【正文】 本科畢業(yè) 設(shè)計(jì) 基于 AT mega 8 單片機(jī) 的 電子 元件 測(cè)試儀 學(xué)生姓名： 學(xué) 號(hào)： 專 業(yè)： 電子信息工程 年 級(jí)： 2021 級(jí) 2 班 指導(dǎo)教師： The ATmega 8 microcontrollerbased electronic ponents tester Student name Student number Major Electronic Information Engineering Supervising teacher University I 摘 要 隨著電子科技的發(fā)展 ， 電子元器件的廣泛應(yīng)用，電子元器件的測(cè)量顯得愈來愈重要。 因此，設(shè)計(jì)可靠、安全、便捷的電子元件測(cè)試儀具有極大的現(xiàn)實(shí)必要性。 在系統(tǒng)的硬件設(shè)計(jì)中，以 ATmega 8單片機(jī) 為核心的電子元件測(cè)試儀 ， 使用對(duì)應(yīng)的震蕩電流對(duì)被測(cè)元件 進(jìn)行充放電 計(jì)算 實(shí)現(xiàn)各個(gè)參數(shù)的測(cè)量。 該系統(tǒng)通過 測(cè)試電路進(jìn)行信號(hào) 輸入，取平均等技術(shù)獲得較理想的測(cè)試結(jié)果。目前能夠完成 對(duì)電阻器電容器 這些基本電子元件 測(cè)試，還能對(duì)大部分半導(dǎo)體器件參數(shù)的測(cè)試。 論文 詳細(xì)說明該系統(tǒng)的基本原理、硬件框架、主要電路以及軟件框架。 對(duì)該課題的研究有助于了解電子元件的各個(gè)參數(shù)與電子元件的 優(yōu)劣 。在 應(yīng)用 設(shè)計(jì)實(shí)踐中，電子元件的測(cè)量是一個(gè)重要的發(fā)展方向。 關(guān)鍵詞 ： ATmega 8單片機(jī) ； 測(cè)試儀 ； LCD1602 II Abstract With the development of electronic technology, electronic ponents widely used in the measurement of the electronic ponents are increasingly important. Therefore, the design is reliable, safe, and convenient electronic ponents tester has a great practical necessity. In the hardware design of the system to ATmega 8 microcontroller as the core of the electronic ponent tester, the shock current charge and discharge the measurement of various parameters on the measured ponents. The system passed the test circuit, the signal input, take the average and other technology to get better test results. Able to plete these basic electronic ponents resistor capacitor test, but also most of the semiconductor device parameters of the test. The paper detailed the basic principles of the system, the hardware framework, the main circuit and software framework. On the subject of research helps to understand the performance of the various parameters of the electronic ponents and electronic ponents. In the largescale equipment design practice, the measurement of electronic ponents is an important direction of development. Key words: ATmega 8 MCU。 Tester。 LCD1602 目 錄 摘 要 ....................................................................................................................................... I Abstract....................................................................................................................................II 目 錄 ....................................................................................................................................... I 第 1 章 電子元件測(cè)試系 統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 ........................................................ 1 第 1 節(jié) 電子元件測(cè)試系統(tǒng)的背景 ..................................................................................... 1 第 2 節(jié) 電子元件測(cè)試系統(tǒng)的意義 ..................................................................................... 1 第 3 節(jié) 技術(shù)路線 ................................................................................................................. 1 第 2 章 系統(tǒng)硬件電路設(shè)計(jì)與軟件設(shè)計(jì) ................................................................................ 4 第 1 節(jié) 電子元件測(cè)試系統(tǒng)功能說明與組成 ..................................................................... 4 第 2 節(jié) 系統(tǒng)硬件配置及說明 ............................................................................................. 