【正文】 X Y P M O S X √ √ √ 0X32 Z Y X √ √ √ 0X31 Y Z Y √ √ √ 0X2C Z X Y √ √ √ 0X25 X Z Z √ √ √ 0X1C Y 15 附表 12 BJT 的真值表 X Z √ √ √ 0X16 X Y 設(shè)置 X 0 0 0 1 1 1 狀態(tài)字 Y 0 1 1 0 0 1 Z 1 0 1 0 1 0 二極管 X √ 0X20 Y Y √ 0X10 X X √ 0X2 Z Z √ 0X1 X Y √ 0X8 Z Z √ 0X4 Y 電阻 X √ √ 0X30 Y X √ √ 0X03 Z Y √ √ 0X0C Z N P X/Y √ √ 0X18 X Y/Z X/Z √ √ 0X22 Y 16 附表 13 FET 的真值表 2． 判斷程序如下 N Z/X X/Y √ √ 0X5 Z Y/X P N P X/Z √ √ 0X25 Y Z/X Z/Y √ √ 0X1C X Y/Z X/Y √ √ 0X16 Z Y/X 設(shè)置 X 0 0 0 1 1 1 狀態(tài)字 Y 0 1 1 0 0 1 Z 1 0 1 0 1 0 N — J F E T Y √ √ √ √ √ 0X3d X/Z Z/X X √ √ √ √ √ 0X37 Y/Z Z/Y Z √ √ √ √ √ 0X3e X/Y Y/X P _ J F E T Y √ √ √ √ √ 0X2f X/Z Z/X X √ √ √ √ √ 0X3b Y/Z Z/Y Z √ √ √ √ √ 0X1f X/Y Y/X 17 Code unsigned char DIODETABLE[6]={0x12,0x6,0x24,0x21,0x18,0x09}。闡述了 AT mega 8 單片機(jī) 的基本原理和測(cè)量過(guò)程中的數(shù)據(jù)傳送方式。 第 2 節(jié) 誤差分析 誤差 ， 在任何一種測(cè)量中，無(wú)論所用儀器多么精密，方法多么完 善，實(shí)驗(yàn)者多么細(xì)心，所得結(jié)果常常不能完全一致而會(huì)有一定的誤差或偏差。 Q1TESTR1470KR2470KR3470KR4680R5680R6680XYZPX1PX2PXPY1PY2PYPZ1PZ2PZ 圖 27 被測(cè)電路 第 4 節(jié) 主程序軟件流程圖 主程序功能是初始化及按鍵監(jiān)控。第 4 腳 為 RS 為寄存器選擇，高電平時(shí)選擇數(shù)據(jù)寄存器、低電平時(shí)選擇指令寄存器。使用 ADC 時(shí)應(yīng) 通過(guò)一個(gè)低通濾波器與 Vcc 連接。端口 D 也可以用做其他不同的特殊功能 。其輸出緩沖器具有對(duì)稱(chēng)的驅(qū)動(dòng)特性，可以輸出和吸收大電流。 具有 豐富強(qiáng)大的 6 外部接 口 性能 有 16 位定時(shí)／計(jì)數(shù)器 1 個(gè)具有獨(dú)立振蕩器的異步實(shí)時(shí)時(shí)鐘 ， 8 通道 A/D轉(zhuǎn)換（ TQFP、 MLF 封裝）， 6 路 10 位 A/D+2 路 8 位 A/D， 6 通道 A/D 轉(zhuǎn)換（ PDIP 封裝）， 4 路 10 位 A/D+2 路 8 位 A/D， 帶片內(nèi) RC 振蕩器的可編程看門(mén)狗定時(shí)器 ， 片內(nèi)模擬比較器 ， 可控制的上電復(fù)位延時(shí)電路和可編程的欠電壓檢測(cè)電路 ， 外部和內(nèi)部的中斷源 18 個(gè) 。 R11 為檢測(cè)供電電壓， R12 用來(lái)校準(zhǔn) ATmega 8 單片機(jī) 內(nèi)部 ADC。 方案三：外接電源與內(nèi)部電池 并用 。常用的顯示方案有以下幾種： 方案一：通過(guò)電平轉(zhuǎn)換芯片 MAX232 使該設(shè)計(jì)與電腦進(jìn)行數(shù) 據(jù)之間的傳輸，在 上位機(jī)界面 顯示測(cè)量結(jié)果。系統(tǒng)的輸入輸出特性測(cè)量和頻率特性測(cè)量部分各使用一片單片機(jī)控制 ?？蓽y(cè) NPN 三極管和 PNP 三極管的好壞，并估計(jì)其 223。 通過(guò)本次 基于 AT mega 8 單片機(jī) 的 電子元件 測(cè)試儀 的制作 ，可以了解、熟悉有關(guān)單片機(jī)開(kāi)發(fā)設(shè) 計(jì)的過(guò)程，提高單片機(jī)編程技巧，了解 I/O 控制情況和各個(gè)引腳的功能。 