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正文內(nèi)容

基于51單片機(jī)的電子器件測試儀的設(shè)計(jì)(編輯修改稿)

2025-04-21 12:42 本頁面
 

【文章內(nèi)容簡介】 器的值N=0~65535,為了測量的精度,N的取值一般在100~5000,當(dāng)電阻R越大,相應(yīng)的電容C的值就越小。所以我們?nèi)〔煌碾娮柚?,就可以得到不同的電容測量的量程。此次電容測量范圍的大小為10nF~10uF。 555芯片測試模塊設(shè)計(jì) 555測試模塊是用555時(shí)基電路構(gòu)成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路,單片機(jī)通過檢測其輸出電壓的高低來判斷555芯片的好壞。無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器是將555與三個(gè)阻、便構(gòu)成振蕩模式。此外,放電晶體被驅(qū)動(dòng)而導(dǎo)通,第七腳的輸出將電容C1經(jīng)電阻Rb放電,電容器的電壓就開始下降,直到降到觸發(fā)位準(zhǔn)1/3VCC。 無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器正反器再次被觸發(fā),導(dǎo)致第三腳輸出回到高態(tài),且放電晶體管截流,因此電容器C1再次經(jīng)由電阻Ra及Rb充電,當(dāng)重復(fù)這些動(dòng)作時(shí)就會產(chǎn)生振蕩,振蕩器的波形為三角波和方波。 無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器波形圖在檢測555芯片好壞時(shí),是將芯片引腳4接+5V。若555芯片是好的,則說明當(dāng)引腳4輸入高電平,引腳3輸出方波,單片機(jī)判斷出電壓的跳變并在顯示屏上顯示出555 can use。若555芯片是壞的,則說明當(dāng)引腳4輸入高電平,引腳3沒有方波輸出,單片機(jī)沒有判斷出電壓的跳變并在顯示屏上顯示出555 can39。t use。 555測試模塊原理圖 運(yùn)放741測試模塊設(shè)計(jì)741是通用高增益運(yùn)算放大器,應(yīng)用十分廣泛,具有雙列直插8腳或圓筒8腳封裝。工作電壓177。22V,差分電壓177。30V,輸入電壓177。18V。其中1腳和5腳是偏置(調(diào)零端),2腳是反向輸入端,3腳是正向輸入端,4腳接地,6腳是輸出,7腳接電源,8腳空腳。_+12345678 UA741引腳圖。若2腳反相輸入端電壓大于3腳正相輸入端電壓,則741T2口電壓為0,單片機(jī)通過檢測輸出電壓就能判斷出741是好的。若2腳反相輸入端電壓小于3腳正相輸入端電壓,則741T2口電壓還是0,單片機(jī)通過檢測輸出電壓就能判斷出741是壞的。 UA741內(nèi)部功能圖 741測試模塊原理圖 液晶顯示模塊設(shè)計(jì)液晶顯示模塊是用于顯示字母、數(shù)字、符號等點(diǎn)陣式LCD,本設(shè)計(jì)中采用1602字符型液晶顯示器。1602字符型液晶,它是一種專門用來顯示字母、數(shù)字、符號等的點(diǎn)陣型液晶模塊。它由若干個(gè)或者等點(diǎn)陣字符位組成,每個(gè)點(diǎn)陣字符位都可以顯示一個(gè)字符,每位之間有一個(gè)點(diǎn)距的間隔,每行之間也有間隔,起到了字符間距和行間距的作用,正因?yàn)槿绱怂运荒芎芎玫仫@示圖形。但是它由于微功耗、體積小、顯示內(nèi)容豐富、超薄輕巧,常用在袖珍式儀表和低功耗應(yīng)用系統(tǒng)中。LCD1602的基控制器大部分為HD44780,~,顯示容量為個(gè)字符。 LCD1602模塊原理圖其中4~~~,從而由單片機(jī)對其進(jìn)行控制。 LCD1602引腳接口說明表編號符號引腳說明編號符號引腳說明1VSS電源地9D2數(shù)據(jù)2VDD電源正極10D3數(shù)據(jù)3VL液晶顯示偏壓11D4數(shù)據(jù)4RS數(shù)據(jù)/命令選擇12D5數(shù)據(jù)5R/W讀/寫選擇13D6數(shù)據(jù)6E使能信號14D7數(shù)據(jù)7D0數(shù)據(jù)15BLA背光源正極8D1數(shù)據(jù)16BLK背光源正極 4 軟件設(shè)計(jì)系統(tǒng)程序設(shè)計(jì)中采用了流行的模塊編程方法,每一個(gè)功能程序模塊都能完成某一明確的任務(wù),實(shí)現(xiàn)具體的某個(gè)功能,如液晶顯示,鍵盤等。實(shí)際的應(yīng)用程序由一個(gè)主程序和多個(gè)子程序構(gòu)成。 主程序設(shè)計(jì)。開始上電延時(shí)1602初始化按鍵檢測延時(shí)按鍵彈起?開始檢測器件數(shù)據(jù)處理LCD1602顯示NY結(jié)束 主程序流程圖系統(tǒng)對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待被測器件的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到被測器件測試程序,否則一直等待按鍵。系統(tǒng)開始檢測器件,經(jīng)數(shù)據(jù)處理后,在液晶屏上顯示。 二極管測試程序設(shè)計(jì)二極管測試流程說明。