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正文內(nèi)容

sunrisespc培訓教材(編輯修改稿)

2025-03-10 14:49 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 ii=1NX=N=45計量值管制圖制作 XbarRChart5).計算各組的全距 R;R=XmaxXmin6).計算總平均 X(控制中心線)取比測定單位小兩位數(shù);k∑Xii=1KX=X1+X2+….+ XkK=7).計算全距平均 R;=R1+R2+….+ RkR=K Kk∑Rii=146計量值管制圖制作 XbarRChart8). 計算控制界線 X控制圖:中心線( CL) = X 上控制界限( UCL) = X + A2R 下控制界限 ( LCL) = X A2R R控制圖: 中心線( CL) = R 上控制界限( UCL) = D4R 下控制界限( LCL) = D3R *A D D3可由系數(shù)表 1查得。 9). 繪控制界限,并將點描入圖中;47計量值管制圖制作 XbarRChart? 步驟步驟 1 數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集48計量值管制圖制作 XbarRChart? 步驟步驟 2 – 計算每組平均數(shù)和極差計算每組平均數(shù)和極差49計量值管制圖制作 XbarRChart? 步驟步驟 3 – 計算管制界限計算管制界限均值 管制 圖 極差 管制 圖50計量值管制圖制作 XbarRChart( 表 1) XR 控制圖控制界限的常數(shù)表樣本大小 X控制圖常數(shù) A2R控制圖常數(shù) 下控制限 D3 上控制限 D42 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 51計量值管制圖制作 XbarRChart? 步驟步驟 4 – 作圖作圖52 首先看極差管制圖即 R管制圖:如所有點皆在管制界限內(nèi),表示極差皆在統(tǒng)計管制狀態(tài)下,則繼續(xù)看平均值管制圖即 XBar管制圖;如只有一個或兩個點在管制界限外,則剔除這一兩個極差的樣本,然后重新計算新的極差管制界限,如其余的點皆在新的管制界線內(nèi),則可視為極差在統(tǒng)計管制狀態(tài)下,繼續(xù)看 XBar管制圖;如剩余的點有點超出新的管制界限,則代表極差不在管制狀態(tài)下,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進行標準化,并重新收集資料。 R管制圖中如有 3點或以上的點在管制界限外,則代表極差不在管制狀態(tài)下,即是說極差失控,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進行標準化,并重新收集資料。計量值管制圖制作 XbarRChartXbarR控制圖作法總結(jié)53如 R管制圖在統(tǒng)計管制狀態(tài)下,則繼續(xù)看平均值 X管制圖:如所有點皆在管制界限內(nèi),表示平均值皆在統(tǒng)計管制狀態(tài)下,即是說平均值受控,則可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限,如只有一個或兩個點在管制界限外,則剔除這一兩組平均值的樣本,然后重新計算新的平均值管制界限,如其余的點皆在新的管制界線內(nèi),則可視為平均值在統(tǒng)計管制狀態(tài)下,則可沿用此一管制界限作為制程管制用之管制界限;如剩余的點有點超出新的管制界限,則代表平均值不在管制狀態(tài)下,此時應(yīng)找出并消除造成問題的特殊原因,然后進行標準化,并重新收集資料。計量值管制圖制作 XbarRChart54計量值管制圖分析流程 (Xbar管制圖 ) 3個以上的平均值在管制界限外是平均值均在管制范圍內(nèi)嗎 ?只有一個或二個點在管制界限外 ?