1 第 1 章 電子元件測(cè)試 系統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 第 1 節(jié) 電子元件 測(cè)試 系統(tǒng)的背景 電子元件測(cè)試 儀是 電子設(shè)計(jì) 中應(yīng)用廣泛的 測(cè)試 儀器之一。 該系統(tǒng)通過(guò) 測(cè)試電路進(jìn)行信號(hào) 輸入，取平均等技術(shù)獲得較理想的測(cè)試結(jié)果。目前能夠完成 對(duì)電阻器電容器 這些基本電子元件 測(cè)試，還能對(duì)大部分半導(dǎo)體器件參數(shù)的測(cè)試。 目前市場(chǎng)上存在多種電子元件測(cè)試儀 ， 普遍 用于觀察及測(cè)量電子元件各種輸入輸出特性 ， 其性能較好 、 精度較高 。能更好的掌握單片機(jī)的編程算法，提高編程技巧。值。 由芯片 ADC080運(yùn)放 OPA27 和 INA120 構(gòu)成 電壓采樣電路 ， 數(shù)控電流源采用了 DA 轉(zhuǎn)換芯片 DAC0832， 在電路中應(yīng) 用了 CMOS電流開(kāi)關(guān)和控制電路 來(lái)測(cè)量元件。 方案二： LCD1602 液晶能顯示 162 個(gè)字符，并且有 串行和并行 數(shù)據(jù)傳輸方式，可以通過(guò) 1602 液晶顯示元件的參數(shù)，可以滿足本設(shè)計(jì)的基本需求。 方案選擇論證： 通過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，我選擇了方案三，既使用外部電源和電池 并用 的方法給系統(tǒng)供電，在正常的情況下使用外接電源，在戶外或不便時(shí)通過(guò) 9V 電池對(duì)系統(tǒng)供電使用起來(lái)非常方便。根據(jù)實(shí)際測(cè)量值計(jì)算轉(zhuǎn)換因子。 最多 23 個(gè)可編程 I/O 口，可任意定義 I/O 的輸入 輸出方向；輸出時(shí)為推挽輸出，驅(qū)動(dòng)能力強(qiáng) ； 輸入口可定義為三態(tài)輸入，可以設(shè)定內(nèi)部 帶 上拉電阻，省去外接 電阻 [3]。作為輸入使用時(shí)，若內(nèi)部上拉電阻使能，端口被外部電路拉低時(shí)將輸出電流。 RESET 復(fù)位輸入引腳。 AREF 為 A/D的模擬基準(zhǔn)輸入引腳 [5]。第 5 腳 為 RW 為讀寫(xiě)信號(hào)線，高電平時(shí)進(jìn)行讀操作，低電平時(shí)進(jìn)行寫(xiě)操作。如 圖 32 所示，本設(shè)計(jì)程序流程圖 ， 本次設(shè)計(jì)采用了 ATmega 8 內(nèi)部 ADC 模塊實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析，最后取平均值，達(dá)到更精確。嚴(yán)格地說(shuō)，誤差是指觀測(cè)值與真值之差，偏差是指觀測(cè)值與平均值之差。在單片機(jī)方面針對(duì) ATmega 8 單片機(jī) ADC 端口的特點(diǎn)、工作原理、數(shù)據(jù)采集的控制，各種工作方式等問(wèn)題進(jìn)行了講解。 // 對(duì)應(yīng) X Y Z 為 10Z 01Z Z10 Z01 1Z0 0Z1 Code unsigned char DIODEVOLTAGETABLE[6]={VY2,VX2,VZ2,VY2,VZ2,VX2}。 SetPort(PZ1,vHamp。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 vH=DIODETABLE[i]。0x3)。 } Switch (state) {case 0x22: // NPN X=B NPN 管 基極是 X state2=1。IC)) //再嘗試 B E C 排列并測(cè)出參數(shù)， {Pin=2。 } Else if (TestBJT(1,PinY,PinZ,PinX,amp。A（萬(wàn)kWh）shg1Pshg1PshfPb b39。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkum amp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 qYpEh5pDx2zVkumamp。 QA9wkxFyeQ^! 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