持續(xù)改進(jìn)與統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制概述-預(yù)覽頁(yè)
【正文】 期 間 1998/9/1製造部門 製一課宇威科技股份有限公司~ 1998/9/28AE1012圓 棒規(guī) 格 標(biāo) 準(zhǔn) 群組數(shù)大小 管 制 X 圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28XR 圖樣本 SPC 33 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 (X – s) 象 XR圖一樣 ,Xs圖也是從測(cè)得的過(guò)程 輸出數(shù)據(jù)中發(fā)展來(lái)的 .由於極差圖容易計(jì)算且 對(duì)樣本容量較小的子組 (尤其是小于 9的 )較為 有效 .所以研究出了極差圖作為過(guò)程變差的度 量 .樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 s是過(guò)程變異性更有效的指 標(biāo) ,尤其是對(duì)于樣本容量較大的情況 .一般來(lái)說(shuō) SPC 34 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時(shí)用 s 代替 R圖 : ★ 數(shù)據(jù)是由計(jì)算按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄 /或描圖 的 .則 s 的計(jì)算程序易於集成化 。 ★ 由于一張圖上可顯示中位數(shù)及分布寬度 , 所以它可用來(lái)對(duì)幾個(gè)過(guò)程的輸出或同一過(guò) 程的不同階段的輸出進(jìn)行比較 。 ★ 計(jì)算極差的平均值 ,記為 R 。 SPC 49 ★ 由於每一個(gè)子組僅有一個(gè)單值 , X 和 σ值會(huì)有較大的變異性 . 單值控制圖的詳細(xì)介紹與 XR圖有些相 同 ,不同之處如下 : 在數(shù)據(jù)圖上從左至右記錄單值讀數(shù) (X). 計(jì)算單值間的移動(dòng)極差 (MR). SPC 50 單值極差圖的刻度按下列最大者選取產(chǎn)品 的規(guī)范容差加上超過(guò)規(guī)范讀數(shù)的允許值 .或 最大單值讀數(shù)與最小單值讀數(shù)之差的 2 倍 .移動(dòng)極差圖的刻度間隔應(yīng)與 X 圖一致 . 計(jì)算並描繪過(guò)程平均值 ,並計(jì)算平均極差 ( R ),計(jì)算控制限 : SPC 51 式中 :R為移動(dòng)平均極差 , X 是過(guò)值 , D4﹑ D3 和 E2 是用來(lái)對(duì)計(jì)算移動(dòng)極差進(jìn)行分組 ,並隨樣 本容量變化的常數(shù) ,其常數(shù)見下表 : UCLMR=D4R LCLMR=D3R UCLx=X+E2R LCLx=X+E2R SPC 52 計(jì)算控制限用常數(shù)表 SPC 53 審檢移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn) ,這是 存在特殊原因的信號(hào) . 可用單值圖分析控制限的 ,點(diǎn)在控制限內(nèi) 點(diǎn)的分布 ,以及趨勢(shì)的圖形 . 與 XR圖一樣 ,可用下式估計(jì)過(guò)程標(biāo)準(zhǔn)差 : SPC 54 σ = R / d2 = σR/ d2 式中 : R 為移動(dòng)極差的均值 , d2是用於對(duì)移 動(dòng)極差分組的樣本容量 n而變化的常數(shù) ,下 面是 d2 的常數(shù)表 : n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 D2常數(shù)表 SPC 55 用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的控制圖 盡管控制圖大多數(shù)情況下都與計(jì)量型數(shù) 據(jù)聯(lián)系在一起 ,但也開發(fā)了用于計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的 控制圖 .計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)只有兩個(gè)值 (合格 /不合格 , 成功 /不成功 , 通過(guò) /不通過(guò) , 出席 /缺席 ).但它 們可被計(jì)數(shù)從而用來(lái)分析 . 計(jì)數(shù)型控制圖是很重要的 ,原因如下 : ★ 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)的情況存在于何技朮或行政 SPC 56 管理過(guò)程中 ,所以可以在很多場(chǎng)合下應(yīng)用 計(jì)數(shù)型分析技朮 ,最大的問題是對(duì)什麼是 不合格下一個(gè)精確的可操作的定義 。 SPC 59 當(dāng)前及潛在的問題領(lǐng)域 。 25% 的樣本容 量范圍 ,找出樣本容量超出該范圍的所有 子組 。 b. 各階段子組的樣本容量相等 . np 圖 與 p 圖的不同之處如下 : 1. 收集數(shù)據(jù) ★ 受檢驗(yàn)樣本的容量必須相等 .分組的周期 應(yīng)按照生產(chǎn)間隔和反饋系統(tǒng)而定 .樣本容 量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不 合格品 ,在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量 . SPC 77 ★ 記錄並描繪每個(gè)子組內(nèi)的不合格品數(shù) . 2. 計(jì)算控制限 計(jì)算過(guò)程不合格品數(shù)的均值 : np = np1 + np2 +….+np k K 式中 : np1 , np2…. 為 K個(gè)子組中每個(gè)子組的 不合格數(shù) . 計(jì)算上 , 下控制限 : SPC 78 LCL np = np + 3 np ( 1 p ) LCL np = np 3 np ( 1 p ) 式中 : n = 子組的樣本容量 . p 圖 . p 圖 . SPC 79 不合格數(shù)的 C 圖 C 圖用來(lái)測(cè)量一個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)的不合格的數(shù) 量 (與描在 np 圖上的不合格品的數(shù)量不同 ). C 圖要求樣本容量恒定或受檢材料的數(shù)量恆定 , 它主要應(yīng)用于以下兩類檢驗(yàn) : ★ 不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上 (例如玻璃上 的氣泡或電線上絕緣層薄的點(diǎn) ),以及可以用 SPC 80 不合格的平均比率表示的地方 (如每 100m 維尼龍上的瑕庇 ). ★ 在單個(gè)的產(chǎn)品檢驗(yàn)中可能發(fā)現(xiàn)許多不同潛 在原因造成的不合格 . (參照 p 圖 ,不同之處如下 ) ★ 檢驗(yàn)樣本的容量要求相等 (如零件的數(shù)量 ), SPC 81 這樣描繪的 c 值將反映質(zhì)量性能的變化而 不是外觀的變化 ,在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量 ★ 記錄描繪每個(gè)子組的不合格數(shù) . 計(jì)算過(guò)程不合格均值 : c = c1 + c2 +….+c k k SPC 82 式中 : c1 , c2… 為 k 個(gè)子組內(nèi)每個(gè)子組的不合 格數(shù) . 計(jì)算控制限 : LCL c = c + 3 c LCL c = c 3 c 其它項(xiàng)目的解釋同 p 圖 . SPC 83 SPC 完 84 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH
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