剔除這一個或二個全距值的樣本 ?重新計算 X. R的平均值管制界限其余的全距值均在界限內(nèi)嗎 ?找出亦修正特殊原因重新收集資料計算平均值的管制界限平均值均在控制中否否是否平均值失控是計算新的極差管制界限下接極差流程圖繼續(xù)使用此管制界限管理制程計量值管制圖制作 XbarRChart55計量值管制圖分析流程 (R管制圖 )極差均在管制范圍內(nèi)嗎 ?只有一個或二個點在管制界限外 ?剔除這一個或二個極差值的樣本 ?重新計算 X. R的極差管制界限其余的極差值均在界限內(nèi)嗎 ?3個以上的點在管制界限外停止計算平均值的管制界限找出亦修正特殊原因重新收集資料計算極差的管制界限計算平均值的管制界限極差值均在控制中否否是是 否極差失控是接平均值管制圖分析流程計量值管制圖制作 XbarRChart56計量值管制圖制作 XbarSChart? 子組樣本容量較大,因此更有效地體現(xiàn)變差,檢出能力高;? 當 n≥10 時, s圖代替 R圖,因為 R圖所反映的過程的分散程度已經(jīng)不合適,誤差太大,所以采用對過程分散程度反映較好的 S圖;? 計算復雜,因此適用于采用計算機或袖珍計算器能簡單按程序計算出 S的情況下;57計量值管制圖制作 XbarSChart均值的計算同標準差的計算為:58計量值管制圖制作 XbarSChart計算管制界限均值控制圖 標準差控制圖n 2 3 4 5 6 7 8 9 10B4 B3 A3 59計量值管制圖制作 XbarSChart? 步驟步驟 1 數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集60計量值管制圖制作 XbarSChart? 步驟步驟 2 – 計算每組平均數(shù)和標準差計算每組平均數(shù)和標準差61計量值管制圖制作 XbarSChart? 步驟步驟 3 – 計算管制界限計算管制界限均值控制圖 標準差控制圖62? 步驟步驟 4 – 作圖作圖計量值管制圖制作 XbarSChart63中位數(shù): 即指在一組數(shù)按照大小順序排列的數(shù)列中位居中間的數(shù)。注: 當數(shù)的個數(shù)為偶數(shù)個時,則中位數(shù)的值為 中間兩個數(shù)的均值。與 XbarR圖也很相似 ,只是用中位數(shù)圖 (Xmed圖 )代替均值圖 (Xbar圖 ),由于中位數(shù)的計算比均值簡單 ,所以多用于現(xiàn)場需要把測定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進行控制的場合 ,這時為了簡便 ,當然規(guī)定為奇數(shù)個數(shù)據(jù)。計量值管制圖制作 XmedRChart64計量值管制圖制作 XmedRChart? 步驟步驟 1 數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集65計量值管制圖制作 XmedRChart? 步驟步驟 2 – 計算每組中位數(shù)和極差計算每組中位數(shù)和極差66計量值管制圖制作 XmedRChart? 步驟步驟 3 – 計算管制界限計算管制界限計算平均中位數(shù)和平均極差Mbar=(M1+M2+…+Mk)/kRbar=(R1+R2+…+Rk)/K 計算管制界限UCLR = D4RbarLCLR = D3RbarUCLXmed = Xmedbar + A2*RbarLCLXmed = Xmedbar A2*Rbar67? 步驟步驟 4 – 作圖作圖計量值管制圖制作 XmedRChart681. 適用場合:  ◇ 不需多個測量值或樣本是均勻的(如濃度)  ◇ 因為費用或時間的關(guān)系,過程只有一個測量值(如破壞性實驗)  ◇ 用自動化檢查,對產(chǎn)品進行全檢時2. 計算單值間的移動極差 通常最好是計算每對連續(xù)讀數(shù)間的極差,這樣移動極差的個數(shù)就比單值讀數(shù)的個數(shù)少一個;在很少的情況下,可在較大的移動組或固定的子組的基礎(chǔ)上計算移動極差。