【正文】 v*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。MuWFA5uxY7JnD6YWRrWwc^vR9CpbK!zn% Mz849Gx^G89Am UE9aQGn8xp$Ramp。849Gx^Gj qv^$UE9wEwZQcUE%amp。 ksv*3t nGK8! z8vGt YM*Jgamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3tnGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3tnGK8! z89Am UE9aQGn8xp$Ramp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpazadNuKNamp。 ksv*3t nGK8! z89Am YWpa zadNuKNamp。ksv*3t nGK8!z89Am YWpazadNuKNamp。 UE9aQGn8xp$Ramp。ae39。 case 0x5: // NPN B=Z 3．實物圖 附 圖 11 實物圖 附 圖 12 電路板 20 項 目 經(jīng) 理項 目 副 經(jīng) 理 項 目 總 工 質(zhì) 安 總 監(jiān)工程管理部物資管理部技術(shù)管理部檢測試驗室質(zhì)安管理部監(jiān) 督 工 程 管 理部 、 物 資 管 理部 、 檢 測 試 驗 室現(xiàn) 場 質(zhì) 檢 員 、 施 工 員施 工 班 組 3N7N承 承 承 承 承 承 承承 承3S7S承 承 承 承 承 承承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 承承 承 承 承3S7S承 承 承 承 承 承承 承 承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 承承 承3S7S承 承 承 承 承 承承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 3S7S承 承 承 承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 承承 承 承 承3S7S承 承 承 承 承 承承 承 承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 承承 承 承3S7S承 承 承 承 承 承承 承 承 承3N7N承 3S7S承 承 承承 承 承3N7N承 承 承 承 承 承 3S7S承 承 承 承 承 承e39。HFE,amp。HFE,amp。 } break。VBE,amp。VBE,amp。 SetPortZ(PZ2)。 vH=ADC_DATA。 vH=2。0x3)。 SetPortZ(PY1)。 if (vH0) state |=state2。 SetPort(PX1,vHamp。 vH=2。i6。 for(i=0。 通過對本課題的研究，讓我看到了自己的水平和差距，使我受益匪淺。 經(jīng)過一段 時間的收集資料，我的設(shè)計終于完成，看著自己的成果，有說不出的感觸。 12 結(jié) 論 本文論述了 基于 AT mega 8 單片機 的 電子元件 測試儀 的原理，實現(xiàn)了晶體管的數(shù)據(jù)、信息的顯示。根據(jù)誤差的種類、性質(zhì)以及產(chǎn)生的原因，可將誤差分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過失誤差三種 [6]。 而對半導(dǎo)體元件參數(shù)的測量可以準確的測量出元件的型號與引腳排布。當被測晶體管接入電路后按下測試按鍵等待數(shù)秒后液晶上就會顯示該晶體管的具體參數(shù)，從而實現(xiàn)晶體管的測量。程序的關(guān)鍵就是各種元件的真值表 ， 元件 真值表與 元件判斷程序見附錄。 D0～ D7為 8 位雙向數(shù)據(jù)端。第 3 腳 是 V0 為液晶顯示器對比度調(diào)整端， 當 接正電源時對比度最弱，接地電源時對比度最高。圖 25 為 L7805實物圖。不使用 ADC 模塊 時，該引腳應(yīng)直接與 Vcc 連接。持續(xù)時間小于門限間的脈沖不能保證可靠復(fù)位 [4]。在復(fù)位過程中，即使系統(tǒng)時鐘還未起振，端口 D 處于高阻狀態(tài)。也可以用做其他不同的特殊功能 。端口 B(PB7—— PB0)為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。端口 C 為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。 ATmega8 單片機的特點如下：高性能、低功耗的 8 位 AVR 微控制器，先進的 RISC精簡指令集結(jié)構(gòu)先進的 RISC 結(jié)構(gòu) ， 130 條功能強大的指令，大多數(shù)為單時鐘周期指令 ，32 個 8 位通用工作寄存器工作在 16MHz 時，具有 16MIPS 的性能片內(nèi)集成硬件乘法器片內(nèi)集成了較大容量的非易失性程序和數(shù)據(jù)存儲器以及工作存儲器。 PC6 (RESET)1PD0 (RXD)2PD1 (TXD)3PD2 (INT0)4PD3 (INT1)5PD4 (XCK/T0)6VCC7GND8PB6 (XTAL1/TOSC1)9PB7 (XTAL2/TOSC2)10PD5 (T1)11PD6 (AIN0)12PD7 (AIN1)13PB0 (ICP)14PB1 (OC1A)15PB2 (SS/OC1B)16PB3 (MOSI/OC2)17PB4 (MISO)18PB5 (SCK)19AVCC20AREF21GND22PC0 (ADC0)23PC1 (ADC1)24PC2 (ADC2)25PC3 (ADC3)26PC4 (ADC4/SDA)27PC5 (ADC5/SCL)28U1ATmega816PIGND1VCC2VL3RS4RW5E6D17D28D39D410D511D612D713D814VCC15GND16P2LCD1602R12680RVCCC2104C1104112233Q278L05VCC9VR733KR1127KDS1LEDR1327KR15100KC3104S1SWR1010KR83K3R910KVCCVCCVCCR1680RR2470KR3680RR4470KR5680RR6470KR14680RVCC1 2P49V IN9V231S2POWERQ18550Q38050Q48050123J1CON3 圖 22 系統(tǒng)原理圖 主控制芯片 ATmega8 單片機的 介紹 AVR 的單片機可以廣泛應(yīng)用于計算機外部設(shè)備、工業(yè)實時控制、儀器儀表、通訊設(shè)備、家用電器等各個領(lǐng)域。使用LCD1602 作為顯示輸出， S1 為測試按鍵。系統(tǒng)框圖如圖 21。 方案二：使用內(nèi)部電池供電。 LCD1602 可以實現(xiàn)數(shù)據(jù)在其屏幕上用英文的形式顯示出來。 