[工學]復習思考題及解答(編輯修改稿)
2025-02-04 20:09 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 列。 二維晶格像與二維結(jié)構(gòu)像都是使入射電子束方向與晶體樣品的某一低指數(shù)晶向平行得到的。其中，二維晶格像 可利用 透射束與兩個不同方向上的衍射束干涉獲得，二維結(jié)構(gòu)相是利用透射束與所有的衍射束干涉獲 得。 4. 為什么說選區(qū)電子衍射具有選區(qū)不對應(yīng)性，如何消除。 選區(qū)電子衍射是在物鏡的后焦面上插入選區(qū)光闌，套住感興趣區(qū)，得到選區(qū)晶體的電子衍射花樣。 選區(qū)光闌與一次放大像不共面 、 散焦 、 球差 等均會 引起的 選區(qū) 不對應(yīng)性 ，選區(qū)不對應(yīng)性是選區(qū)電子衍射不可避免的。 納米束衍射、聚焦電子束衍射、會聚束衍射、掃描束衍射等方法可消除選區(qū)不對應(yīng)性。 5. 電子衍射與 X射線衍射有何異同。 6. X射線衍射宏觀應(yīng)力與微觀應(yīng)力測試原理分別是什么 宏觀應(yīng)力是指在材料內(nèi)部大范圍存在的殘余應(yīng)力。宏觀應(yīng)力將造成晶體產(chǎn)生彈性變形，導致晶面間距出現(xiàn)微小 的變化，在 X 射線衍射譜上表現(xiàn)出衍射峰位置的移動。通過檢測衍射峰的位置改變，可計算宏觀應(yīng)力的大小和方向。 微觀應(yīng)力是指在 晶粒間或晶粒內(nèi)部存在的殘余應(yīng)力。微觀應(yīng)力將造成晶體的晶格畸變，在 X射線衍射譜上表現(xiàn)出衍射峰寬化，通過檢測衍射峰的半高寬可分析微觀應(yīng)力的大小，但要消除晶粒細化所引起的衍射峰寬化。 7. X射線衍射晶粒尺寸測定原理是什么。 X射線衍射峰的寬度與晶粒大小有關(guān)， 在納米尺度下， 隨晶粒尺寸減小，衍射峰寬度增加。衍射峰的寬度 通常 用半高
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