【文章內(nèi)容簡介】 表 43 電容參數(shù)測試結(jié)果 電容 引腳 引腳 Uf 103J 3 1 473J 3 1 474 3 1 3 1 220uF 3 1 uF 330uF 3 1 11 表 44 半導(dǎo)體元件參 數(shù)測試結(jié)果 元件 型號 引腳 引腳 引腳 C8550 PNP B=2 C=3 E=1 Hfe=218 Uf=893mV 8050D NPN B=2 C=3 E=1 Hfe=158 Uf=805mV A1015 PNP B=1 C=2 E=3 Hfe=653 Uf=785mV 9015 PNP B=1 C=2 E=3 Hfe=762 Uf=780mV E1300S NPN B=1 C=2 E=3 Hfe=51 Uf=648mV 6N60 NEMOS C= GDS=123 Vt=4080mV 由于使用的采樣電阻不是很精確，在焊接上也存在導(dǎo)線的內(nèi)阻，因此在對 電阻器電容器 的測量上隨著參數(shù)的增加精確度也隨之降低。 而對半導(dǎo)體元件參數(shù)的測量可以準確的測量出元件的型號與引腳排布。 第 2 節(jié) 誤差分析 誤差 ， 在任何一種測量中，無論所用儀器多么精密，方法多么完 善，實驗者多么細心，所得結(jié)果常常不能完全一致而會有一定的誤差或偏差。嚴格地說，誤差是指觀測值與真值之差，偏差是指觀測值與平均值之差。但習(xí)慣上常將兩者混用而不加區(qū)別。根據(jù)誤差的種類、性質(zhì)以及產(chǎn)生的原因，可將誤差分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過失誤差三種 [6]。 在本設(shè)計中 系統(tǒng)誤差 就是在信號輸入的部分的 680Ω 電阻 470KΩ 電阻的精度上，因為在實驗室沒有精度那么高的電阻，因此采用了阻值比較接近的電阻代替，從而產(chǎn)生了系統(tǒng)誤差。偶然誤差和過失誤差的產(chǎn)生在于對電路的焊接與測量得方法上，在焊接過程中必然導(dǎo)致線路阻值對電路的影響 。在測量過程中，電子元件的引腳與插座之間的接觸不良或是懸空也對產(chǎn)生偶然誤差和過失誤差 [7]。 12 結(jié) 論 本文論述了 基于 AT mega 8 單片機 的 電子元件 測試儀 的原理，實現(xiàn)了晶體管的數(shù)據(jù)、信息的顯示。闡述了 AT mega 8 單片機 的基本原理和測量過程中的數(shù)據(jù)傳送方式。在單片機方面針對 ATmega 8 單片機 ADC 端口的特點、工作原理、數(shù)據(jù)采集的控制，各種工作方式等問題進行了講解。數(shù)據(jù)采集介紹了如何在單片機與硬件電路的連接，闡述了如何利用 ADC 模塊 來進行數(shù)據(jù) 采集 ，保證通信過程不出現(xiàn)邏輯紊亂。 經(jīng)過一段 時間的收集資料，我的設(shè)計終于完成，看著自己的成果，有說不出的感觸。經(jīng)過這段時間的努力，對我所學(xué)知識有了系統(tǒng)的總結(jié)。在本設(shè)計中，我主要是說明它的原理和應(yīng)用，然后針對 半導(dǎo)體器件 、電容、電阻的測量實現(xiàn)測量功能，讓我學(xué)會了分析問題、處理問題的方法，為以后的工作學(xué)習(xí)打下了比較堅實的基礎(chǔ)。 總之，在設(shè)計過程學(xué)到了許多，作為現(xiàn)代的大學(xué)生，如果僅僅停留在以往的書面層次上，是遠遠跟不上時代步伐的，也無法使自己立足在競爭如此激烈的社會里 。 通過對本課題的研究，讓我看到了自己的水平和差距，使我受益匪淺。 13 參考文獻 [1] 耿德根 ， 宋建國 ， 馬潮等 ， AVR 高速嵌入式單片機原理與應(yīng)用（修訂版） [M]， 北京： 北京航空航天大學(xué)出版社， （ 2021） ： 185190 [2] 江海波 ， 王卓然 ， 耿德根 ， 深入淺出 AVR [M]，北京：中國電力出版社，（ 2021）：612 [3] 沈文 ， Eagle lee， 詹衛(wèi)前， AVR 單片機 C 語言開發(fā)入門指導(dǎo) [M]，北京：清華大學(xué)出版社，（ 2021）： 216 [4] 馬潮 ， 詹衛(wèi)前 ， 耿德根 ， ATmega 8 原理及應(yīng)用手冊 [M]，北京：清華大學(xué)出版社，（ 2021）： 111 [5] RichardBart, Larry O’Cull，嵌入式 C 編程與 Atmel AVR [M]， Ssrsh Cox， 周俊杰等譯，北京：清華大學(xué)出版社，（ 2021）： 111 [6] 李明生 ， 電子測量與儀器 [M]，北京： 高等教育出版社 ，（ 2021）： 215225 [7] 劉建清，劉漢文，尋李波，魯金， 