofMaterialsSciencer,2022,39,1405SCI高分子學報,
2025-05-01 18:02
【摘要】第四部分其它顯微分析方法主要內容?俄歇電子能譜儀(AES)?場離子顯微鏡(FIM)?掃描隧道顯微鏡(STM)?X射線光電子能譜分析(XPS)1俄歇電子能譜儀(AES)?能級躍遷,使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質?能量很低基本特點俄歇
2024-08-03 00:32
【摘要】高分辨電子顯微學林鵬081820232目錄???????不同材料有不同的使用性能;材料的性能決定于材料的結構,特別是它的微觀結構。為了獲得能滿足人類生活和生產(chǎn)需要的材料,必須研究材料的結構,首先要直接觀察到結構的細節(jié)。?1956年,門
2025-01-01 23:57
【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡稱EPMA),它用一束聚焦得很細(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學顯微鏡選定的待分析試樣上某個“點”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時發(fā)射的X射線的波
2025-04-30 01:47
【摘要】材料近代分析測試方法實驗指導-透射電鏡實驗指導教師:緱慧陽張樂欣材料學院綜合實驗室實驗一透射電鏡的結構與組織觀察一、實驗目的(TEM:transmissionelectronmicroscope)的成像原理,觀察基本結構;TEM像的基本特征和分析方法。二、透
2025-02-21 11:43
【摘要】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點2.電子束與固體樣品作用時產(chǎn)生的信號3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點l高的分辨率。由于超高真空技術的發(fā)展,場發(fā)射
2025-01-15 04:39
【摘要】掃描電子顯微術:例子TheeffectofAcceleratingVoltageonSEMImages30kV10kV5kV3kVSpecimen:Toner墨粉Whenhighacceleratingvoltageisusedasat(a),itishardtoobtainthecontr
2025-01-02 05:38
【摘要】第三部分電子顯微分析1武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳第二章電子顯微鏡成像原理電子顯微分析1儀器構型2成像2武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳1儀器構型(1)電子顯微分析第二章電子顯微鏡成像原理3武漢理工大學資環(huán)學院管俊芳1儀器構型(2)電子顯微分析第二
2025-01-01 00:17
【摘要】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來
2025-04-29 06:54
【摘要】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細聚焦電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理
2025-01-15 04:37
【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調制成像的顯微分析技術。?SEM在60’s商品化,應用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57