【正文】 過程或取樣方法造成連續(xù)的子組包含來(lái)自兩個(gè)或多個(gè)具有不同均值性能的過程流的測(cè)量（例如：每班之間性能的差異）。 連續(xù) 7點(diǎn)上升（后者與前者相等或比前者大）或邊續(xù)地下降。 在初始研究階段，這些被認(rèn)為是試驗(yàn)控制限。如果子組容量是恒定的或它 們變化不超過 25%是最方便的，但不一定是這樣。 單值圖（ X圖）的刻度可為最大單值讀數(shù)與最小單值讀數(shù) 之差的 2倍。 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄在單獨(dú)的數(shù)據(jù)表上，只有每組的 和 S 出現(xiàn)在圖上； X S = ? ? 222211 ????? ??nXnXnXX ii 66 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B、 計(jì)算控制限 62 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 評(píng)價(jià)過程能力 例如，某些程序的全面能力指數(shù)要求 Zmin≥3， 或 Cpk≥， 對(duì)于影響被選重要產(chǎn)品特性的新過程的能力指 數(shù)要求為 Zmin≥4或 Cpk≥。 一般情況下，將過程輸出的分布與工程規(guī)范相比，看是否 始終滿足這些規(guī)范。 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)； 這是立即對(duì)操 作進(jìn)行分析的信號(hào)。 如果顯著多于 2/3以上的描點(diǎn)落在離很近之外（低于 25 個(gè)子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限三分之一的區(qū)域） ，則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： 43 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 超出極差上控制限的點(diǎn)通常說(shuō)明存在下列情況中的一種或幾種： 避免混淆 、 挫折及誤導(dǎo)問題 第八節(jié) 控制圖的益處 33 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 —— 尤其是其最普通的形式， XR圖 —— 代表了控制圖在過程控制中的典型應(yīng)用。 過程控制系統(tǒng)在出現(xiàn)變差的特殊原因時(shí)要提 供統(tǒng)計(jì)信號(hào) ， 于不存在特殊原因時(shí)避免提供 錯(cuò)誤信息 。 例如：一個(gè)機(jī)加工軸的 直徑易于受到由于機(jī)器 （ 間隙 、 軸承磨損 ） 、 工具 （ 強(qiáng)度 、 磨損率 ） 、 材料 （ 直徑 、 硬度 ） 、 操作人員 （ 進(jìn)給速率 、 對(duì)中準(zhǔn)確度 ） 、 維修 （ 潤(rùn) 滑 、 易損零件的更換 ） 及環(huán)境 （ 溫度 、 動(dòng)力供應(yīng) 是否恒定 ） 等原因造成潛在的變差的影響 。 過程的性能取決于供方和顧客之間的溝通 ， 過程設(shè)計(jì)及實(shí)施的方式 ， 以及運(yùn)作和管理的方式等 。這些反應(yīng)計(jì)劃應(yīng)包括適當(dāng)?shù)囟糁惯^程輸出和 100%檢驗(yàn)。 2 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 控制過程控制（ SPC）的目的： 為了解過程以及改善過程，藉由對(duì)過程 能力的分析 /評(píng)估使其有量化資料以供 作為設(shè)計(jì)、制造過程的改進(jìn)、選擇材 料、操作人員或作業(yè)方法的依據(jù)和參 考。 SPC 實(shí)施的時(shí)機(jī)和范圍： 6 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 第一階段 第二階段 第三階段 第四階段 第五階段 計(jì)劃和 產(chǎn)品設(shè)計(jì) 過程設(shè)計(jì) 產(chǎn)品和 反饋 、 評(píng)定 確定項(xiàng)目 和開發(fā) 和開發(fā) 過程確定 和糾正措施 樣件制作 試生產(chǎn) 批量生產(chǎn) PPAP MSA DFMEA PFMEA SPC SPC （ Ppk≧ ) （ Cpk≧ ） 樣件 CP 試生產(chǎn) CP 生產(chǎn) CP SPC 與 APQP CP、 FMEA、 PPAP 和 MSA 的關(guān)系： 7 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 過程 ① 填寫 COP或過程名稱 統(tǒng)計(jì)過程控制（ SPC） ③ 輸 出 （將要交付的是什么？） 填寫詳細(xì)的實(shí)際輸出 ,這可能是產(chǎn)品、文件，而且應(yīng)該和實(shí)際有效性的測(cè)量相聯(lián)系 ② 輸 入 （要求是什么？） 填寫詳細(xì)的實(shí)際輸入 ,這可能是一份文件、材料、工具、計(jì)劃等 使用的關(guān)鍵準(zhǔn)則是什么？（測(cè)量 /評(píng)估） ⑦ 填寫過程有效性的測(cè)量，比如矩陣和指標(biāo) 如何做？ ④ （作業(yè)指導(dǎo)書 /方法 / 程序 /技術(shù)） 填寫相關(guān)的過程控制、支持過程、管理過程、程序、作業(yè)指導(dǎo)書、方法和技術(shù)等的詳細(xì)說(shuō)明 由誰(shuí)進(jìn)行？ ⑥ （能力 /技能 /知識(shí) /培訓(xùn)） 填寫資源要求，特別注意要求的技能和能力準(zhǔn)則，安全設(shè)備等 使用什么方式進(jìn)行 ⑤ （材料 /設(shè)備 /裝置） 填寫機(jī)器（包括試驗(yàn)設(shè)備），材料，計(jì)算機(jī)系統(tǒng)，過程中所使用的軟件等的詳細(xì)說(shuō)明 “ 過程分析（烏龜圖）”在 SPC 中的運(yùn)用： 過程分析（烏龜圖）審核工作表 注： PSC 的“過程分析（烏龜圖）”表中之具體和詳細(xì)內(nèi)容的填寫請(qǐng)見附件二。 我們要確定這些特性的目標(biāo)值 ， 從而使過程操作的生產(chǎn)率最高 ， 然后我們要監(jiān)測(cè)我們與目標(biāo)值的距離是遠(yuǎn)還是近 ， 如果得到信息并且正確地解釋 ， 就可以確定過程是在正常或非正常的方式下運(yùn)行 。 第三節(jié) 變差的普通及特殊原因 21 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 局部措施（ Location Action） 2 類過程：是受控過程 ， 但存在因普通原因造成的 過大的 、 必須減少的變差 。 