【正文】 e39。 } else {Pin=3。HFE,amp。 } Else if (TestBJT(1,PinY,PinZ,PinX,amp。HFE,amp。 if (TestBJT(1,PinY,PinX,PinZ,amp。 } break。IC)) //再嘗試 B E C 排列并測出參數(shù)， {Pin=2。VBE,amp。IC)) //嘗試 BCE 如果管子可以測出參數(shù)，則 TestBJT 返回 1, 并測出參數(shù)寫在 VBE HFE IC 返回參數(shù)中 {Pin=1。VBE,amp。 } Switch (state) {case 0x22: // NPN X=B NPN 管 基極是 X state2=1。 SetPortZ(PZ2)。 // if vH3 mean vH more then 3*4*5mV=60mV SetPortZ(PX2)。 vH=ADC_DATA。0x3)。 vH=2。 18 SetPort(PY2,vHamp。0x3)。 vH=DIODETABLE[i]。 SetPortZ(PY1)。 else { SetPortZ(PX1)。 if (vH0) state |=state2。 GetADC(DIODEVOLTAGETABLE[i])。 SetPort(PX1,vHamp。0x3)。 vH=2。 SetPort(PZ1,vHamp。i6。i++) SetPortZ(i)。 for(i=0。 // 對應(yīng) X Y Z 為 10Z 01Z Z10 Z01 1Z0 0Z1 Code unsigned char DIODEVOLTAGETABLE[6]={VY2,VX2,VZ2,VY2,VZ2,VX2}。 通過對本課題的研究，讓我看到了自己的水平和差距，使我受益匪淺。在本設(shè)計中，我主要是說明它的原理和應(yīng)用，然后針對 半導(dǎo)體器件 、電容、電阻的測量實(shí)現(xiàn)測量功能，讓我學(xué)會了分析問題、處理問題的方法，為以后的工作學(xué)習(xí)打下了比較堅實(shí)的基礎(chǔ)。 經(jīng)過一段 時間的收集資料，我的設(shè)計終于完成，看著自己的成果，有說不出的感觸。在單片機(jī)方面針對 ATmega 8 單片機(jī) ADC 端口的特點(diǎn)、工作原理、數(shù)據(jù)采集的控制，各種工作方式等問題進(jìn)行了講解。 12 結(jié) 論 本文論述了 基于 AT mega 8 單片機(jī) 的 電子元件 測試儀 的原理，實(shí)現(xiàn)了晶體管的數(shù)據(jù)、信息的顯示。偶然誤差和過失誤差的產(chǎn)生在于對電路的焊接與測量得方法上，在焊接過程中必然導(dǎo)致線路阻值對電路的影響 。根據(jù)誤差的種類、性質(zhì)以及產(chǎn)生的原因，可將誤差分為系統(tǒng)誤差、偶然誤差和過失誤差三種 [6]。嚴(yán)格地說，誤差是指觀測值與真值之差，偏差是指觀測值與平均值之差。 而對半導(dǎo)體元件參數(shù)的測量可以準(zhǔn)確的測量出元件的型號與引腳排布。 圖 28 系統(tǒng)流程圖 開始 初始化 數(shù)據(jù)處理 AD 采樣 LCD1602 顯示 結(jié)束 有鍵按下？ 是 否 10 第 3 章 測試結(jié)果 第 1 節(jié) 參數(shù)測試結(jié)果 用本 套系統(tǒng)對實(shí)驗室現(xiàn)有的電子元器件進(jìn)行測量，相應(yīng)的數(shù)據(jù)如表 41 到 表 44 所示。當(dāng)被測晶體管接入電路后按下測試按鍵等待數(shù)秒后液晶上就會顯示該晶體管的具體參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)晶體管的測量。如 圖 32 所示，本設(shè)計程序流程圖 ， 本次設(shè)計采用了 ATmega 8 內(nèi)部 ADC 模塊實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析，最后取平均值，達(dá)到更精確。程序的關(guān)鍵就是各種元件的真值表 ， 元件 真值表與 元件判斷程序見附錄。圖 26為 LCD1602 的實(shí)物圖 。 D0～ D7為 8 位雙向數(shù)據(jù)端。第 5 腳 為 RW 為讀寫信號線，高電平時進(jìn)行讀操作，低電平時進(jìn)行寫操作。第 3 腳 是 V0 為液晶顯示器對比度調(diào)整端， 當(dāng) 接正電源時對比度最弱，接地電源時對比度最高。 LCD1602 采用標(biāo)準(zhǔn)的 16 腳接口，其中引腳說明如下：第1 腳 為 Vss 為電源地 。圖 25 為 L7805實(shí)物圖。 AREF 為 A/D的模擬基準(zhǔn)輸入引腳 [5]。不使用 ADC 模塊 時，該引腳應(yīng)直接與 Vcc 連接。 