無損檢測高級選擇題(編輯修改稿)
2025-04-21 03:29 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的（可靠性）。159A型超聲波探傷儀上的“抑制”旋鈕打開對（垂直線性）有影響。160脈沖反射式超聲波探傷儀中，產(chǎn)生觸發(fā)脈沖的電路單元叫做（同步電路）。161脈沖反射式超聲波探傷儀中。產(chǎn)生時基線的電路單元叫做（掃描電路）。162斜探頭的斜楔一般采用有機玻璃制成，它的主要功能是將（縱波轉(zhuǎn)換成橫波）。163探頭匹配了阻尼塊后，使脈沖變窄，盲區(qū)變小，分辨力（提高）。164探頭內(nèi)（吸收塊）的主要作用是防止產(chǎn)生雜波，使脈沖變窄，盲區(qū)變小。6K2表示（斜探頭的規(guī)格）。166用試塊的方法標準探測靈敏度時，為避免修正，則應(yīng)采用（對比試塊）。167用一臺時基線以正確校正的儀器去探測R1=50mm，R2=25mm的牛角試塊。圓弧的第一次回波將出現(xiàn)在（不能出現(xiàn)）。168有的半圓試塊在中心側(cè)壁開有5mm的切槽，其目的是（獲得R曲面等距離反射波）。169采用不帶中心刻槽的半圓試塊調(diào)節(jié)焊縫探傷掃描比例時，如果圓弧第一次反射被。，則以后各次反射波對應(yīng)的刻度應(yīng)為（10）。170一個垂直線性好的儀器在熒光屏的波幅從100%降到50%時，衰減（6dB）。171在大多數(shù)情況下（25MHz）頻率分辨力最好。172垂直線性的好壞影響缺陷定量的精度，一般規(guī)定垂直線性誤差（≤8%）。173水平線性的好壞影響缺陷定位的精度，一般規(guī)定水平線性誤差（≤2%）。174靈敏度是指聲探傷系統(tǒng)所具有的探測（最小缺陷）的能力。175用試件底面的方法校準探測靈敏度時，底面所在部位應(yīng)平整（無缺陷）。176靈敏度余量是探頭和儀器的綜合性能，是指整個探傷系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)（最小缺陷）的能力。177下列幾種探頭（25MHz）探頭的晶片最薄。178下列（用頻率較低的縱波進行探傷）可增大超聲波在粗晶體材料中的穿透能力。179焊縫探傷中探頭角度選擇的主要依據(jù)是（鋼板的厚度）。180（機電耦合系數(shù)）較大能獲得較高轉(zhuǎn)換效率。181（頻率常數(shù)N1較大，介電常數(shù)ε較?。┛色@得較高的頻率。182（壓電應(yīng)變常數(shù)）d33較大，可獲得較高的發(fā)射靈敏度。183（壓電電壓常數(shù)）g33較大，可獲得較高的接收靈敏度。184檢驗鋼材用的K=2的斜探頭，探測鋁材時，其K值將（小于2）。185斜探頭K值的測定應(yīng)在（3倍）近場區(qū)以外進行。186當超聲波由水以20186。入射角入射到鋼界面時，則在鋼中橫波折射角為（48186。）。187焊縫探傷中探頭折射角的選擇主要依據(jù)（鋼板的厚度）。188正確地選用耦合劑，應(yīng)注意（耦合劑的聲阻抗與被檢材料的聲阻抗相近）。189超聲波探傷中，晶片表面和零件表面之間使用耦合劑的原因是（空氣間隙會使超聲波完全反射）。190由于工件表面粗糙而造成聲波傳播的損耗，其表面補償應(yīng)為（用實驗方法測定的補償分貝值）。191當缺陷直徑大于（波長3倍時），缺陷對聲波的反射可看成鏡面反射。192由于波的繞射，使超聲波探傷靈敏度約為（波長的1/2），因此提高頻率，有利于。193一般來說在頻率一定的情況下，在給定的材料中，橫波探測缺陷要比縱波靈敏，這是因為（橫波比縱波波長短）。194聲波容易探測到的缺陷的（尺寸）一般不小于波長的1/2。195調(diào)節(jié)探傷儀的（衰減器）的旋鈕有發(fā)射強度和增益旋鈕、衰減器抑制旋鈕等。