從零開始學(xué)電子測量技術(shù) [M]， 北京： 國防工業(yè)出版社，（ 2021）： 28 14 附 錄 、 BJT 的 真值表 與 FET 的真 值表 附 表 11 FET2 的真值表 設(shè)置 X 0 0 0 1 1 1 狀態(tài)字 Y 0 1 1 0 0 1 Z 1 0 1 0 1 0 N M O S X √ √ √ 0X13 Z Y X √ √ √ 0X23 Y Z Y √ √ √ 0X0D Z X Y √ √ √ 0X29 X Z Z √ √ √ 0X0E Y X Z √ √ √ 0X19 X Y P M O S X √ √ √ 0X32 Z Y X √ √ √ 0X31 Y Z Y √ √ √ 0X2C Z X Y √ √ √ 0X25 X Z Z √ √ √ 0X1C Y 15 附表 12 BJT 的真值表 X Z √ √ √ 0X16 X Y 設(shè)置 X 0 0 0 1 1 1 狀態(tài)字 Y 0 1 1 0 0 1 Z 1 0 1 0 1 0 二極管 X √ 0X20 Y Y √ 0X10 X X √ 0X2 Z Z √ 0X1 X Y √ 0X8 Z Z √ 0X4 Y 電阻 X √ √ 0X30 Y X √ √ 0X03 Z Y √ √ 0X0C Z N P X/Y √ √ 0X18 X Y/Z X/Z √ √ 0X22 Y 16 附表 13 FET 的真值表 2． 判斷程序如下 N Z/X X/Y √ √ 0X5 Z Y/X P N P X/Z √ √ 0X25 Y Z/X Z/Y √ √ 0X1C X Y/Z X/Y √ √ 0X16 Z Y/X 設(shè)置 X 0 0 0 1 1 1 狀態(tài)字 Y 0 1 1 0 0 1 Z 1 0 1 0 1 0 N — J F E T Y √ √ √ √ √ 0X3d X/Z Z/X X √ √ √ √ √ 0X37 Y/Z Z/Y Z √ √ √ √ √ 0X3e X/Y Y/X P _ J F E T Y √ √ √ √ √ 0X2f X/Z Z/X X √ √ √ √ √ 0X3b Y/Z Z/Y Z √ √ √ √ √ 0X1f X/Y Y/X 17 Code unsigned char DIODETABLE[6]={0x12,0x6,0x24,0x21,0x18,0x09}。 // 對應(yīng) X Y Z 為 10Z 01Z Z10 Z01 1Z0 0Z1 Code unsigned char DIODEVOLTAGETABLE[6]={VY2,VX2,VZ2,VY2,VZ2,VX2}。 //該狀態(tài)下需要讀取的 AD 通道 state=0。 for(i=0。i12。i++) SetPortZ(i)。 //設(shè)置所有輸出為高阻 //下面設(shè)置 X Y Z分別輸出 0 1 Z(共 6種組合 ),得到被測管狀態(tài) ,根據(jù)狀態(tài)判斷被測管是啥類型 引腳如何 for(i=0,state2=0x20。i6。i++) {vH=DIODETABLE[i]。 SetPort(PZ1,vHamp。0x3)。 vH=2。 SetPort(PY1,vHamp。0x3)。 vH=2。 SetPort(PX1,vHamp。0x3)。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 vH=ADC_DATA。 if (vH0) state |=state2。 // if vH0 說明 Vh 已經(jīng)大 于 20mV 了，即已經(jīng)導(dǎo)通了。 else { SetPortZ(PX1)。 //但如果接的是很大阻值的電阻，那么 470 上的電壓很低，也會少于 20mV，以為沒導(dǎo)通，所以撤換成 R=120K 再測量。 SetPortZ(PY1)。 SetPortZ(PZ1)。 vH=DIODETABLE[i]。 SetPort(PZ2,vHamp。0x3)。 //切換到 120K vH=2。 18 SetPort(PY2,vHamp。0x3)。 vH=2。 SetPort(PX2,vHamp。0x3)。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 vH=ADC_DATA。 if (vH3) state |=state2。 // if vH3 mean vH more then 3*4*5mV=60mV SetPortZ(PX2)。 SetPortZ(PY2)。 SetPortZ(PZ2)。 } state2=1。 } Switch (state) {case 0x22: // NPN X=B NPN 管 基極是 X state2=1。 if (TestBJT(1,PinX,PinY,PinZ,amp。VBE,amp。HFE,amp。IC)) //嘗試 BCE