emc基礎(chǔ)培訓(xùn)ppt課件(編輯修改稿)
2025-02-06 14:20 本頁(yè)面
【文章內(nèi)容簡(jiǎn)介】 形成一靜電場(chǎng)，對(duì)設(shè)備進(jìn)行干擾。 模擬設(shè)備抗靜電場(chǎng)干擾的能力 16 ESD： 靜電槍內(nèi)部電路 ? 因靜電的上升沿非常短、且靜電槍上的高壓開關(guān)非常昂貴，所以靜電搶的價(jià)格不菲，目前市場(chǎng)上比較常見的靜電搶主要都為進(jìn)口貨。 17 ESD：靜電槍實(shí)物（ ESD simulator） 18 EFT/B： Electrical fast transient burst ? EFT/B：電快速瞬變脈沖群 模擬設(shè)備附近或設(shè)備所在的電網(wǎng)中發(fā)生切斷感性負(fù)載時(shí)導(dǎo)致的脈沖干擾。 ? 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： IEC 6100044。 ? EFT/B波形及主要參數(shù) 雙指數(shù)脈沖 15ms脈沖串 (5kHz) 脈沖串間隔是300ms 上升沿： 5ns 脈寬： 50ns 干擾覆蓋頻率： 60至 100MHz 19 EFT/B： 試驗(yàn)介紹 EFT/B試驗(yàn)包含兩個(gè)部分 ? 電源端試驗(yàn) 使用耦合去耦網(wǎng)絡(luò)（ CDN）進(jìn)行注入。 ? 信號(hào)端試驗(yàn) 使用容性耦合夾進(jìn)行干擾耦合，具體 試驗(yàn)做法為使信號(hào)線從容性耦合夾中穿過 因?yàn)槿菪择詈蠆A和信號(hào)線之間存在分布電容（ 33至 200pF），從而使得干擾被注入至信號(hào)線內(nèi)部。 受試設(shè)備 輔助設(shè)備 信號(hào)源 容性耦合夾 信號(hào)源 受試設(shè)備 輔助設(shè)備 耦合 去耦 20 EFT/B： 試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng) 容性卡鉗距參考地 100mm,輪流卡每根電纜 EUT與參考地平面之間的距離大于100mm 參考地平面的每個(gè)邊要超出EUT100mm并與大地相連 EUT與發(fā)生器或卡鉗之間的電源線或信號(hào)線長(zhǎng)度小于 1米 脈沖群信號(hào)源 連輔助設(shè)備與端接 21 DIP/interruptions： 試驗(yàn)介紹 ? DIP/interruptions：該試驗(yàn)主要是模擬交流電網(wǎng)中接入大功率設(shè)備引起的電網(wǎng)電壓下降甚至短時(shí)中斷的現(xiàn)象，考察設(shè)備在處于這種工作狀態(tài)中的性能穩(wěn)定性。 ? 交流測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： IEC 61000411。 ? 直流測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)： IEC 61000429。 跌落深度 持續(xù)時(shí)間 性能判據(jù) 70％ 500ms C 40% 200ms C 0 10ms B 0 5s C 試驗(yàn)組合 22 DIP/interruptions： 試驗(yàn)介紹（續(xù)） ? 試驗(yàn)儀器控制試驗(yàn)的跌落深度、持續(xù)時(shí)間以及跌落相位。 ? 其中相位為 0176。 、 45 176。 、 90 176。 、 135 176。 、 180 176。 、 225 176。 、 270 176。 、 315 176。 、 360 176。 。 試驗(yàn)儀器 電源 電源 受試設(shè)備（ EUT） 23 DIP/interruptions： 試驗(yàn)現(xiàn)場(chǎng) 24 Surge： 浪涌試驗(yàn) 浪涌試驗(yàn)用來模擬自然雷擊或者電網(wǎng)中接入大容性負(fù)載時(shí)所產(chǎn)生的脈沖對(duì)設(shè)備的影響。包含電源
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