[理學(xué)]實(shí)驗(yàn)報(bào)告γ射線能譜測定及γ射線的吸收與物質(zhì)吸收系數(shù)μ的測定(編輯修改稿)
2025-04-19 02:04 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 正比，信號(hào)脈沖的個(gè)數(shù)正比于γ射線的強(qiáng)度。能譜圖中，橫坐標(biāo)CH表示道數(shù)，與能量成正比，縱坐標(biāo)表示強(qiáng)度（射線的密集程度），與計(jì)數(shù)成正比。γ射線的吸收與物質(zhì)吸收系數(shù)μ的測定窄束γ射線在穿過物質(zhì)時(shí)被吸收，強(qiáng)度隨物質(zhì)厚度的衰減服從指數(shù)規(guī)律，即 I0、I分別是穿過物質(zhì)前、后的γ射線強(qiáng)度，x是γ射線穿過的物質(zhì)的厚度（單位cm），σr是光電、康普頓、電子對三種效應(yīng)截面之和，N是吸收物質(zhì)單位體積中的原子數(shù)，μ是物質(zhì)的線性吸收系數(shù)。μ是物質(zhì)的原子序數(shù)Z和γ射線能量的函數(shù)，且： 式中、分別為光電、康普頓、電子對效應(yīng)的線性吸收系數(shù)；其中：、（Z為物質(zhì)的原子序數(shù)）。γ射線與物質(zhì)相互作用的三種效應(yīng)的截面都是隨入射γ射線的能量Eg和吸收物質(zhì)的原子序數(shù)Z而改變。γ射線的線性吸收系數(shù)μ是三種效應(yīng)的線性吸收系數(shù)之和。實(shí)際工作中常用質(zhì)量厚度Rm（g/cm2）來表示吸收體厚度，以消除密度的影響。由于在相同的實(shí)驗(yàn)條件下，某一時(shí)刻的計(jì)數(shù)率N總與該時(shí)刻的g射線強(qiáng)度I成正比， 如果將吸收曲線在半對數(shù)坐標(biāo)紙上作圖，將得出一條直線?？梢詮倪@條直線的斜率求出，即 實(shí)驗(yàn)步驟 γ射線能譜測定 1. 連接儀器，使各部分中心位于一條直線上，調(diào)整工作電壓在700V左右，預(yù)熱至少30分鐘。 2. 把放射源或放在探測器前，調(diào)節(jié)高壓使或能譜的最大脈沖幅度盡量大而又不超過多道脈沖分析器的分析范圍。 3. 打開軟件，設(shè)置137Cs的掃描時(shí)間為300s（60Co為500s）,“縱軸刻度”為“自動(dòng)線性顯示”，“全譜道數(shù)”為512，“擴(kuò)展譜道數(shù)”為128。點(diǎn)擊運(yùn)行，得到能譜圖。尋峰，若全能峰在探測道數(shù)左邊，則適當(dāng)調(diào)大電壓，反之則調(diào)小電壓（應(yīng)使60Co的全能峰在320道處，137Cs的全能峰在160道處）。
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