對pld進行邊界掃描故障診斷(編輯修改稿)
2025-05-06 11:39 本頁面
【文章內容簡介】 ｔ模式發(fā)送數(shù)據(jù)時?？稍谝莆浑A段將捕獲寄存器的數(shù)據(jù)移出，同時將測試圖形移入。而在更新階段，測試圖形從捕獲寄存器傳送到更新寄存器，再由更新寄存器驅動測試信號并將其輸出至Ｉ／Ｏ引腳。對于單芯片電路板來說，無論是輸入引腳，還是在引腳發(fā)送測試圖形時，其控制三態(tài)均應為輸出狀態(tài)，即令ＯＥＪ更新寄存器為１。 ３．２ 數(shù)據(jù)采集 數(shù)據(jù)采集的目的是得到引腳對測試圖形的響應。如果引腳正確，輸出的測試圖形就等于采集到的測試圖形，如果引腳出現(xiàn)故障，兩者必有差異。由于采集到的測試數(shù)據(jù)就是故障診斷的依據(jù)，所以能否正確、合理地采集到數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)采集的關鍵。單芯片電路板不像多芯片那樣利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數(shù)據(jù)，而是仍舊利用ｅｘｔｅｓｔ模式來采集數(shù)據(jù)。 圖２是利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數(shù)據(jù)的原理圖。在捕獲階段，由ＯＥＪ和ＯＵＴＪ來控制三態(tài)門狀態(tài)，以使電路板上三態(tài)輸入引腳為高阻狀態(tài)，三態(tài)輸出引腳為輸出狀態(tài)。由于采集的數(shù)據(jù)是引腳的實際狀態(tài)，而不是引腳對輸出測試圖形的響應，故用ｓａｍｐｌｅ模式不能正確地采集測試圖形以用于故障診斷。 圖３是利用ｅｘｔｅｓｔ模式在捕獲階段進行數(shù)據(jù)采集的示意圖，圖中的三態(tài)門受ＯＥＪ、ＯＵＴＪ更新寄存器控制，而這兩個寄存器的數(shù)值是發(fā)送測試圖形時的值，三態(tài)有效。所以它所采集的數(shù)據(jù)即為引腳對測試圖形的響應，可以滿足采集要求。 ４ 測試算法 電路板常見故障模型有呆滯型故障、固定開路故障和短路故障。為了消除誤判和混淆故障及提高診斷速度，可在算法上結合電路結構對自適應算法和Ｃ
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