XTAL2 為 反向振蕩放大器的輸出端。持續(xù)時間小于門限間的脈沖不能保證可靠復(fù)位 [4]。 RESET 復(fù)位輸入引腳。在復(fù)位過程中，即使系統(tǒng)時鐘還未起振，端口 D 處于高阻狀態(tài)。其輸出緩沖器具有對 稱的驅(qū)動特性，可以輸出和吸收大電流。也可以用做其他不同的特殊功能 。作為輸入使用時，若內(nèi)部上拉電阻使能，端口被外部電路拉低時將輸出電流。端口 B(PB7—— PB0)為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。作為輸入使用時，若內(nèi)部上拉電阻使能，端口被外部電路拉低時將輸出電流。端口 C 為 8 位雙向 I/O 口，具有可編程的內(nèi)部上拉電阻。 最多 23 個可編程 I/O 口，可任意定義 I/O 的輸入 輸出方向；輸出時為推挽輸出，驅(qū)動能力強(qiáng) ； 輸入口可定義為三態(tài)輸入，可以設(shè)定內(nèi)部 帶 上拉電阻，省去外接 電阻 [3]。 ATmega8 單片機(jī)的特點(diǎn)如下：高性能、低功耗的 8 位 AVR 微控制器，先進(jìn)的 RISC精簡指令集結(jié)構(gòu)先進(jìn)的 RISC 結(jié)構(gòu) ， 130 條功能強(qiáng)大的指令，大多數(shù)為單時鐘周期指令 ，32 個 8 位通用工作寄存器工作在 16MHz 時，具有 16MIPS 的性能片內(nèi)集成硬件乘法器片內(nèi)集成了較大容量的非易失性程序和數(shù)據(jù)存儲器以及工作存儲器。 ATmega 8 單片機(jī) 的芯片內(nèi)部集成了較大容量的存儲器和豐富強(qiáng)大的硬件接口電路，具備 AVR 高檔單片機(jī) MEGE 系列的全部性能和特點(diǎn)。 PC6 (RESET)1PD0 (RXD)2PD1 (TXD)3PD2 (INT0)4PD3 (INT1)5PD4 (XCK/T0)6VCC7GND8PB6 (XTAL1/TOSC1)9PB7 (XTAL2/TOSC2)10PD5 (T1)11PD6 (AIN0)12PD7 (AIN1)13PB0 (ICP)14PB1 (OC1A)15PB2 (SS/OC1B)16PB3 (MOSI/OC2)17PB4 (MISO)18PB5 (SCK)19AVCC20AREF21GND22PC0 (ADC0)23PC1 (ADC1)24PC2 (ADC2)25PC3 (ADC3)26PC4 (ADC4/SDA)27PC5 (ADC5/SCL)28U1ATmega816PIGND1VCC2VL3RS4RW5E6D17D28D39D410D511D612D713D814VCC15GND16P2LCD1602R12680RVCCC2104C1104112233Q278L05VCC9VR733KR1127KDS1LEDR1327KR15100KC3104S1SWR1010KR83K3R910KVCCVCCVCCR1680RR2470KR3680RR4470KR5680RR6470KR14680RVCC1 2P49V IN9V231S2POWERQ18550Q38050Q48050123J1CON3 圖 22 系統(tǒng)原理圖 主控制芯片 ATmega8 單片機(jī)的 介紹 AVR 的單片機(jī)可以廣泛應(yīng)用于計算機(jī)外部設(shè)備、工業(yè)實(shí)時控制、儀器儀表、通訊設(shè)備、家用電器等各個領(lǐng)域。根據(jù)實(shí)際測量值計算轉(zhuǎn)換因子。使用LCD1602 作為顯示輸出， S1 為測試按鍵。但實(shí)際上如果被拉的電流多了，該點(diǎn)電壓會下降的。系統(tǒng)框圖如圖 21。 方案選擇論證： 通過長時間的實(shí)踐經(jīng)驗，我選擇了方案三，既使用外部電源和電池 并用 的方法給系統(tǒng)供電，在正常的情況下使用外接電源，在戶外或不便時通過 9V 電池對系統(tǒng)供電使用起來非常方便。 方案二：使用內(nèi)部電池供電。 供電模式的選擇 電，是一個系統(tǒng)的能量來源，因此對供電的選擇也是十分的重要。 LCD1602 可以實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)在其屏幕上用英文的形式顯示出來。 方案二： LCD1602 液晶能顯示 162 個字符，并且有 串行和并行 數(shù)據(jù)傳輸方式，可以通過 1602 液晶顯示元件的參數(shù)，可以滿足本設(shè)計的基本需求。 顯示模塊方案 顯示部分是測量系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)人機(jī)交互的重要模塊，準(zhǔn)確實(shí)時的顯示元件參數(shù)。 