nas：半導體測序助力胎兒遺傳病檢測(編輯修改稿)
2025-02-01 03:06 本頁面
【文章內容簡介】 劑通過繼承的流體通路進入芯片中，密布于芯片上的反應孔立即成為上百萬個微反應體系。這種獨特的流體體系、微體系機械設計和半導體技術的組合，使得研究人員能夠在兩個多小 時內獲取從 10Mb到 1Gb以上高精確度序列。 只需抽取孕婦 2毫升血樣，就能診斷與染色體異常有關的先天缺陷，包括最常見的唐氏綜合征、導致形體和器官多種異常的愛德 華氏綜合征等。這項研究的負責人、加州大學圣迭戈分校遺傳醫(yī)學研究所所長KangZhang說，這種高通量測序技術，能一次對幾十萬到幾百萬條 DNA（脫氧核糖核酸）進行 序列測定。可把診斷提前到懷孕第 9周，4天便能出結果，準確率也非常高。 半導體測序在產(chǎn)前檢測中的優(yōu)點：迅速、便捷、成本低 近來基于大規(guī)模平行測序的方法已經(jīng)促進 了迅速的、非侵入式的出生前遺傳測試，這種測試通過分析母親血漿中流動的無細胞 DNA從而測試，被稱為非整倍性的染色體拷貝數(shù)的異常。 這項研究中的基于半導體的實驗臺 測序平臺
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