顯示模塊方案 顯示部分是測量系統(tǒng)中實現(xiàn)人機交互的重要模塊，準確實時的顯示元件參數(shù)。經(jīng)過這些部分的鏈接 將示波器的兩個通道 Y Y2 接到電路上就可以實現(xiàn)晶體管頻率特性的測量 。 TRIG2Q3R4CVolt5THR6DIS7VCC8GND1U1NE555R151KR2100KC1Q1PNPRP100KLSBBTL1 圖 11 NE555 晶體管測量儀 方案二： 采用 8 位單片機 AT89S52 作為系統(tǒng)核心 。若插上元件后無聲，說明元件已壞；若是聲小，說明 223。 方案一： 測試儀由 NE555 和 R R C1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測晶體管組成的驅(qū)動級構(gòu)成。本設(shè)計在眾多 型號 的單片機 中 選用了 ATMEL 公司開發(fā) ATmega 8 單片機。 本次設(shè)計采用 ATmega 8 單片機 為核心，測量 電子元器件的 參數(shù)，自動識別 電子元器件 的引腳并顯示在液晶上 ，當電子元器件取下后被測參數(shù) 鎖定在液晶上 ， 更 能 直觀的了解 電子元器件 的參數(shù)及好壞情況 ， 只需按一下測試按鈕， 即可進行下一次測量，完全實現(xiàn)了一鍵操作的功能。 一些 小型的電子元件測試 儀采用數(shù)字電路制作 ， 價格低廉 ， 但測量精度較低 ， 測量的參數(shù)種類較少 ， 而且 一般只能測量輸出特性 。 LCD1602 目 錄 摘 要 ....................................................................................................................................... I Abstract....................................................................................................................................II 目 錄 ....................................................................................................................................... I 第 1 章 電子元件測試系 統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 ........................................................ 1 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背景 ..................................................................................... 1 第 2 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的意義 ..................................................................................... 1 第 3 節(jié) 技術(shù)路線 ................................................................................................................. 1 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計與軟件設(shè)計 ................................................................................ 4 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)功能說明與組成 ..................................................................... 4 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明 ............................................................................................. 4 第 3 節(jié) 電子元件 的測量原理 ............................................................................................. 8 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖 ................................................................................................. 8 第 3 章 測試結(jié)果 .................................................................................................................. 10 第 1 節(jié) 參數(shù)測試結(jié)果 ....................................................................................................... 10 第 2 節(jié) 誤差分析 ............................................................................................................... 11 結(jié) 論 .................................................................................................................................... 12 參考文獻 ................................................................................................................................ 13 附 錄 .............................................................................................