【文章內(nèi)容簡介】 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30 31 4 * 1 5 * 讀 2 6 * 23 7 數(shù) 4 8 5 9 10 核 審 作 準 查 成* 樣本容量小于 7 時 , 沒有極差的下控制限R= 最高－最低X= 和 / 讀數(shù)數(shù)量日期勤威 ( 天津 ) 工業(yè)有限公司X R 控 制 圖對特殊原因采取措施的說明Q R 01 001 / 0工廠機器編號部門日期工序特性和子組容量。一個遠離中心線超過3個標準差。連續(xù)7點位于中心線一側345。連續(xù)6點上升或下降。連續(xù)14點交替上下變化。連續(xù)15個點排列在中心線1個標準差范圍內(nèi)(任一側)。連續(xù)8個點距中心線的距離大于1個標準差(任一側)。2/3的點距中心線的距離超過2個標準差(同一側)。4/5的點排列在中心線的距離超12整 理：阿 炳 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 42 刻度選擇 ： 整 理：阿 炳 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ 例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上 1個刻度代表 ） 1將均值和極差畫到控制圖上 51 X 圖和 R 圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否 合理，有無很高或很低的點，并檢查計算及畫圖是否正確。 52 確保所畫的 X 和 R點在縱向是對應的。 注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 整 理：阿 炳 2 計算控制限 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 。 21 計算平均極差（ R）及過程均值（ X） R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 22 計算控制限 計算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時子組的均 值和極差的變化和范圍。控制限是由子組的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 計算公式： UCLx=X+ A2R UCLR=D4R LCLx=X A2R LCLR=D3R 整 理：阿 炳 接上頁 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。其系數(shù)值 見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術上為一個負值。在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個“同樣的”測量結果是可能成立的。 整 理：阿 炳 23 在控制圖上作出均值和極差的控制限 ? 平均極差和過程均值畫成實線。 ? 各控制限畫成虛線。 ? 對各條線標上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應注明試驗控制限。 24 過程控制分析 分析控制圖的目的在于識別過程變化或過程均值不恒定的證據(jù)。 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當?shù)拇胧? 注 1： R 圖和 X 圖應分別分析，但可進行比較，了解影響過程 的特殊原因。 注 2： 因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 因此，首先應分析 R圖。 整 理：阿 炳 25 分析控制圖前，先回顧一下 3 σ控制圖 x+ 3 σ x 3 σ x X+ 1 σ X 1 σ X 2σ X+ 2σ UCL LCL 整 理：阿 炳 31 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 311 超出控制限的點 [一個遠離中心線超過 3個標準差 ] a 出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要 證據(jù) ， 應分析 。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： 控制限計算錯誤或描點時描錯 零件間的變化性或分布的寬度已增大 (即變壞 ） [原材料不合格 ， 設備故障等 ］ 測量系統(tǒng)變化 （ 如：不同的檢驗員或量具 ） c 有一點位于下控制限之下 ， 說明存在下列情況的一種或多種 控制限或描點時描錯 分布的寬度變小 （ 變好 ） 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 整 理：阿 炳 不受控制的過程的極差（有超過控制限的點） UCL LCL UCL LCL R R 受控制的過程的極差 整 理：阿 炳 312 鏈 有下列之現(xiàn)象表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側； ? 連續(xù) 6點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加 ， 原因可能是無規(guī)律的 （ 例如：設備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜?） 或是由于過程中的某要素變化 （ 如使用新的不一致的原材料 ） ， 這些問題都是常見的問題 ， 需要糾正 。 a2 測量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗人或新的量具 )。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 b2 測量系統(tǒng)的改好。 注 1： 當子組數(shù)（ n）變得更小（ 5或更?。r，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加。 注 2：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參 考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時 間。 整 理：阿 炳 UCL LCL R UCL R LCL （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 不受控制的過程的極差 整 理：阿 炳 313 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。 b 一般情況，明顯的非隨機圖形有： ? 連續(xù) 14點交替上下變化。 ? 2/3的點距中心線的距離超過 2個標準差 (同一側 ) ? 4/5的點排列在中心線的距離超過 1個標準差 (同一側 ) 。 ? 連續(xù) 15個點排列在中心線 1個標準差范圍內(nèi) (任一側 ) ? 連續(xù) 8個點距中心線的距離大于 1個標準差 (任一側 ) c 說明存在下列情況的一種或多種 : c1 控制限計算錯或描點已描錯 。 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多 個具有完全不同的過程均值的過程流的測量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 整 理：阿 炳 314 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。 b 應及時分析問題，例如：出現(xiàn)一個超出控制限的點就立即開 始分析過程原因。 整 理：阿 炳 315 重新計算控制限（極差圖） a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差 R和控制限，并畫下來， 使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應從 X圖中去掉。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限， X 177。 A2R 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。而是排除受已知的特殊原因影響的點。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 整 理：阿 炳 32 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點 321 超出控制限的點 [一個遠離中心線超過 3個標準差 ]： a 一點超出任一控制限通常表明存在下列情況之一或更多： a1 控制限計算錯或描點時描錯 a2 過程已更改，或是在當時的那一點（可能是一件獨立的事件）或是一種趨勢的一部分。 [原材料不合格，設備故障等 ］ a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 整 理：阿 炳 不受控制的過程的均值（有一點超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 整 理：阿 炳 322 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側； ? 連續(xù) 6點連續(xù)上升或下降； a 與過程均值有關的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 a1 過程均值已改變 a2 測量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） a3 工具逐漸磨損、維修水平逐漸降低、操作人員技能逐漸提高等。 注：標注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參 考線延伸到 鏈的開始點，分析時應考慮開始出現(xiàn)變化趨勢或變化的時 間。 整 理：阿 炳 不受控制的過程的均值（長的上升鏈） 不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈） UCL X LCL UCL X LCL 整 理：阿 炳 323 明顯的非隨機圖形 a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關系等。 b 一般情況，明顯的非隨機圖形有： ? 連續(xù) 14點交替上下變化。 ?