【正文】 vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$U*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$U*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gjqv^$UE9wEwZQcUE% amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn% Mz 849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK!zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE% amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn%Mz84! z89Am v^$UE9wEwZQcUE%amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc ^vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE% amp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gjqv^$UE9wEwZQcUE% amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK!zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE% amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr W wc^vR9CpbK! zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。cdPq 9JWKf wvGt YM*Jgamp。 case 0x18: // NPN B=Y state2=1。 if (vH3) state |=state2。 // if vH0 說明 Vh 已經(jīng)大 于 20mV 了，即已經(jīng)導(dǎo)通了。i12。 在本設(shè)計(jì)中 系統(tǒng)誤差 就是在信號(hào)輸入的部分的 680Ω 電阻 470KΩ 電阻的精度上，因?yàn)樵趯?shí)驗(yàn)室沒有精度那么高的電阻，因此采用了阻值比較接近的電阻代替，從而產(chǎn)生了系統(tǒng)誤差。 LCD1602 的 背燈電源 為 15 腳背光正極， 16 腳背光負(fù)極。 引腳 XTAL1 為 反向振蕩放大器與片內(nèi)時(shí)鐘操作電路的輸入端 。其輸出緩沖器具有對稱的驅(qū)動(dòng)特性，可以輸出 和吸收大電流。 圖 21 系統(tǒng)整體框圖 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明 電子元件測試 系統(tǒng)原理圖 圖 22 為系統(tǒng)原理圖，原理圖中 ATmega 8 單片機(jī) 為整個(gè)系統(tǒng)的核心部分，系統(tǒng)中 ， 主控制器 ATmega 8 單片機(jī) 顯示模塊 LCD1602 鍵盤 測試模塊 晶體管 檢測模塊 系統(tǒng)電源模塊 5 程序是假設(shè) IO 口輸出 1 時(shí)，其端口電壓肯定為 0，無論其輸出多少電流。 方案三：選用 ATmega 8 單片機(jī)， 在測量 時(shí) 使用其 內(nèi)部 ADC 端口采集數(shù)據(jù)后 對數(shù)據(jù)進(jìn)行 判斷 ，進(jìn)而得出 被測對象類型及具體參數(shù)。 ATmega 8 單片機(jī) 繼承了 C51 單片機(jī)和 PIC 單片機(jī)，運(yùn)行速度快 、 功能強(qiáng)大 的優(yōu)點(diǎn) ，是一款面向 C 語言編程的單片機(jī) [1]。在 應(yīng)用 設(shè)計(jì)實(shí)踐中，電子元件的測量是一個(gè)重要的發(fā)展方向。 關(guān)鍵詞 ： ATmega 8單片機(jī) ； 測試儀 ； LCD1602 II Abstract With the development of electronic technology, electronic ponents widely used in the measurement of the electronic ponents are increasingly important. Therefore, the design is reliable, safe, and convenient electronic ponents tester has a great practical necessity. In the hardware design of the system to ATmega 8 microcontroller as the core of the electronic ponent tester, the shock current charge and discharge the measurement of various parameters on the measured ponents. The system passed the test circuit, the signal input, take the average and other technology to get better test results. Able to plete these basic electronic ponents resistor capacitor test, but also most of the semiconductor device parameters of the test. The paper detailed the basic principles of the system, the hardware framework, the main circuit and software framework. On the subject of research helps to understand the performance of the various parameters of the electronic ponents and electronic ponents. In the largescale equipment design practice, the measurement of electronic ponents is an important direction of development. Key words: ATmega 8 MCU。 2 本設(shè)計(jì) 結(jié)構(gòu)非常簡單， 除了能夠測量 電阻器電容器等常用的基本元器件還能 識(shí) 別多 種 常用的 晶體管 ， 如 二極管 、 三極管 、 晶閘管 及場 效應(yīng)管 的功能。 3 方案選擇論證：在本次設(shè)計(jì)中，為了讓測量得更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定，系統(tǒng)的核心制作應(yīng)具有電路簡單、功能強(qiáng)大、可靠性高、便于擴(kuò)展等優(yōu)點(diǎn)，顯然用 ATmega 8 單片機(jī) 來制作的晶體管測試儀符合了體積小 、 使用方便 可靠性高等要求，可以滿足人們的要求。但實(shí)際上如果被拉的電流多了，該點(diǎn)電壓會(huì)下降的。作為輸入使用時(shí)，若內(nèi)部上拉電阻使能，端口被外部電路拉低時(shí)將輸出電流。 XTAL2 為 反向振蕩放大器的輸出端。圖 26為 LCD1602 的實(shí)物圖 。偶然誤差和過失誤差的產(chǎn)生在于對電路的焊接與測量得方法上，在焊接過程中必然導(dǎo)致線路阻值對電路的影響 。i++) SetPortZ(i)。 else { SetPortZ(PX1)。 // if vH3 mean vH more then 3*4*5mV=60mV SetPortZ(PX2)。 if (TestBJT(1,PinY,PinX,PinZ,amp。 6a*CZ7H$dq8Kqqf HVZFedswSyXTyamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn%Mz849Gx^Gj qv^$U*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 gTXRm6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YW v*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 gTXRm 6X4NGpP$vSTTamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am v^$UE9wEwZQcUE%amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gjqv^$UE9wEwZQcUE% amp。MuWFA5uxY7JnD6YWRr Wwc^vR9CpbK! zn%Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK! zn% Mz849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z8vGt YM*Jgamp。 ksv*3tnGK8! z89Am UE9aQGn8xp$Ramp。 UE9aQGn8xp$Ramp。HFE,amp。 SetPortZ(PZ2)。 SetPortZ(PY1)。i6。 12 結(jié) 論 本文論述了 基于 AT mega 8 單片機(jī) 的 電子元件 測試儀 的原理，實(shí)現(xiàn)了晶體管的數(shù)據(jù)、信息的顯示。程序的關(guān)鍵就是各種元件的真值表 ， 元件 真值表與 元件判斷程序見附錄。不使用 ADC 模塊 時(shí)，該引腳應(yīng)直接與 Vcc 連接。端口 B(PB7—— PB0)為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。使用LCD1602 作為顯示輸出， S1 為測試按鍵。 顯示模塊方案 顯示部分是測量系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互的重要模塊，準(zhǔn)確實(shí)時(shí)的顯示元件參數(shù)。 方案一： 測試儀由 NE555 和 R R C1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測晶體管組成的驅(qū)動(dòng)級構(gòu)成。 LCD1602 目 錄 摘 要 ....................................................................................................................................... I Abstract....................................................................................................................................II 目 錄 ....................................................................................................................................... I 第 1 章 電子元件測試系 統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 ........................................................ 1 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背景 ..................................................................................... 1 第 2 節(jié)