高級無損檢測技術(shù)資格人員無損檢測概念知識考題匯編(編輯修改稿)
2025-05-04 22:34 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 光電效應(yīng)；康普頓效應(yīng)當(dāng)入射光子與電子發(fā)生彈性碰撞，光子失去部分能量，改變了原來運(yùn)動方向，稱為散射線，電子獲得光子那部分能量，以與入射光子方向成小于90℃角的某一角度射出，稱為反沖電子，這一現(xiàn)象稱為康普頓散射效應(yīng)；，可能產(chǎn)生一對正、負(fù)電子（電子正電子對），入射光子失去全部能量而消失，產(chǎn)生的正、負(fù)電子對在不同方向飛出，這一現(xiàn)象稱為電子對生成效應(yīng)。，為什么要用斜探頭在焊縫兩側(cè)的母材表面上進(jìn)行？答：在焊縫母材兩側(cè)表面進(jìn)行探測便于檢出焊縫中各個(gè)方向的缺陷；便于使用一次、二次聲程掃查整個(gè)焊縫截面，不會漏檢；有些缺陷在一側(cè)面發(fā)現(xiàn)后，可在另一側(cè)面進(jìn)行驗(yàn)證；一般母材表面光潔度比焊縫高，易于探頭移動掃查，也可省去焊縫打磨的工作量，在協(xié)助制訂產(chǎn)品無損檢測的質(zhì)量驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)時(shí),主要可從哪幾個(gè)方面入手?答:質(zhì)量驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)常用下列四種方法確定:①引用類似試件的工件的現(xiàn)有標(biāo)準(zhǔn),這些標(biāo)準(zhǔn)都是經(jīng)過長時(shí)間的實(shí)際使用考驗(yàn),被證明是可靠的.②按一定的加工工藝試生產(chǎn)一批工件,進(jìn)行無損探傷,對探傷發(fā)現(xiàn)缺陷進(jìn)行拉伸,彎曲等破壞性試驗(yàn),根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果確定出合適的標(biāo)準(zhǔn).③根據(jù)經(jīng)驗(yàn)或理論的應(yīng)力分析,制定出驗(yàn)收的標(biāo)準(zhǔn).④將帶有典型缺陷的試件進(jìn)行模擬實(shí)際工作狀態(tài)的試驗(yàn),：(1)產(chǎn)品設(shè)計(jì)的質(zhì)量要求,(2)其他類似產(chǎn)品的無損檢測驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn),(3)前人經(jīng)驗(yàn)總結(jié),(4)進(jìn)行必要的破壞性試驗(yàn)進(jìn)行驗(yàn)證[提示]：應(yīng)從兩種方法的靈敏度高低、檢測厚度范圍、易發(fā)現(xiàn)的缺陷形狀以及安全防護(hù)和經(jīng)濟(jì)性等方面進(jìn)行比較？每種防護(hù)方法的基本原理是什么？[提示]：射線防護(hù)方法有三種，即距離防護(hù)、時(shí)間防護(hù)、屏蔽防護(hù)，距離防護(hù)射線劑量率與離射線源的距離平方成反比，因此盡量在距離射線源遠(yuǎn)的地方從事射線探傷工作；時(shí)間防護(hù)人體接收射線劑量與時(shí)間成正比，盡量縮短接收時(shí)間以減少對人體的危害；屏蔽防護(hù)射線穿過屏蔽材料時(shí)，其能量會衰減，盡量在有安全屏蔽的條件下進(jìn)行工作答：磁粉探傷是根據(jù)漏磁場原理而達(dá)到顯示缺陷的目的，鐵磁性材料在外加磁場進(jìn)行磁化時(shí)，由于表面或近表面缺陷處因磁阻變化引起磁力線的畸變，導(dǎo)致部分磁力線泄露出工件表面而形成漏磁場，它能吸附施加在工件表面的磁粉從而顯示出缺陷的位置和形狀，達(dá)到檢測缺陷的目的。磁粉探傷適用于檢查鐵磁性材料的表面和近表面缺陷。，磁化電流定為I=10D，已知DA=70mm，DB=100mm，DC=40mm，問磁化電流各為多少安培？應(yīng)按怎樣的順序進(jìn)行探傷？為什么？解：IA=70*10=700A；IB=100*10=1000A；IC=40*10=400A為了防止磁粉附著造成假象，應(yīng)按先C后A再B的順序進(jìn)行磁化和檢查？各個(gè)區(qū)域的主要特征是什么？用示意圖注明簡述之[提示]超聲場是由聲源發(fā)射超聲振動的空間而形成特殊場，它可以根據(jù)超聲在空間各部位聲壓大小不同，形象地用圖示方法表示出來（如下圖a）：超聲場分為近場和遠(yuǎn)場兩大部份，其中主聲束以錐體形狀（猶如鮮花主瓣），近場區(qū)內(nèi)主聲束以外的稱為副瓣。主聲束的擴(kuò)散角按零階貝塞爾函數(shù)計(jì)算出其主瓣的錐角范圍，即J1(X)=J1(kasinθ)，J1(X)有很多根，其中最小的根為X0=，則sinθ0=()(λ/a)=()(λ/2a) sinθ=(λ/D) [D=2a晶片直徑，a為半徑]，求出θ0值即為主瓣的擴(kuò)散角（θ0），當(dāng)用J2(X)、J3(X)……分別求出第一副瓣、
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