196儀器的衰減器精度要求是任意相鄰12dB的誤差（≤1dB）。197晶片共振波長是晶片厚度的（2倍）。198晶片厚度與其（共振）頻率的乘積叫做頻率常數(shù)。199（共振法）是將超聲連續(xù)波加在被檢材料上，根據(jù)其共振狀態(tài)來測定厚度或。200若聲波在被檢工件內(nèi)傳播，當試件的厚度為超聲波半波波長的整數(shù)倍時，將引起（共振）。201在用直探頭進行水浸法探傷時，探頭到探測面的水層距離應(yīng)調(diào)節(jié)在使一次與二次界面回波之間至少出現(xiàn)一次（底面回波）。202用水浸聚焦探頭局部水浸法檢驗鋼板時，聲束進入工件后將（進一步集聚）。203在鋼板的水浸探傷中，如果入射角為33186。，在板中將會產(chǎn)生（橫波）。204下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中（無缺陷時，熒光屏上只顯示始波和1~2次底波）是錯誤的。205與表面光滑的工件相比，檢驗表面粗糙的工件時，一般應(yīng)采用（較低頻率的探頭和較粘的耦合劑）。206使用試塊的主要目的是（作為探測時的校準基準，并為評價工件中缺陷的嚴重程度提供依據(jù)）。207直探頭探傷，反射體距離小于3倍近場區(qū)長度時，校準探測靈敏度應(yīng)采用（對比試塊）。208超聲實驗系統(tǒng)的靈敏度（取決于探頭、儀器脈沖發(fā)生器和放大器）。209超聲波檢測中對探傷儀的定標操作是為了（確定缺陷位置）。210直探頭從端面對長條形工件探傷時，容易產(chǎn)生（遲到波）。211長軸類鍛件從端面作軸向探測時，容易出現(xiàn)的非缺陷回波是（遲到波）。212（遲到波）的遲到時間與工件長度和直徑有關(guān)。213粗晶材料的探傷可選用（）頻率的探頭。214（用頻率較低的縱波進行檢驗）可增大超聲波在粗晶材料中的穿透能力。215通常情況下，探傷面的修整應(yīng)能滿足（二次波）的掃查。216由于工件表面粗糙，而造成聲波傳播的損耗，其表面補償應(yīng)為（用實驗方法測定的補償分貝值）。217與表面光滑的工件相比，表面粗糙的工件直接接觸探傷時，應(yīng)使用（頻率較低的探頭和粘度大的耦合劑）。218在毛面工件上使用(軟保護膜探頭的優(yōu)點是（聲耦合穩(wěn)定）。219使用直接接觸法探傷，以下正確的是（以上都不正確）。220直探頭接觸法探傷時，（探頭與工件之間）要涂布耦合劑。221管材橫波接觸法探傷時，入射角的允許范圍與（管子的規(guī)格）有關(guān)。222超聲波入射到平面缺陷產(chǎn)生波型轉(zhuǎn)換時，與波的（入射角有關(guān)）。223超聲波只有在（傾斜入射）時才能在異質(zhì)界面上發(fā)生波型轉(zhuǎn)換，并且。224探頭指向角是晶片尺寸和介質(zhì)中波長的函數(shù)，它隨（頻率增加，晶片直徑增大而減?。?。225探頭晶片尺寸越大，其指向角（越?。?。226鍛件探傷靈敏度的校正方法（B和C都正確）。227方形鍛件垂直法探傷時，熒光屏上出現(xiàn)一個缺陷回波，其波幅較低，但底波降低很大，該缺陷取向可能是（與探測面成較大角度）。228鍛件中非金屬夾雜物的取向一般是（平行于鍛造時的變形方向）。229厚板超聲波探傷時，若縱波的頻率提高，其聲速將（不變）。230鋼板超聲波檢驗中，一般用來測量缺陷邊界位置的方法是（6dB法）。231焊縫斜角探傷中，常用手指蘸耦合劑拍打回波源的方法判定干擾回波，下面說法正確的是（回波微微跳動，該表面是回波反射源）。232焊縫中的裂紋缺陷一般用（定點轉(zhuǎn)動）與未焊透相區(qū)別。233厚板焊縫斜角
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