3 方案選擇論證：在本次設(shè)計中，為了讓測量得更準(zhǔn)確、更穩(wěn)定，系統(tǒng)的核心制作應(yīng)具有電路簡單、功能強(qiáng)大、可靠性高、便于擴(kuò)展等優(yōu)點(diǎn)，顯然用 ATmega 8 單片機(jī) 來制作的晶體管測試儀符合了體積小 、 使用方便 可靠性高等要求，可以滿足人們的要求。經(jīng)過這些部分的鏈接 將示波器的兩個通道 Y Y2 接到電路上就可以實(shí)現(xiàn)晶體管頻率特性的測量 。 由芯片 ADC080運(yùn)放 OPA27 和 INA120 構(gòu)成 電壓采樣電路 ， 數(shù)控電流源采用了 DA 轉(zhuǎn)換芯片 DAC0832， 在電路中應(yīng) 用了 CMOS電流開關(guān)和控制電路 來測量元件。 TRIG2Q3R4CVolt5THR6DIS7VCC8GND1U1NE555R151KR2100KC1Q1PNPRP100KLSBBTL1 圖 11 NE555 晶體管測量儀 方案二： 采用 8 位單片機(jī) AT89S52 作為系統(tǒng)核心 。高。若插上元件后無聲，說明元件已壞；若是聲小，說明 223。值。 方案一： 測試儀由 NE555 和 R R C1 組成無穩(wěn)態(tài)多諧振蕩器及待測晶體管組成的驅(qū)動級構(gòu)成。 2 本設(shè)計 結(jié)構(gòu)非常簡單， 除了能夠測量 電阻器電容器等常用的基本元器件還能 識 別多 種 常用的 晶體管 ， 如 二極管 、 三極管 、 晶閘管 及場 效應(yīng)管 的功能。本設(shè)計在眾多 型號 的單片機(jī) 中 選用了 ATMEL 公司開發(fā) ATmega 8 單片機(jī)。能更好的掌握單片機(jī)的編程算法，提高編程技巧。 本次設(shè)計采用 ATmega 8 單片機(jī) 為核心，測量 電子元器件的 參數(shù)，自動識別 電子元器件 的引腳并顯示在液晶上 ，當(dāng)電子元器件取下后被測參數(shù) 鎖定在液晶上 ， 更 能 直觀的了解 電子元器件 的參數(shù)及好壞情況 ， 只需按一下測試按鈕， 即可進(jìn)行下一次測量，完全實(shí)現(xiàn)了一鍵操作的功能。 對于電阻器電容器這些基本電子元件通常采用電橋法測量其阻值 ，而對 晶體二極管、三極管、場效應(yīng)管、晶閘管 這些半導(dǎo)體電子 元器 無法 用電橋法測量其 各項參數(shù) ，所以一般使用 晶體管特性圖示儀和晶體管直流參數(shù)測試儀 測量半導(dǎo)體電子 元器 件的 各項參數(shù) 第 2 節(jié) 電子元件測試 系統(tǒng)的意義 隨著人們生活水平的提高 ，電子產(chǎn)品 DIY 的盛行，這些都需要對電子元件 參數(shù) 進(jìn)行較準(zhǔn)確測量 。 一些 小型的電子元件測試 儀采用數(shù)字電路制作 ， 價格低廉 ， 但測量精度較低 ， 測量的參數(shù)種類較少 ， 而且 一般只能測量輸出特性 。 目前市場上存在多種電子元件測試儀 ， 普遍 用于觀察及測量電子元件各種輸入輸出特性 ， 其性能較好 、 精度較高 。 LCD1602 目 錄 摘 要 ....................................................................................................................................... I Abstract....................................................................................................................................II 目 錄 ....................................................................................................................................... I 第 1 章 電子元件測試系 統(tǒng)的背景、意義及技術(shù)路線 ........................................................ 1 第 1 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的背景 ..................................................................................... 1 第 2 節(jié) 電子元件測試系統(tǒng)的意義 ....................................................