【摘要】第五章掃描電子顯微術(shù)(SEM)SEM的特點(diǎn)?樣品制備較簡單,甚至可以不作任何處理。并且樣品可以很大,如直徑可達(dá)10cm以上。?能在很大的放大倍數(shù)范圍工作,從幾倍到幾十萬倍,相當(dāng)于從放大鏡到透射電鏡的放大范圍。以致使用者可以首先概觀整個(gè)樣品,然后迅速轉(zhuǎn)換到觀察某些選擇的結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié),這給觀察帶來很大的方便
2025-01-08 03:51
【摘要】第六章掃描電子顯微書LettuceField(16MDRAM)TheoryofScanningElectronMicroscopeHitachiHigh-TechnologiesCorporationNanoTechnologiesSalesDept.1.ResolutionImprovement30kV1kVn
2025-05-12 02:39
【摘要】掃描電子顯微鏡?引言?掃描電鏡結(jié)構(gòu)原理?掃描電鏡圖象及襯度?掃描電鏡結(jié)果分析示例?掃描電鏡的主要特點(diǎn)返回首頁掃描電子顯微鏡的簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。SEM與電子探針(EPMA)
2024-08-13 16:50
【摘要】電子顯微鏡原理班級:微電三甲學(xué)生:4973a057黃昭穎4973a058蘇暐倫指導(dǎo)老師:方信普目錄?電子顯微鏡原理?電子顯微鏡的種類?穿透式電子顯微鏡的原理?穿透式電子顯微鏡成像原理?掃描式電子顯微鏡的原理?掃描式電子顯微鏡的成像原理電子顯微鏡原理電子顯微鏡系
2024-10-11 14:45
【摘要】研究生畢業(yè)去向表屆姓名去向發(fā)表論文情況02周建萍中南大學(xué)博士發(fā)光學(xué)報(bào),2022,1:51-5503趙斌中山大學(xué)博士JournalofMaterialsSciencer,2022,39,1405SCI高分子學(xué)報(bào),
2025-05-01 18:02
【摘要】第四部分其它顯微分析方法主要內(nèi)容?俄歇電子能譜儀(AES)?場離子顯微鏡(FIM)?掃描隧道顯微鏡(STM)?X射線光電子能譜分析(XPS)1俄歇電子能譜儀(AES)?能級躍遷,使空位層的外層電子發(fā)射出去?俄歇電子能量具有特征值?近表面性質(zhì)?能量很低基本特點(diǎn)俄歇
2024-08-03 00:32
【摘要】高分辨電子顯微學(xué)林鵬081820232目錄???????不同材料有不同的使用性能;材料的性能決定于材料的結(jié)構(gòu),特別是它的微觀結(jié)構(gòu)。為了獲得能滿足人類生活和生產(chǎn)需要的材料,必須研究材料的結(jié)構(gòu),首先要直接觀察到結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。?1956年,門
2025-01-01 23:57
【摘要】電子探針X射線顯微分析一、引言?電子探針X射線顯微分析(簡稱電子探針顯微分析)(ElectronProbeMicroanalysis,簡稱EPMA),它用一束聚焦得很細(xì)(50nm~1μm)的加速到5kV-30kV的電子束,轟擊用光學(xué)顯微鏡選定的待分析試樣上某個(gè)“點(diǎn)”(一般直徑為1-50um),利用試樣受到轟擊時(shí)發(fā)射的X射線的波
2025-04-30 01:47
【摘要】材料近代分析測試方法實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)-透射電鏡實(shí)驗(yàn)指導(dǎo)教師:緱慧陽張樂欣材料學(xué)院綜合實(shí)驗(yàn)室實(shí)驗(yàn)一透射電鏡的結(jié)構(gòu)與組織觀察一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康模═EM:transmissionelectronmicroscope)的成像原理,觀察基本結(jié)構(gòu);TEM像的基本特征和分析方法。二、透
2025-02-21 11:43
【摘要】掃描電子顯微鏡第三章掃描電子顯微鏡1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)2.電子束與固體樣品作用時(shí)產(chǎn)生的信號3.掃描電鏡的工作原理4.掃描電鏡的構(gòu)造5.掃描電鏡襯度像二次電子像背散射電子像6.掃描電鏡的主要性能7.樣品制備8.應(yīng)用舉例1.掃描電鏡的優(yōu)點(diǎn)l高的分辨率。由于超高真空技術(shù)的發(fā)展,場發(fā)射
2025-01-15 04:39
【摘要】掃描電子顯微術(shù):例子TheeffectofAcceleratingVoltageonSEMImages30kV10kV5kV3kVSpecimen:Toner墨粉Whenhighacceleratingvoltageisusedasat(a),itishardtoobtainthecontr
2025-01-02 05:38
【摘要】第三部分電子顯微分析1武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳第二章電子顯微鏡成像原理電子顯微分析1儀器構(gòu)型2成像2武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1儀器構(gòu)型(1)電子顯微分析第二章電子顯微鏡成像原理3武漢理工大學(xué)資環(huán)學(xué)院管俊芳1儀器構(gòu)型(2)電子顯微分析第二
2025-01-01 00:17
【摘要】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來
2025-04-29 06:54
【摘要】第三章掃描電子顯微鏡LightvsElectronMicroscope?掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope,簡稱SEM)是繼透射電鏡之后發(fā)展起來的一種電子顯微鏡?掃描電子顯微鏡的成像原理和光學(xué)顯微鏡或透射電子顯微鏡不同,它是以類似電視攝影的方式,利用細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描時(shí)激發(fā)出來的各種物理
2025-01-15 04:37
【摘要】第五章掃描電子顯微鏡和電子探針分析2?掃描電子顯微鏡(ScanningelectronmicroscopeSEM)是以類似電視攝影顯像的方式,通過細(xì)聚焦電子束在樣品表面掃描激發(fā)出的各種物理信號來調(diào)制成像的顯微分析技術(shù)。?SEM在60’s商品化,應(yīng)用范圍很廣;SEM成像原理與TEM完全不同,不用電磁透鏡放大成像;新式SEM的二次電子
2025-05-04 06:57