實際操作要點ppt課件(編輯修改稿)
2025-02-08 11:35 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 B 1 FT B 1單個缺陷波形 密集缺陷波形 e. 缺陷測定和記錄 ? 單個缺陷： 5個參數(shù)（ X、 Y、 H、 Amax、 BF ）： ? 平面位置 X、 Y，深度 H，缺陷幅度值 Amax 、缺陷處底波分貝值 BF。 ? 測定方法： ?X、 Y、 H：最大幅度傷波處，探頭中心和儀器讀數(shù) ?Amax：傷波的最大幅度處，將波幅調(diào)到基準高度（ 80%滿刻度）后讀取增益值 dBF； ?BF：在傷波的最大幅度位置處，將底波波幅調(diào)到基準高度（ 80%滿刻度）后讀取增益分貝值 BF ； ? 密集缺陷： 8個參數(shù)（ X、 Y、 H、 Amax、 BF、 L、 H、 S） ? 最高缺陷波幅處的平面位置 X、 Y，深度 H、缺陷幅度值 Amax，缺陷長度 L、寬度 H，面積 S，底波降低量 BF。 ? 測定方法： ?X、 Y、 H、 Amax：探測到密集缺陷范圍內(nèi)的最大幅度傷波位置處，將波幅調(diào)整到基準高度（ 80%滿刻度）后讀取 X、 Y、 H和增益分貝值（ dBF）。 ?S：先探測密集缺陷中位于各方向上的外圍缺陷，探測方法為將探頭從無缺陷處向密集缺陷內(nèi)移動，以最先發(fā)現(xiàn)的缺陷波，并找到其最大的幅度，調(diào)整到基準高度（ 80%滿刻度）后向外移動探頭，采用 6dB法測定缺陷的邊界點（探頭的中心位置），然后將各邊界點連成包絡(luò)線，測定密集缺陷尺寸和計算缺陷的面積 S。 ?BF：在密集缺陷范圍內(nèi)，找到底波幅度最小的位置，將底波波幅調(diào)整到基準高度（ 80%滿刻度）讀取增益分貝值 BF 3. 填發(fā)檢驗報告 a. 表格中需填寫的內(nèi)容 b. 檢測結(jié)果 ? 單個缺陷：平面位置 X、 Y，深度 H，缺陷當量值 Amax，底波降低量 BG/BF。 ? 密集缺陷：其中最大缺陷當量的平面位置 X、 Y，深度 H，缺陷當量 Amax， 缺陷面積的百分比 SF/S%、缺陷范圍內(nèi)的最大的底波降低量 BG/BF。
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