注意,盡管測量是單獨抽樣的,但是讀數(shù)的個數(shù)形成移動極差的成組 (例如 3或 4)決定了樣本容量 n。當查系數(shù)表時必須考慮該值。計量值管制圖制作 XMRChart69? 步驟步驟 1 數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集計量值管制圖制作 XMRChart70計量值管制圖制作 XMRChart71 計算管制界限UCLMR = D4RbarLCLMR = D3RbarUCLX = Xbar+E2RbarLCLX = XbarE2Rbar? 步驟步驟 3 – 計算管制界限計算管制界限計量值管制圖制作 XMRChart72計量值管制圖制作 XMRChart? 步驟步驟 4 – 作圖作圖73計數(shù)品質(zhì)特性 (attributequalitycharacteristics),是指那些只要決定其是否符合規(guī)格而不需量度出其正確讀數(shù)之特性。也就是說應(yīng)用 [通過與不通過 ]之準則去決定產(chǎn)品是否可以接受。在品質(zhì)管制實務(wù)中,有時候只需要決定產(chǎn)品是否可以接受而不需要作實際測量,原因可能是實際測量工作很困難 (如顏色、損壞程度等 ),也可能是費用過高和需時甚長,不合乎經(jīng)濟原則,要解決這些實際測量工作所遭遇的困難,我們可應(yīng)用計數(shù)檢驗方法,例如要檢驗一個容器之盛載能力,只需注意是否出現(xiàn)漏裂,而無需測量其漏裂程度。計數(shù)值管制圖 制作74計量值管制圖是管制產(chǎn)品之有效方法,但其應(yīng)用卻受到一定限制:首先,它不適用于管制所有品質(zhì)特性 (但計數(shù)值管制圖卻可用來管制所有能計量的品質(zhì)特性,其過程只需決定品質(zhì)特性是否合格便可 )。其次,由于每一對 XR管制圖只能管制一種品質(zhì)特性,當產(chǎn)品有很多計量品質(zhì)特性需要同時管制時,就得需要很多圖表,因而成本大增,并且有些不切實際。故此,在某些情況下,應(yīng)用計數(shù)管制圖是必須的。 在品質(zhì)特性管制圖中,我們常會接觸到缺陷( defects) 和不良品( defective)。 “ 缺陷 ” 是指某一品質(zhì)特性不合規(guī)格而言,而不良品則是指一件產(chǎn)品由于有缺陷存在以致不能使用,一件不良品可能由很多個缺陷所造成。再以容器之盛載計數(shù)值管制圖 制作75 能力為 例,如果容器有漏水情形,便為不良品;而其漏裂原因可能兩個缺陷,有五處漏裂,即有五個缺陷。不管缺陷多少,它仍是不良品。但相反來說,含有缺陷的產(chǎn)品卻未必是廢品,這要看缺陷之影響情形而定。一般來說,每當我們在生產(chǎn)中發(fā)現(xiàn)了不良品,我們可以先用計數(shù)值管制圖找出主要的缺陷問題,分析其原因;然后,我們就可以 [對癥下藥 ],利用數(shù)據(jù)的轉(zhuǎn)化,將問題點變?yōu)?[控制參數(shù) ]。這樣,問題就可以迎刃而解,為生產(chǎn)不良的問題加上控制。計數(shù)值管制圖 制作76 不良率 是指每一樣本組內(nèi)含所有之不良品之機會率。樣本組內(nèi)之不良品個數(shù)樣本數(shù)npnp = =計數(shù)值管制圖 制作 PChart ? 樣本容量 n大小不? 服從二項分布? 當 P較小 n足夠大時 ,該分布趨向于正態(tài)分布77計數(shù)值管制圖制作 – PChart ? 步驟步驟 1 數(shù)據(jù)采集數(shù)據(jù)采集78計數(shù)值管制圖制作 – PChart ? 步驟步驟 2 – 計算不良率計算不良率計算公式:樣本數(shù) –n不合格數(shù)量 –np不合格率:p=np/n79計數(shù)值管制圖制作 – PChart 計算平均不合格率Pbar=(n1P1+ n2P2+ …+n kPk)/(n1+n2+…+n k ) 計算管制界限UC
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