持續(xù)改進(jìn)與統(tǒng)計過程控制概述(文件)
【正文】 ★ 計算極差和中位數(shù)的上 ﹑ 下控制限 : UCLR=D4R LCLR=D3R UCLx=X+A2R LCLx=X+A2R 式中 :D4 ﹑ D3和 A2是隨樣本容量變化的趨勢 , ★ 在控制圖上表明中位數(shù)控制線 下表是樣本容量從 2到 10的常數(shù)值 : ~ ~ ~ ~ SPC ~ 45 . 估計過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 : SPC 46 σ = R / d2 式中 :R為樣本極差的均值 ,d2為隨樣本容量 變化的常數(shù) ,下表是樣本容量從 2到 10的 d2值 . D2的常數(shù)表 SPC 47 單值和移動極差圖 (XMR) 在某些況情況下 ,有必要用單值而不是子 組來進(jìn)行過程控制 ,這樣的情況下 ,子組內(nèi)的變 差實(shí)際上為 0 ,這種情況通常發(fā)生在測量費(fèi)用 很大時 (如破壞性試驗(yàn) ),或是當(dāng)在任何時刻點(diǎn) 輸出性質(zhì)比較一致時 (如化學(xué)液的 ph值 ).在這 種情況下 ,可按下面介紹的方法繪制單值控制 SPC 48 圖 .但應(yīng)注意下面四點(diǎn) : ★ 單值控制在檢查過程變化時不如 XR 敏感 。 中位數(shù)圖的詳細(xì)說明與 XR圖類似 ,不同之 SPC 41 處如下 : 一般情況下 ,中位數(shù)圖在子組樣本容量 小於或等於 10 的情況 ,樣本容量為奇數(shù)時更 方便 .如果子組樣本容量為偶數(shù) ,中位數(shù)是中 間兩個數(shù)的均值 。 ★ 有方便用的袖珍計算機(jī)使 s 的計算能簡 單按程序算出 。 ★ 過程已改變 ,或是在當(dāng)時的那一點(diǎn) 或是一種趨勢的一部分 。 ★ 零件間的變化已增大 。 5) P – Chart (不合格品率圖 )。統(tǒng)計制程管制講義 ( SPC ) 時間 :2023/10/5 1 前 言 本講義是在美國質(zhì)量控制協(xié)會 (ASQC)汽車部 供方質(zhì)量要求編寫組和汽車工業(yè)行動集團(tuán) (AIGA) 的共同主持下 ,由克萊斯勒 ﹑ 福特和通用公司共同 編寫的 . 本講義主要介紹以下制程管制方法 : 1) X – R Chart (平均值和全距圖 )。 4) X – MR Chart (單值和移動極差圖 )。 ~ SPC 3 第一章 持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述 : 過程控制之措施 檢測 容認(rèn)浪費(fèi) (質(zhì)量 ,成本 ) 預(yù)防 避免浪費(fèi) 采取局部措施 ★ 通常用來消除變差的特殊原因 SPC 4 ★ 通常由與過程直接相關(guān)的人員實(shí)施 ★ 大約可糾正 15%的問題 對系統(tǒng)采取措施 ★ 通常用來消除變差的普通原因 ★ 幾乎總是要求管理措施 ,以便糾正 ★ 大約可糾正 85%的過程問題 SPC 5 有反饋過程控制系統(tǒng)模型 統(tǒng)計方法 我們工作 的方式 / 資源 產(chǎn)品或服務(wù) 顧客 識別不斷變化的要求和期望 顧客的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 環(huán)境 過程的呼聲 輸入 生產(chǎn)過程 輸出 ▲ ▲ ▲ SPC 6 控制圖的益處 合理使用控制圖能 : ★ 供正在進(jìn)行過程控制的人員了解狀況 ★ 有助于過程在質(zhì)量上和成本上持續(xù)地 ,可 預(yù)測地保持下去 ★ 使過程達(dá)到 : 更高的質(zhì)量 SPC 7 更低的單件成本 更高的有效能力 ★ 為討論過程能力提供共同的語言 ★ 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因 ,作為采取 局部措施或特殊措施的指南 SPC 8 使用控制圖的準(zhǔn)備 ★ 建立適用於實(shí)施的環(huán)境 (準(zhǔn)備充分的實(shí)施條 件 ) ★定義過程 ★ 確定測量系統(tǒng) ★ 使不必要的變差最小 (人員 ,量具等 ) SPC 9 制作管制圖的步驟 1. 收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小 ﹑ 頻率和數(shù)據(jù) 計量型第一個關(guān)鍵步驟 就是“合理子組的確定” 這一點(diǎn)將決 SPC 10 其目的是檢查經(jīng)過一段 時間后過程中的變化 . 子組數(shù)的大小應(yīng)滿 定控制圖的效果及效率 .在過程的初 期研究中 ,子組一般由 4~5件連續(xù)生產(chǎn) 的產(chǎn)品組合 (子組樣本容量需恆定 ). SPC 11 足 ,兩個原則 ,從過程的角度來看 ,收 集越多的子組可以確保變差的主要 原因有機(jī)會出現(xiàn) .一般情況下 ,包含 100或更多單值讀數(shù)的 25 或更多個 子組 ,可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性 ,如 果過程已穩(wěn)定 .則可以得到過程位置 SPC 12 和分布寬度的有效的估計值 . 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 計算每個子組的均值 (X)和極差 (R) 對每個子組 ,計算 : R=X最大值 – X最小值 X = (X1 + X2 + ….+ Xn) / n 式中 : X1 , X2… .為子組內(nèi)的每個測量值 . SPC 13 n為子組樣本容量 . 選擇控制圖的刻度 對于 X圖 ,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最 小值之差應(yīng)至少為子組均值 (X)的最大 值與最小值差的 2 倍 .對于 R 圖 ,刻度值 應(yīng)從最低值為 0 開始到最大值之間的差 SPC 14 值為初始階段遇到的最大極差 ( R )的 2倍 . 將均值和極差畫在控制圖上 2. 計算控制限 計算平均極差 ( R ) 及過程平均值 ( X ) 在研究階段 ,計算 : R = (R1+R2+….+R k) / k X = (X1+X2….+X k) / k S
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