【正文】 SPC 59 當(dāng)前及潛在的問題領(lǐng)域 。 1/20 的點(diǎn)應(yīng)落在控制限較近之處 (位于外三分之一的區(qū)域 ).另外 ,存在大約 SPC 25 1/150 的點(diǎn)落在控制限之外 ,但可以認(rèn)為是 受控的穩(wěn)定系統(tǒng)合理的一部份 就是說 , 大約 %的點(diǎn)位于控制限之內(nèi) . 5. 計(jì)算標(biāo)準(zhǔn)差 標(biāo)準(zhǔn)差通常有下列公式 : (1) σ= R / d2 式中 ,R為子組極差的均值 , d2隨樣本容量變 SPC 26 化的常數(shù) ,見下表 : SPC 27 過程能力是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的 過程均值與規(guī)范界限的距離 . Cp(Capability of Precision) 規(guī)格界限與實(shí) 際制程界限之比值 . SPC 28 Cp = = T/6σ Cp 的規(guī)格 等級 Cp 值 說明 A = Cp 續(xù)續(xù)改善 B = Cp 盡快改為 A 級 (規(guī)格上限 – 規(guī)格下限 ) 實(shí)際過程能力 SPC 29 C =Cp 立即檢討改善 D Cp 全面檢討 ,停產(chǎn) Ca (Capability of Accuracy)制程中心值 與期望中心值間的差異 . Ca = 制程中心值 – 規(guī)格中心值 (規(guī)格上限 – 規(guī)格下限 ) * X μ T / 2 SPC = 30 Ca 的規(guī)格 等級 Ca 值 說明 A Ca=% 續(xù)續(xù)維持現(xiàn)狀 B %Ca=25% 盡可能改善為 A級 C 25%Ca=50% 立即檢討改善 D 50%Ca 全面檢討 ,停產(chǎn) Cpk同時(shí)考慮精密度與準(zhǔn)確度 (通常稱為制程能力指數(shù) ) SPC 31 Cpk 的規(guī)格 Cpk =Cp(1｜ Ca ｜ )或 Cpk = ｜ Cp ｜ Cpk =(USL – X)/3 σ (單邊值計(jì)算 ) 等級 Cp 值 說明 A = Cpk 制程能力合格 B =Cpk 能力尚可 C Cpk 努力改善為 A SPC 32 X R 管 制 圖 廠名 : 管制圖編號： 製 品 R 圖名 稱 3管制項(xiàng)目測量單位 日 期 9/1 9/2 9/3 9/4 9/5 9/6 9/7 9/8 9/9 9/10 9/11 9/12 9/13 9/14 9/15 9/16 9/17 9/18 9/19 9/20 9/21 9/22 9/23 9/24 9/25 9/26 9/27 9/28 合　　　計(jì)批 號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 ΣＸ＝樣Ｘ１ ΣＲ＝本Ｘ２ 測Ｘ３ 定Ｘ４= USL 藍(lán)色值Ｘ５= LSL 紅色 Ｎ＝ΣＸ 平 　均Ｘ Ｘ＝R R=計(jì) 算 或 分 析x管 ＵＣＬX制 ＣＬ ＣＬx=圖 ＬＣＬＵＣＬ x=ＬＣＬ x=RＣＬ R=R ＵＣＬ R=管 ＵＣＬＬＣＬ R=制 ＣＬ .=圖 ＬＣＬＰＰＫ = PP = Ca =ＣＰＫ = CP =備註及原因追查 :量測數(shù)值的判定條件測定者 李 工 作 者 張 三cm 下限 LSL 下 限 LCL28機(jī) 別 F21e 抽樣方法 每小時(shí) / 上限 USL 上 限 UCL 直徑 中心限 CL 中心限 CL總組數(shù)期 間 1998/9/1製造部門 製一課宇威科技股份有限公司~ 1998/9/28AE1012圓 棒規(guī) 格 標(biāo) 準(zhǔn) 群組數(shù)大小 管 制 X 圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28XR 圖樣本 SPC 33 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 (X – s) 象 XR圖一樣 ,Xs圖也是從測得的過程 輸出數(shù)據(jù)中發(fā)展來的 .由於極差圖容易計(jì)算且 對樣本容量較小的子組 (尤其是小于 9的 )較為 有效 .所以研究出了極差圖作為過程變差的度 量 .樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 s是過程變異性更有效的指 標(biāo) ,尤其是對于樣本容量較大的情況 .一般來說 SPC 34 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 s 代替 R圖 : ★ 數(shù)據(jù)是由計(jì)算按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄 /或描圖 的 .則 s 的計(jì)算程序易於集成化 。統(tǒng)計(jì)制程管制講義 ( SPC ) 時(shí)間 :2023/10/5 1 前 言 本講義是在美國質(zhì)量控制協(xié)會 (ASQC)汽車部 供方質(zhì)量要求編寫組和汽車工業(yè)行動集團(tuán) (AIGA) 的共同主持下 ,由克萊斯勒 ﹑ 福特和通用公司共同 編寫的 . 本講義主要介紹以下制程管制方法 : 1) X – R Chart (平均值和全距圖 )。 ★ 有方便用的袖珍計(jì)算機(jī)使 s 的計(jì)算能簡 單按程序算出 。 特性之間的關(guān)系 . ★ 定義測量系統(tǒng) ,使之具有可操作性 。 ★ 確定要管理的特性 . 應(yīng)考慮 : 顧客的需求 。 ★ 七點(diǎn)連續(xù)上升或下降 . 盡管我們不強(qiáng)調(diào)過分的解釋數(shù)據(jù) .但其它 一些特別的圖形中也能表明存在變差的 SPC 24 特殊原因 .下面給出檢驗(yàn)異常分布寬度的 準(zhǔn)則 : 各點(diǎn)與過程均值的距離 :一般情況下 ,大約 2/3的描點(diǎn)應(yīng)落在