普通原因變差 35 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 第一節(jié) 均值和極差圖（ XR圖） A． 收集數(shù)據(jù) A． 1選擇子組大小 、 頻率和數(shù)據(jù) A． 2建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) A． 3計(jì)算每個(gè)子組的均值（ X） 和極差（ R） A． 4選擇控制圖的刻度 A． 5將均值和極差畫到控制圖上（初始研究 Initial study） 36 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC B． 計(jì)算控制限 B． 1 計(jì)算平均極差（ R） 及過程平均值 B． 2計(jì)算控制限 B． 3在控制圖上作出平均值和極差控制限的控制線 C． 過程控制解釋 C． 1 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn)（首先分析 R圖） a. 超出控制限的點(diǎn) b. 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 2 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（極差圖） C． 3 重新計(jì)算控制極限（極差圖） X37 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC C． 4 分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) a. 超出控制限的點(diǎn) b． 鏈 c. 明顯的非隨機(jī)圖形 C． 5 識(shí)別并標(biāo)注特殊原因（均值圖） C． 6 重新計(jì)算控制限（均值圖） C． 7 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 a. 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ表示） b． 按照新的子組容量查表得到系數(shù) d D D4 和 A2， 計(jì)算新的極差和控制限。 子組數(shù)越多，可確保變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 有一點(diǎn)位于控制限之下（對(duì)于樣本容量大于等于 7的 情況），說(shuō)明存在下列情況的一種或幾種： 過程或抽樣方法造成邊疆的分組中飲食從兩個(gè)或多上具有 明顯不同的變化性的過程流的測(cè)量值（例如：輸入材料批 次混淆）。 標(biāo)注這些促使人們作出決定的點(diǎn)；從該點(diǎn)做一條 參考線延伸到鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變 化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 如果沒有明顯的證據(jù)表明已發(fā)現(xiàn)過程的特殊原因，任 何“糾正”措施將可能增加而不是減少過程輸出的總變異。 對(duì)于單邊容差，計(jì)算： Z= 或 Z= （ 選擇合適的一個(gè)） 2dRXUSL??? 2dRLSLX???式中： SL=規(guī)范界限， =測(cè)量的過程均值， =估計(jì)的過程標(biāo)準(zhǔn)偏差。 63 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 提高過程能力 為了提高過程能力，必須重視減少普通原因。 2．所選取之樣本，系屬于一種極為均勻一致之產(chǎn)品，如像液 體或氣體，幾個(gè)測(cè)定值沒有意義，只要一點(diǎn)就可以時(shí)。 為穩(wěn)定過程的能力指數(shù)?????????? ???? ??2233mindRdRXUSLLSLXCPK?? 為過程性能指數(shù)???????? ??????SXUSLLSLXPpkS ?? 33min 77 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC A． 2 計(jì)算每個(gè)子組內(nèi)的不合格品率（ P） 記錄每個(gè)子組內(nèi)下列值： 發(fā)現(xiàn)的不合格項(xiàng)目的數(shù)量 —— np 通過這些數(shù)據(jù)計(jì)算不合格品率： nnpP?A． 3 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 描繪數(shù)據(jù)點(diǎn)用的圖應(yīng)將不合格品率作為縱坐標(biāo)，子組識(shí)別（小時(shí)、天等）作為橫坐標(biāo)，縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍的值。 過程性能惡化，在當(dāng)時(shí)那點(diǎn)或作為一種趨勢(shì)的一部分； 86 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 出現(xiàn)低于均值的長(zhǎng)鏈或邊續(xù)下降，通常表明存在下列情況之一： 新nn92 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 計(jì)算過程能力 若從實(shí)例得： = 目前的過程能力是 :功能檢驗(yàn)的失效為 % (%合格 ) 評(píng)功價(jià)過程能力 如果進(jìn)行 100%的功能檢驗(yàn)并已選出不合格的產(chǎn)品， 顧客是得到免受不合格產(chǎn)品的保護(hù) 。 控制限或描點(diǎn)的計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤； 84 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC 注：當(dāng)每個(gè)子組的不合格項(xiàng)目的平均值（ ）較大時(shí) （ ≥9），子組的 p的分布近似于正態(tài)分布并且可以使用與 圖所用分析相似的分布方法。 注：當(dāng) 很小和 /或 n很小時(shí)， LCL的計(jì)算值有時(shí)會(huì)為負(fù)值，在這種情況下則沒有下控制限，因?yàn)榧词乖跇O精胡的時(shí)期同p=0， 也在隨機(jī)變差極限之內(nèi)。 為能力比值CPCR 1? 為性能比值PPPR 1?75 奧邦科技 五大手冊(cè)之五 SPC Cpk及 Ppk用途 如果過程的分布不是對(duì)稱的，則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心