【正文】 B9： 對(duì)于生產(chǎn)過程中 4M1E發(fā)生變化要有書面記錄以利于 分析工序出現(xiàn)異常問題原因。 A6： 對(duì)于均值極差圖將 UCL、 LCL三個(gè)虛線 、 兩個(gè)實(shí)線畫在控制圖上 。 B： SPC： STATISTIC PROCESS CONTROL 統(tǒng)計(jì)過程控制 2： SPC研究對(duì)象是什么？ A： 4M1E： 人、機(jī)、料、法、環(huán)而不是產(chǎn)品。 ? 各階段子組的樣本容量相同。 ? 當(dāng)正式研究過程能力時(shí)，應(yīng)使用新的數(shù)據(jù)，最好是 25個(gè)或更多時(shí)期子組，且所有的點(diǎn)都受統(tǒng)計(jì)控制。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)，在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布，以趨勢(shì)或圖形。 ? Ppk： 考慮了總變異 (組內(nèi)和組間 )，所以是比較真實(shí)的情形，所以一般想要了解真正的制程情形應(yīng)使用 Ppk。 2?)()2/(dRTXCa?????雙邊規(guī)格制程能力指數(shù) Ca 2??3?3?6dRLSLXCXUSLCLSLUSLCppp???????????制程能力指數(shù) Cp ? 雙邊規(guī)格 ? 只有上規(guī)格時(shí) ? 只有下規(guī)格時(shí) 2??3?3),min(dRLSLXCXUSLCCCCplpuplpupk?????????制程能力指數(shù) Cpk ? 當(dāng) Cpk1 說明制程能力差 ， 不可接受； ? 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善； ? ≤Cpk≤,說明制程能力正常； ? Cpk， 說明制程能力良好 。 ? 連續(xù) 100點(diǎn)中 , 不多于 2點(diǎn)超出控制界限 . ? 五種缺陷 ? 鏈 : 點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線 CL 一側(cè)的現(xiàn)象稱為鏈 , 鏈的長(zhǎng)度用鏈內(nèi)所含點(diǎn)數(shù)多少來判別 . ? 當(dāng)出現(xiàn) 5點(diǎn)鏈時(shí) , 應(yīng)注意發(fā)展情況 , 檢查操作方法有無異常 ?？刂茍D是一種帶有控制界限的反映過程質(zhì)量的記錄圖形，圖的縱軸代表產(chǎn)品質(zhì)量特性值 (或由質(zhì)量特性值獲得的某種統(tǒng)計(jì)量 )；橫軸代表按時(shí)間順序 (自左至右 )抽取的各個(gè)樣本號(hào)； 圖內(nèi)有中心線 (記為 CL)、 上控制界限 (記為 UCL)和下控制界限 (記為 LCL)三條線 (見下圖 )。異常波動(dòng)造成的波動(dòng)較大，容易發(fā)現(xiàn)，應(yīng)該由操作人員發(fā)現(xiàn)并糾正 4. 普通原因和特殊原因 ? 普通原因： 指的是造成隨著時(shí)間推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因，我們稱之為：“處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)”、“受統(tǒng)計(jì)控制”，或有時(shí)簡(jiǎn)稱“受控”，普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 過程均值（ Process Average） 一個(gè)特定過程特性的測(cè)量值分布的位置即為過程均值，通常用 X 來表示。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。正常波動(dòng)引起工序質(zhì)量微小變化，難以查明或難以消除。 μ =0， σ=1時(shí)正態(tài)分布稱為標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布簡(jiǎn)記為 N(0， 1)。 UCL CL LCL 控制圖的觀察分析 ? 作控制圖的目的是為了使生產(chǎn)過程或工作過程處于“控制狀態(tài)” . 控制狀態(tài)即穩(wěn)定狀態(tài) , 指生產(chǎn)過程或工作過程僅受偶然因素的影響 , 產(chǎn)品質(zhì)量特性的分布基本上不隨時(shí)間而變化的狀態(tài) . 反之 , 則為非控制狀態(tài)或異常狀態(tài) . ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條 : ? 第一條 , 控制圖上點(diǎn)不超過控制界限 。 為繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 為繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 ? 估計(jì)過程標(biāo)準(zhǔn)偏差和計(jì)算新的控制限 2?dR?? newxnewxnewRnewRnewRAxLCLRAxUCLRDLCLRDUCLdR22342???????? ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差 D2計(jì)算過程能力 D3評(píng)價(jià)過程能力 D4提高過程能力 D5對(duì)修改的過程繪制控制圖并分析 建立 XR圖的步驟 D 前提假設(shè)： ? 過程處于統(tǒng)計(jì)穩(wěn)定狀態(tài)； ? 過程的各測(cè)量值服從正態(tài)分布； ? 工程及其它規(guī)范準(zhǔn)確地代表顧客的需求； ? 設(shè)計(jì)目標(biāo)值位于規(guī)范的中心； ? 測(cè)量變差相對(duì)較小 前提說明： ? 總存在抽樣變差； ? 沒有“完全”受統(tǒng)計(jì)控制過程； ? 實(shí)際分布不是完美的正態(tài)分布 過程能力解釋前提 計(jì)算過程能力 ? 對(duì)于 XR圖，過程能力是通過計(jì)算 Cpk，用 Cpk大小來確定過程能力，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。 1)(??3?3),min(12??????????nxxLSLXPXUSLPPPPniiplpuplpupk???? 制程績(jī)效指標(biāo)的計(jì)算，其估計(jì)的標(biāo)準(zhǔn)差為總的標(biāo)準(zhǔn)差，包含了組內(nèi)變異以及組間變異。 管制圖mRX ?mRmRmRmXmXxRDLCLRDUCLRCLREXLCLREXUCLXCLX3422~????????全距管制圖值管制圖管制圖mRX ??B計(jì)算控制限 注：正常情況下，樣本 n=2此時(shí)E2= D4= D3=0 E D D3是用來計(jì)算移動(dòng)極差分組 管制圖mRX ?? C過程控制解釋 ? 審查移動(dòng)極差圖中超出控制限的點(diǎn)，這是存在特殊原因的信號(hào)。 Ｂ計(jì)算控制限 B1計(jì)算過程平均不合格品率 B2計(jì)算上、下控制限 B3畫線并標(biāo)注 建立 p控制圖的步驟 B npppLCLnpppUCLndpCLnnndddnnnpnpnpnppppkkkkk)1(3)1(3......... . ........2121212211????????????????????????中心線計(jì)算平均不合格率及控制限 Ｃ過程控制用控制圖解釋 C1分析數(shù)據(jù)點(diǎn)，找出不穩(wěn)定證據(jù) C2尋找并糾正特殊原因 C3重新計(jì)算控制界限 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 建立 p圖的步驟 C Ｄ過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評(píng)價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 建立 p的步驟 D 計(jì)算過程能力 ? 對(duì)于 p圖，過程能力是通過過程平均不合率來表示，當(dāng)所有點(diǎn)都受控后才計(jì)算該值。但是還應(yīng)對(duì)繼續(xù)系統(tǒng)進(jìn)行調(diào)查和改進(jìn)。 ? 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品缺陷數(shù)u=c/n ? 式中 c為發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)量， n為子組中樣本容量 (檢驗(yàn)報(bào)告單位的數(shù)量 )， c和 n都應(yīng)記錄在數(shù)據(jù)表中。 A2： 根據(jù)計(jì)劃準(zhǔn)備空白控制圖發(fā)放給車間并填好相關(guān)欄目： 工廠、部門、工序、計(jì)算控制限的日期、工程規(guī)范、零件號(hào)、 機(jī)器編號(hào) 、 日期 、 特性 、 樣本容量 /頻率 、 零件名稱 A3： 在試生產(chǎn)時(shí)根據(jù)樣本容量 /頻率抽樣并記錄在控制圖 “ 讀數(shù) ”欄 。 B5： 將數(shù)據(jù)點(diǎn)標(biāo)在控制圖上對(duì)控制圖進(jìn)行點(diǎn)分析有無異常 ， 若有圈出來并進(jìn)行原因分析采取針對(duì) 4M1E的措施 、 驗(yàn)證效果 。 B12： 遵循 PDCA循環(huán)。 