spc培訓(xùn)教材-應(yīng)用型(編輯修改稿)
2025-03-13 12:52 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 B3在控制 圖 上作出平均值和 極 差控制限的控制 線 步 驟 B： 28 科 華 咨 詢 K為組數(shù) k R R R R k x x x x x k k + + + = + + + + = ..... ..... 2 1 3 2 1 極差控制圖： 平均值控制圖： B 計(jì) 算平均 極 差及 過 程平均值 29 科 華 咨 詢 R D LCL R D UCL R CL R A X LCL R A X UCL X CL R R R X X X 3 4 2 2 = = = = + = = 極差控制圖： 平均值控制圖： B 計(jì) 算控制限 注： D D A2為常數(shù)，隨樣本容量 n的不同而不同，見《控制圖的常數(shù)和公式表》。 30 科 華 咨 詢 B 在控制 圖 上 畫 出平均值和 極 差控制限的控制 線 ? 將平均 極 差 （ R bar） 和過程均值（ Xdouble bar）畫成黑色水平實(shí)線，各控制限（ UCLR、 LCLR、 UCLX、LCLX） 畫成 紅色 水平虛線； ? 在初始研究階段，這些被稱為試驗(yàn)控制限。 31 科 華 咨 詢 Ｃ過程控制解釋 C1分析 極 差 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (極 差 圖 ) C3重新 計(jì) 算控制界限 (極 差 圖 ) C4分析均值 圖 上的 數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 超出控制限的 點(diǎn) 鏈 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 C5識 別 并標(biāo) 注特殊原因 (均值 圖 ) C6重新 計(jì) 算控制界限 (均值 圖 ) C7為 了 繼續(xù)進(jìn) 行控制延 長 控制限 步 驟 C： 32 科 華 咨 詢 ? 應(yīng)用 控制 圖 的目的是 為 了使生 產(chǎn)過 程或工作 過程處于 “控制 狀態(tài) ” ， 控制 狀態(tài)（穩(wěn)定 狀態(tài)） 指生 產(chǎn)過 程 的波動僅 受 正常原因的影 響 ，產(chǎn)品質(zhì)量 特性的分布基本上不 隨時間 而 變化的狀態(tài)； 反之 則為 非控制 狀態(tài)或異常狀態(tài)。 33 科 華 咨 詢 控制 圖 的判 異原則 超出控制界限的 點(diǎn) ： 出 現(xiàn) 一 個 或多 個點(diǎn) 超出任何一 個 控制界限是 過 程處于 失控 狀態(tài) 的主要 證據(jù)。 UCL CL LCL 異 常 異 常 34 科 華 咨 詢 ? 注 ：有下列 現(xiàn) 象之一即表明 過 程已改 變或出現(xiàn)這 種趨勢： ? 連續(xù) 7點(diǎn) 位 于 平均值的一 側(cè)； ? 連續(xù) 7點(diǎn) 上升或下降。 UCL CL LCL 35 科 華 咨 詢 ? 明 顯 的非 隨機(jī)圖 形 ： ? 根據(jù) 正 態(tài) 分 布來 判定，正常 應(yīng) 是有 2/3的 點(diǎn) 落 在控制限中 間 1/3區(qū) 域 ，如出現(xiàn)下列情況： 超過 90%的點(diǎn)落在控制限 中 間 1/3區(qū) 域 ，或 少于 40%的點(diǎn)落在控制限 中 間 1 /3區(qū) 域 ? 應(yīng)調(diào)查過程是否存在特殊原因或數(shù)據(jù)是否經(jīng)過編輯？ UCL CL LCL 36 科 華 咨 詢 C 重新計(jì)算控制限 ? 當(dāng)進(jìn)行首次工序研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)并解決了的特殊原因的任何失控的點(diǎn)； ? 重新計(jì)算并描畫過程均值和控制限； ? 確保當(dāng)與新的控制限相比時，所有的數(shù)據(jù)點(diǎn)都處于受控狀態(tài)，如有必要，重復(fù) 判定 /糾正 /重新計(jì)算 的程序。 37 科 華 咨 詢 C 延長控制限繼續(xù)進(jìn)行控制 ? 當(dāng)控制圖上的點(diǎn)處于受控狀態(tài)并且 CPK大于 1時，將控制限應(yīng)用于制造過程控制，此時控制圖稱為 控制用控制圖 ； ? 將控制限畫在 控制用控制圖 中，用來繼續(xù)對工序進(jìn)行控制； ? 操作人員或現(xiàn)場檢驗(yàn)人員根據(jù)規(guī)定的取樣頻率和樣本容量抽取樣本組、 立即 計(jì)算 Xbar和 R并將其畫在控制圖中并與前點(diǎn)用短直線連接、 立即 應(yīng)用前述判定原則和標(biāo)準(zhǔn)判定工序是否處于受控狀態(tài)； ? 如工序處于非受控狀態(tài)，操作人員或現(xiàn)場檢驗(yàn)人員應(yīng) 立即 分析異常原因并采取措施確保工序恢復(fù)到受控狀態(tài)； ? 工序質(zhì)控點(diǎn)的控制圖應(yīng)用的“ 三立即 ”原則； ? 工序質(zhì)控點(diǎn)的控制圖出現(xiàn)異常情況的處理 20字方針是“ 查出異因，采取措施，加以消除，不再出現(xiàn)，納入標(biāo)準(zhǔn) ”。 38 科 華 咨 詢 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì) 算 過 程的 標(biāo)準(zhǔn) 偏差 D2計(jì) 算 過 程能力 D3評價過 程能力 D4提高 過 程能力 D5對 修改的 過 程 繪 制控制 圖并 分析 步 驟 D： 39 科 華 咨 詢 D 計(jì) 算 過 程的 標(biāo)準(zhǔn) 偏差 ： ? 使用平均極差 Rbar來估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差： ? d2是 隨樣本容量變化的常數(shù)，見附錄《控制圖的常數(shù)和公式表》。 2?dR=?40 科 華 咨 詢 D 計(jì) 算 過 程能力 ： ? 過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值與規(guī)范界限的距離，用 Z表示； ? 對單邊公差，計(jì)算： ? 對于雙向公差，計(jì)算： ? Z為 ZUSL或 ZLSL的最小值。 X USL Z = ? 或 Z = X LSL ? X USL ZUSL = ? 或 ZLSL = X LSL ? ? 使用 Z值和附錄《標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表》來估計(jì)多少比例的 產(chǎn)品會超出規(guī)范值： ? 注： USL為公差上限或 LSL為公差下限。 41 科 華 咨 詢 范例：過程能力計(jì)算 ? 假設(shè)，現(xiàn)有一過程，已知 USL=10， LSL=7，X（ bar） =8， σ=，求這一過程的不合格率大致是多少？ 42 科 華 咨 詢 課堂練習(xí)： ? 請 依 照 上 個課堂練習(xí) 的 數(shù)據(jù) ， 計(jì) 算下列的各項(xiàng) 指 標(biāo)結(jié) 果 ： ? ZUSL和 PZUSL； ? ZLSL和 PZLSL； ? Z和 PZ。
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