對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待測二極管的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到此二極管測試測試程序,否則一直等待按鍵。開始上電延時(shí)1602初始化二極管鍵是否按下?讀取T1位,清屏1602NYT1=0?YN顯示 P顯示 N結(jié)束 二極管測試流程圖,則二極管導(dǎo)通,說明二極管正向,如果單片機(jī)檢測到高電平,則二極管截止,說明二極管反向。 741運(yùn)放測試程序設(shè)計(jì) 741測試流程說明。對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待741的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到此741測試程序,否則一直等待按鍵。開始上電延時(shí)1602初始化741鍵是否按下?T1=1 T2=0NY顯示ua741 can useT3=0?YNT1=0 T2=1T3=1?Y顯示ua741 can’t useN 741測試流程圖,當(dāng)T1=1,T2=,則再一次檢測,當(dāng)T1=0,T2=1時(shí),如果是說明741是好的,否則說明741是壞的。UA741程序設(shè)計(jì)如下:while(key2){ua741_out_x=1。 ua741_out_y=0。delay(200)。 if (ua741_in==0) { ua741_out_x=0。 ua741_out_y=1。 delay(200)。 if ( ua741_in==1) display(ua741 can use)。 else display(ua741 can39。t use)。 } else { display(ua741 can39。t use)。 } 三極管測試程序設(shè)計(jì)三極管測試流程說明。對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待測三極管的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到此三極管的測試程序,否則一直等待按鍵。開始上電延時(shí)1602初始化三極管鍵是否按下?NQ1(C)=1?YNQ1(C)=1?Q1(B)=1?YYNNYPNP PNPNPN 三極管測試流程圖,,則三極管是NPN型,否則三極管是PNP型。,,則三極管是PNP型,否則是NPN型。三極管測試程序如下:while(key3){ NPN_PNP_OUT=1。 delay(200)。 if (NPN_PNP_IN==1) { NPN_PNP_OUT=0。 delay(200)。display(NPN)。}else { NPN_PNP_OUT=0。 delay(200)。 if ( NPN_PNP_IN==1) display(PNP )。} delay5()。 } 555芯片測試程序設(shè)計(jì) 555芯片測試流程說明。對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待555的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到此555測試測試程序,否則一直等待按鍵。顯示555 can’t use開始上電延時(shí)1602初始化555鍵是否按下?清零中斷、標(biāo)志位中斷初始化,清屏1602GDFlag=0NYGDFlag=1顯示555 can useIE0=1?YN結(jié)束 555芯片測試流程圖555芯片測試是利用555時(shí)基電路構(gòu)成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路。,用于檢測外部中斷0的跳變,則外部中斷0的中斷標(biāo)志位置位,若返回GD_Flag=1,說明555芯片是好的;否則GD_Flag=0,說明555芯片是壞的。 電容測試程序設(shè)計(jì)。對單片機(jī)上電之后,有一個(gè)短暫的延時(shí)以保證MCU正常工作,然后對1602液晶顯示屏初始化,一直等待電容的按鍵按下,如果確定有按鍵按下則跳到此電容測試程序,否則一直等待按鍵。開始上電延時(shí)1602初始化電容鍵是否按下?啟動(dòng)555NY啟動(dòng)計(jì)數(shù)器計(jì)算電容的大小值有無中斷?YN有無中斷?停止計(jì)數(shù)顯示電容值YN電容鍵是否按下?YN 電容測試流程圖,利用555芯片和周邊電阻組合成一個(gè)無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路,通過測量方波的頻率來計(jì)算所測量的電容的大小。 5 調(diào)試與分析將編寫的C語言程序在KeiluVision2軟件上鏈接、編譯后,無誤,并給總電路圖中的單片機(jī)AT89C51加載程序進(jìn)行仿真,得到仿真結(jié)果如下所示。(1),其中(a)為二極管正向,(b)為二極管反向。 (a) (b) 二極管的仿真調(diào)試(2),其中(a)為NPN型,(b)為PNP型。 (a) (b) 三極管測仿真調(diào)試(3),(a)為芯片好的,(b)為芯片壞的。(a) (b) 555的仿真調(diào)試(4),(a)為芯片好的,(b)為芯片壞的。(a)
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