表面處理方面的資料光澤(編輯修改稿)
2025-02-03 00:34 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 角測量；而當(dāng)樣品光澤低于 10%時則應(yīng)用 85176。 角測量。為便于精確測量，對以 60176。 角所測光澤低于 30%時，也可用 85176。 角測量，如圖 634 所示。在測量高光澤時，把儀器放在樣品上，只要按下操作(operate)鈕，便可在同一位置上得到 20176。 角和 60176。 角測量的兩個數(shù)據(jù)，并可測得平均值和標(biāo)準(zhǔn)偏差等。 迄今，我國已先后制定了兩項漆膜測定的方法國標(biāo)。在國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 174379（ 89）《漆膜光澤測定法》中，規(guī)定采用固定的 45176。 角光電光澤計測量。在八十年代末制定的國家標(biāo)準(zhǔn) GB/T 975488《色漆和清漆 不含金屬顏料的色漆漆膜之20176。 、 60176。 和 85176。 鏡面光澤的測定》（等效采用 ISO 28131978）中，規(guī)定了與 ISO 相一致、以 20176。 、 60176。 、 85176。 的幾何角度測定漆膜鏡面光澤的方法，成為目前我國漆膜光澤測定的技術(shù)規(guī)范和光澤計開發(fā)的設(shè)計依據(jù)。標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了對每種幾何角度的光澤計必須至少配備經(jīng)計量部門鑒定合格的兩塊光澤度不同的工作標(biāo)準(zhǔn)板，并對漆膜光澤測定的校準(zhǔn)方式、測量次數(shù)、讀數(shù)偏差、數(shù)據(jù)記錄做出評實嚴(yán)格的規(guī)定。 鏡向光澤計的開發(fā)現(xiàn)狀 漆膜表面光澤測定技術(shù)的不 斷進步，賴于國際上新興涂料開發(fā)、標(biāo)準(zhǔn)化事業(yè)進程和多種光、電元器件創(chuàng)新及微電子技術(shù)的發(fā)展與應(yīng)用。因此，尤以近二十年來，光澤計的開發(fā)經(jīng)歷了如下技術(shù)沿革，主要體現(xiàn)在： 入射角度由固定的單一角度發(fā)展為一機多角度測量。 制式結(jié)構(gòu)從臺式向便攜式、日趨微型化發(fā)展。 測量值由表頭指示、液晶數(shù)顯拓展至數(shù)據(jù)打印。 測控功能從單一測量、具有部分統(tǒng)計功能趨向智能化。 檢測方式從靜態(tài)測定發(fā)展到
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