4 第 3 節(jié) 電子元件 的測(cè)量原理 ............................................................................................. 8 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖 ................................................................................................. 8 第 3 章 測(cè)試結(jié)果 .................................................................................................................. 10 第 1 節(jié) 參數(shù)測(cè)試結(jié)果 ....................................................................................................... 10 第 2 節(jié) 誤差分析 ............................................................................................................... 11 結(jié) 論 .................................................................................................................................... 12 參考文獻(xiàn) ................................................................................................................................ 13 附 錄 .................................................................................................................................... 14 致 謝 ...................................................................................................... 錯(cuò)誤 !未定義書簽。 1 第 1 章 電子元件測(cè)試 系統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 第 1 節(jié) 電子元件 測(cè)試 系統(tǒng)的背景 電子元件測(cè)試 儀是 電子設(shè)計(jì) 中應(yīng)用廣泛的 測(cè)試 儀器之一。 目前市場(chǎng)上存在多種電子元件測(cè)試儀 ， 普遍 用于觀察及測(cè)量電子元件各種輸入輸出特性 ， 其性能較好 、 精度較高 。 但 是 這些儀器一般采用模擬電路 制作 ， 制作復(fù)雜 ， 而且價(jià)格昂貴 。 一些 小型的電子元件測(cè)試 儀采用數(shù)字電路制作 ， 價(jià)格低廉 ， 但測(cè)量精度較低 ， 測(cè)量的參數(shù)種類較少 ， 而且 一般只能測(cè)量輸出特性 。 因此 本次設(shè)計(jì)了 一個(gè) 構(gòu)造簡(jiǎn)單，使用方便，精度高，自動(dòng)化程度高及成本低 的 電子元件測(cè)試 系統(tǒng)。 對(duì)于電阻器電容器這些基本電子元件通常采用電橋法測(cè)量其阻值 ，而對(duì) 晶體二極管、三極管、場(chǎng)效應(yīng)管、晶閘管 這些半導(dǎo)體電子 元器 無法 用電橋法測(cè)量其 各項(xiàng)參數(shù) ，所以一般使用 晶體管特性圖示儀和晶體管直流參數(shù)測(cè)試儀 測(cè)量半導(dǎo)體電子 元器 件的 各項(xiàng)參數(shù) 第 2 節(jié) 電子元件測(cè)試 系統(tǒng)的意義 隨著人們生活水平的提高 ，電子產(chǎn)品 DIY 的盛行，這些都需要對(duì)電子元件 參數(shù) 進(jìn)行較準(zhǔn)確測(cè)量 。 對(duì)于普通的電子愛好者來說需要一個(gè)體積小巧價(jià)格便宜的測(cè)量設(shè)備 ，所以就 制作一個(gè)適合電子愛好者使用的測(cè)量?jī)x器。 本次設(shè)計(jì)采用 ATmega 8 單片機(jī) 為核心，測(cè)量 電子元器件的 參數(shù)，自動(dòng)識(shí)別 電子元器件 的引腳并顯示在液晶上 ，當(dāng)電子元器件取下后被測(cè)參數(shù) 鎖定在液晶上 ， 更 能 直觀的了解 電子元器件 的參數(shù)及好壞情況 ， 只需按一下測(cè)試按鈕， 即可進(jìn)行下一次測(cè)量，完全實(shí)現(xiàn)了一鍵操作的功能。 通過本次 基于 AT mega 8 單片機(jī) 的 電子元件 測(cè)試儀 的制作 ，可以了解、熟悉有關(guān)單片機(jī)開發(fā)設(shè) 計(jì)的過程，提高單片機(jī)編程技巧，了解 I/O 控制情況和各個(gè)引腳的功能。能更好的掌握單片機(jī)的編程算法，提高編程技巧。 第 3 節(jié) 技術(shù)路線 單片機(jī)在實(shí)現(xiàn)電子產(chǎn)品智能化方面扮演著重要的角色。本設(shè)計(jì)在眾多 型號(hào) 的單片機(jī) 中 選用了 ATMEL 公司開發(fā) ATmega 8 單片機(jī)。 ATmega 8 單片機(jī) 繼承了 C51 單片機(jī)和 PIC 單片機(jī)，運(yùn)行速度快 、 功能強(qiáng)大 的優(yōu)點(diǎn) ，是一款面向 C 語言編程的單片機(jī) [1]。 2 本設(shè)計(jì) 結(jié)構(gòu)非常簡(jiǎn)單， 除了能夠測(cè)量 電阻器電容器等常用的基本元器件還能 識(shí) 別多 種 常用的 晶體管 ， 如 二極管 、 三極管 、 晶閘管 及場(chǎng) 效應(yīng)管 的功能。 系統(tǒng) 的 選擇方案與論證如下： 核心模塊的選擇 鑒于核心模塊 在 整個(gè)測(cè)量系統(tǒng)中的重要地位，這里給出了核心處理器的幾種設(shè)計(jì)方案，對(duì)各方案進(jìn)行詳細(xì)介紹，并從中選擇了一種適用于本次設(shè)計(jì)的方案。 方案一： 測(cè)試儀由 NE555 和 R R C1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測(cè)晶體管組成的驅(qū)動(dòng)級(jí)構(gòu)成?？蓽y(cè) NPN 三極管和 PNP 三極管的好壞，并估計(jì)其 223。值。振蕩器的震蕩頻率 f=(R1+2R2)C1， 圖示參數(shù)的震蕩頻率約為 850Hz。若插上元件后無聲，說明元件已壞；若是聲小，說明 223。低；聲音大，說明 223。高。 其原理圖如圖 11 所示。 TRIG2Q3R4CVolt5THR6DIS7VCC8GND1U1NE555R151KR2100KC1Q1PNPRP100KLSBBTL1 圖