對(duì)pld進(jìn)行邊界掃描故障診斷(編輯修改稿)
2025-05-06 11:39 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 ｔ模式發(fā)送數(shù)據(jù)時(shí)。可在移位階段將捕獲寄存器的數(shù)據(jù)移出，同時(shí)將測(cè)試圖形移入。而在更新階段，測(cè)試圖形從捕獲寄存器傳送到更新寄存器，再由更新寄存器驅(qū)動(dòng)測(cè)試信號(hào)并將其輸出至Ｉ／Ｏ引腳。對(duì)于單芯片電路板來(lái)說(shuō)，無(wú)論是輸入引腳，還是在引腳發(fā)送測(cè)試圖形時(shí)，其控制三態(tài)均應(yīng)為輸出狀態(tài)，即令ＯＥＪ更新寄存器為１。 ３．２ 數(shù)據(jù)采集 數(shù)據(jù)采集的目的是得到引腳對(duì)測(cè)試圖形的響應(yīng)。如果引腳正確，輸出的測(cè)試圖形就等于采集到的測(cè)試圖形，如果引腳出現(xiàn)故障，兩者必有差異。由于采集到的測(cè)試數(shù)據(jù)就是故障診斷的依據(jù)，所以能否正確、合理地采集到數(shù)據(jù)是數(shù)據(jù)采集的關(guān)鍵。單芯片電路板不像多芯片那樣利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數(shù)據(jù)，而是仍舊利用ｅｘｔｅｓｔ模式來(lái)采集數(shù)據(jù)。 圖２是利用ｓａｍｐｌｅ模式采集數(shù)據(jù)的原理圖。在捕獲階段，由ＯＥＪ和ＯＵＴＪ來(lái)控制三態(tài)門狀態(tài)，以使電路板上三態(tài)輸入引腳為高阻狀態(tài)，三態(tài)輸出引腳為輸出狀態(tài)。由于采集的數(shù)據(jù)是引腳的實(shí)際狀態(tài)，而不是引腳對(duì)輸出測(cè)試圖形的響應(yīng)，故用ｓａｍｐｌｅ模式不能正確地采集測(cè)試圖形以用于故障診斷。 圖３是利用ｅｘｔｅｓｔ模式在捕獲階段進(jìn)行數(shù)據(jù)采集的示意圖，圖中的三態(tài)門受ＯＥＪ、ＯＵＴＪ更新寄存器控制，而這兩個(gè)寄存器的數(shù)值是發(fā)送測(cè)試圖形時(shí)的值，三態(tài)有效。所以它所采集的數(shù)據(jù)即為引腳對(duì)測(cè)試圖形的響應(yīng)，可以滿足采集要求。 ４ 測(cè)試算法 電路板常見(jiàn)故障模型有呆滯型故障、固定開(kāi)路故障和短路故障。為了消除誤判和混淆故障及提高診斷速度，可在算法上結(jié)合電路結(jié)構(gòu)對(duì)自適應(yīng)算法和Ｃ
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