【正文】 else cap_t=0。} TR0=1。str[6]=temp%10+0x30。else display(555 can use)。 nCounter=0。t_cap=cap_t。 //20ms定時TL0=0xe0。} }void timer0() interrupt 1 { unsigned long t_ne555。}EX1=0。}EX1=0。 if ( NPN_PNP_IN==1)display(PNP )。delay(200)。} delay5()。else display(ua741 can39。if (ua741_in==0){ua741_out_x=0。delay(200)。delay(200)。delay(200)。delay(200)。EX0=0。 TR0=1。display( string)。delay(200)。delay(200)。delay(200)。i++。// 設置顯示位置為第一行的第5個字i = 0。//清屏幕指令，將以前的顯示內容清除delay(5)。//顯示模式設置：顯示開，有光標，光標閃爍delay(5)。delay(5)。//當E由高電平跳變成低電平時，液晶模塊開始執(zhí)行命令 }/*****************************************************函數功能：對LCD的顯示模式進行初始化設置***************************************************/void LcdInitiate(void){delay(15)。_nop_()。 _nop_()。E=0。//當E由高電平跳變成低電平時，液晶模塊開始執(zhí)行命令}/*****************************************************函數功能：指定字符顯示的實際地址入口參數：x***************************************************/ void WriteAddress(unsigned char x) { WriteInstruction(x|0x80)。_nop_()。_nop_()。_nop_()。//如果忙就等待RS=0。//空操作四個機器周期，給硬件反應時間 result=BF。//E=1，才允許讀寫 _nop_()。result=0，不忙***************************************************/ unsigned char BusyTest(void) { bit result。in。j33。 /*****************************************************函數功能：延時1ms(3j+2)*i=(333+2)10=1010(微秒)，可以認為是1毫秒***************************************************/void delay1ms(){unsigned char i,j。unsigned long cap_t=0。sbit NPN_PNP_IN=P3^0。sbit ua741_out_y=P3^1。sbit key3=P1^5。//讀寫選擇位，sbit E=P2^2。 總之，此次論文的寫作過程，我收獲了很多。對我的畢業(yè)設計給以很大的幫助，在此向張老師表示感謝。畢業(yè)設計，也是我大學生涯交上的最后一個作業(yè)了。本課題本著原理簡單，成本低的特點將為廣大師生在平時的電子設計中帶來便利。在本課題過程中，我遇到很多問題，如主控模塊控制芯片的選擇，測試模塊方案的對比研究。結束語畢業(yè)論文是一次非常好的將理論與實際相結合的機會，通過對電子元器件測試儀的課題設計，鍛煉了我的實際動手能力，增強了我解決實際工程問題的能力，同時也提高我查閱文獻資料、設計規(guī)范以及電腦制圖等其他專業(yè)能力水平。 電容測試數據標稱值(nF)系統(tǒng)測量(nF)相對誤差%10099500496100094350004716。 （a） （b） 三極管測仿真調試（3），（a）為芯片好的，（b）為芯片壞的。開始上電延時1602初始化電容鍵是否按下？啟動555NY啟動計數器計算電容的大小值有無中斷?YN有無中斷？停止計數顯示電容值YN電容鍵是否按下？YN 電容測試流程圖，利用555芯片和周邊電阻組合成一個無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路，通過測量方波的頻率來計算所測量的電容的大小。