A9： 計(jì)算工序能力指數(shù)： 對(duì)于均值極差圖、均值標(biāo)準(zhǔn)差圖要求： PPK》 1?67 A10： 若指數(shù)不滿足要求 進(jìn)行原因分析采取針對(duì) 4M1E的 措施、驗(yàn)證效果。 B： 產(chǎn)品特殊特性：尺寸。樣本容量應(yīng)足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都出現(xiàn)幾個(gè)不合格品，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本的容量。在操作上診斷特殊原因 (控制 )變差問題的分析方法不適于診斷影響系統(tǒng)的普通原因變差。 驗(yàn)收規(guī)范舉例 評(píng)述 ? 表面應(yīng)沒有斑點(diǎn) ? 在彩色紋理、光澤度和缺陷數(shù)幾方面，表面應(yīng)符合標(biāo)準(zhǔn) ? 為防止剝落而敷到鏡子背面的任何材料不應(yīng)引起鏡子背襯有可見的斑點(diǎn)。在這種情況下沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。必須對(duì) 系統(tǒng)本身直接采取管理措施 ，否則過程能力不可能得到改進(jìn)。 ? 連續(xù)的 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。這是一個(gè)很小的概率，根據(jù)概率論 “視小概率事件為實(shí)際上不可能” 的原理，可以認(rèn)為：出現(xiàn)在 X?3?區(qū)間外的事件是異常波動(dòng)，它的發(fā)生是由于異常原因使其總體的分布偏離了正常位置 ? 控制限的寬度就是根據(jù)這一原理定為 ?3? % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 2. 控制圖原理說明 2. 控制圖 —過程控制的工具 上控制限 中 心 線 下控制限 ： 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 ： 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算試驗(yàn)控制限；識(shí)別變差的特殊原因 并采取措施 ： 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn) 過程 步驟 3. 控制圖的目的 ? 控制圖和一般的統(tǒng)計(jì)圖不同，因其不僅能將數(shù)值以曲線表示出來，以觀其變異之趨勢(shì)，且能顯示變異系屬于機(jī)遇性或非機(jī)遇性，以指示某種現(xiàn)象是否正常，而采取適當(dāng)之措施。如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時(shí)間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定 4. 普通原因和特殊原因 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 但它們形成一個(gè)模型 ,若穩(wěn)定 ,可以描述為一個(gè)分布 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 范圍 或這些因素的組合 位置 分布寬度 形狀 4. 普通原因和特殊原因 目標(biāo)值線 預(yù)測(cè) 時(shí)間 范圍 范圍 時(shí)間 目標(biāo)值線 如果僅存在變差的普通原因， 隨著時(shí)間的推移，過程的輸出 形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè) 如果存在變差的特殊原因， 隨著時(shí)間的推移，過程的 輸出不穩(wěn)定 4. 普通原因舉例 ? 合格原料的微小變化 ? 機(jī)械的微小震動(dòng) ? 刀具的正常磨損 ? 氣候、環(huán)境的微小變化等 4. 特殊原因舉例 ? 使用不合格原料 ? 設(shè)備調(diào)整不當(dāng) ? 新手作業(yè) ? 違背操作規(guī)程 ? 刀具過量磨損等 4. 普通原因、特殊原因示意圖 普通原因 的波動(dòng)范圍 特殊原因?qū)е? 的波動(dòng)范圍 特殊原因?qū)е? 的波動(dòng)范圍 UCL LCL CL 5. 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施 ? 大約可糾正 15%的過程問題 5. 系統(tǒng)措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 5. 局部措施、系統(tǒng)措施示意圖 解決普通原因 的系統(tǒng)措施 解決特殊原因 的局部措施 解決特殊原因 的局部措