顯示555 can’t use開始上電延時1602初始化555鍵是否按下？清零中斷、標志位中斷初始化，清屏1602GDFlag=0NYGDFlag=1顯示555 can useIE0=1?YN結束 555芯片測試流程圖555芯片測試是利用555時基電路構成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路。 if ( NPN_PNP_IN==1) display(PNP )。 delay(200)。則三極管是PNP型，否則是NPN型。t use)。 if ( ua741_in==1) display(ua741 can use)。delay(200)。對單片機上電之后，有一個短暫的延時以保證MCU正常工作，然后對1602液晶顯示屏初始化，一直等待741的按鍵按下，如果確定有按鍵按下則跳到此741測試程序，否則一直等待按鍵。 二極管測試程序設計二極管測試流程說明。實際的應用程序由一個主程序和多個子程序構成。但是它由于微功耗、體積小、顯示內容豐富、超薄輕巧，常用在袖珍式儀表和低功耗應用系統(tǒng)中。若2腳反相輸入端電壓小于3腳正相輸入端電壓，則741T2口電壓還是0，單片機通過檢測輸出電壓就能判斷出741是壞的。18V。 555測試模塊原理圖 運放741測試模塊設計741是通用高增益運算放大器，應用十分廣泛，具有雙列直插8腳或圓筒8腳封裝。 無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器波形圖在檢測555芯片好壞時，是將芯片引腳4接+5V。 555芯片測試模塊設計 555測試模塊是用555時基電路構成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩電路，單片機通過檢測其輸出電壓的高低來判斷555芯片的好壞。T啟動T0停止T0555輸出的方波 簡單時序圖則電容的計算公式如式（）所示。 電容測試原理圖在前面的介紹中我們知道：555時基芯片的輸出頻率跟所使用的電阻R和電容C的關系如式（）所示。若處的電壓為5V，則VC=VB，Q1截止，所以Q1為PNP管。當單片機檢測出低電平時，說明二極管導通，顯示屏將顯示出P。上電復位的工作流程是在加電時，復位電路通過電容加給RST端一個短暫的高電平信號，這個高電平信號隨著VCC對電容的充電過程而慢慢回落，由此可以得到RST端的高電平持續(xù)時間由電容的充電時間決定。手動按鈕復位是需要人為的在復位輸入端RST上加入高電平（）。作為輸入時，由于外部下拉為低電平的緣故，P3口將輸出電流（ILL）這是由于上拉導致的。在給出地址“1”時，它能利用內部上拉的優(yōu)勢，對外部的八位地址數據存儲器進行讀寫時，P2口將輸出其特殊功能寄存器的內容。 P2口：P2口是一個內部上拉電阻的8位雙向I/O口，P2口緩沖器可以接收，輸出4個TTL門電流，在P2口被寫“1”時，其管腳就被內部上拉電阻拉高，且作為輸入。當P0口的管腳第一次寫1時，就被定義為高阻輸入。RST：復位輸入端。AT89C51是低功耗、高性能、經濟的8位CMOS微處理器，工作頻率為0Hz~24MHz，內置4K字節(jié)可編程只讀閃存， 16位可編程I/O總線。 主控模塊設計 在本課題中，由于單片機構成的應用系統(tǒng)有較大的可靠性，容易構建各種規(guī)模的應用系統(tǒng)，且應用系統(tǒng)具有較高的軟、硬件利用系數。 （3）方案三：采用LCD1602液晶顯示，液晶顯示屏顯示的功能強大，可顯示大量文字，圖形，顯示多樣，清晰可見。 顯示模塊設計方案與論證（1）方案一：采用LED數碼管動態(tài)掃描，LED數碼管價格適中，不要顯示比較多的數字時數碼管的使用必然會增多，連線方面會很麻煩，編程上也會相應的復雜。 式 （）當我們固定R的大小。這種方法中應用了555芯片組成的單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)器，在秒脈沖的作用下產生觸發(fā)脈沖，來控制門電路實現計數，從而確定脈沖時間，通過設計合理的電路參數，使計數值與被測電容相對應。當C上沖得的電壓Vc=Vr時，施密特觸發(fā)器翻轉，V0變?yōu)榈碗娖?，C又通過R放電，Vc下降。鑒于以上分析，我選擇方案二。 正弦半波法測試二極管電路圖（2）方案二：采用51單片機端口檢測。三極管的測試則采用IC17414的施密特6非門集成電路。綜上所述，雖然方案一與方案二整體的設計思路相差不大，但方案二更能充分利用芯片資源，且顯示更加直觀，所以我選擇方案二。轉換開關K2用于控制555振蕩信號加至741的同相端或反相端，前