統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制培訓(xùn)講座(文件)
【正文】 取措施 ? 通常用來(lái)消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過(guò)程問(wèn)題 ? 統(tǒng)計(jì)的核心概念 ? 波動(dòng) ? ? 自然界中沒(méi)有完全相同的東西 ? ? 波動(dòng)是指過(guò)程中的件與件之間的區(qū)別 ? ? 正是波動(dòng)的存在，工程師才在技術(shù)上要求給出公差 ? ? 質(zhì)量控制根本無(wú)法完全消除波動(dòng)，僅測(cè)量波動(dòng)，預(yù)測(cè)發(fā)生的可能性，并不斷地降低存在的波動(dòng) ? ? 產(chǎn)品 /特性間的波動(dòng)可分為正常波動(dòng)（短期的、零件間的差異）和異常波動(dòng)（發(fā)生規(guī)則和不規(guī)則的變化 ? ? ? 正常波動(dòng) ? ? 由偶然的或隨機(jī)因素造成的，并且不能控制 ? – 設(shè)備震動(dòng) ? – 原材料批與批之間的區(qū)別 ? ? 僅存在正常波動(dòng)的過(guò)程是 ―受控 ‖的過(guò)程，其輸出是可預(yù)測(cè)的 ? 異常波動(dòng) ? ? 不是由偶然的或隨機(jī)因素造成的，而是由特殊原因引起，并且可以控制 ? – 材料不合格 ? – 不同供應(yīng)商提供的原材料 ? – 不正確的設(shè)備調(diào)試 ? ? 存在異常波動(dòng)的過(guò)程是 ―不穩(wěn)定 ‖的，其輸出是不可預(yù)測(cè)的 ? ? 統(tǒng)計(jì)方法提供波動(dòng)的信息 ? ? 兩個(gè)度量參數(shù) ? – 集中趨勢(shì) ? ? 集中趨勢(shì)用于度量分布中心 ? ? 集中趨勢(shì)的一個(gè)主要度量參數(shù)是平均值 ? – 分散程度 ? ? 分散程度用于度量分布范圍 ? ? 分散程度的一個(gè)重要度量參數(shù)是標(biāo)準(zhǔn)偏差 ? 正態(tài)分布 ? 產(chǎn)品 /特性的波動(dòng)分布符合正態(tài)分布 ? 正態(tài)分布的特征值 – 平均值：鐘型曲線(xiàn)最高點(diǎn)對(duì)應(yīng)的數(shù)值 – 極差：最大測(cè)量值和最小測(cè)量值之間的差值 – 標(biāo)準(zhǔn)偏差 S ： 數(shù)據(jù)散布程度的度量 正態(tài)分布 – 平均值 – 中位數(shù) – 眾數(shù) – 正態(tài)分布曲線(xiàn) – 標(biāo)準(zhǔn)偏差 S 正態(tài)分布 圖 在生產(chǎn)過(guò)程中，產(chǎn)品的加工尺寸的波動(dòng)是不可避免的。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響較小，在技術(shù)上難以消除，在經(jīng)濟(jì)上也不值得消除。 為什么要應(yīng)用 SPC 統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制（ SPC）是一種借助數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法的過(guò)程控制工具。 SPC正是利用過(guò)程波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性對(duì)過(guò)程進(jìn)行分析控制的。 ? 基于可控制和不可控制的變差的區(qū)分。 3 σ范圍的 x值，則認(rèn)為過(guò)程存在異常。確定過(guò)程參數(shù) 特點(diǎn)： 分析過(guò)程是否為統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài) 過(guò)程能力指數(shù)是否滿(mǎn)足要求？ ●控制用控制圖 等過(guò)程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長(zhǎng)控制圖的控制線(xiàn)作為控制用控制圖。 b 確保檢測(cè)設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過(guò)程 流等。 接上頁(yè) 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 42 刻度選擇 ： 接上頁(yè) 對(duì)于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X） 的最大值與最小值的差的 2倍，對(duì)于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R） 的 2倍。 注： 對(duì)于還沒(méi)有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 13 計(jì)算公式： 14 UCLx=X+ A2R UCLR=D4R 15 LCLx=X A2R LCLR=D3R 16 接上頁(yè) 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 ? 各控制限畫(huà)成虛線(xiàn)。 6 7 注 1： R 圖和 X 圖應(yīng)分別分析，但可進(jìn)行比較，了解影響過(guò)程 8 的特殊原因。 a2 測(cè)量系統(tǒng)的改變 （ 如新的檢驗(yàn)人或新的量具 )。 注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線(xiàn)延伸 到鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間 。 c2 過(guò)程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過(guò)程均值的過(guò)程流的測(cè)量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來(lái)測(cè)取數(shù)據(jù)）。 注：如果存在幾個(gè)過(guò)程流，應(yīng)分別識(shí)別和追蹤。 b 由于出現(xiàn)特殊原因而從 R 圖中去掉的子組，也應(yīng)從 X圖中去掉。而是排除受已知的特殊原因影響的點(diǎn)。 a1 過(guò)程均值已改變 a2 測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線(xiàn)延伸到 鏈的開(kāi)始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開(kāi)始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過(guò)編輯 (極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 X很近之處（對(duì)于 25子組， 如 果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一 種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)描錯(cuò) 。 b 應(yīng)及時(shí)分析問(wèn)題，例如：出現(xiàn)一個(gè)超出控制限的點(diǎn)就立即開(kāi) 始分析過(guò)程原因。方法如下： b 1 估計(jì)過(guò)程的標(biāo)準(zhǔn)偏差（用 σ? 表示），用 現(xiàn)有的 子組容 量計(jì)算： σ? = R/d2 式中 R為子組極差的均值（在極差受控期間）， d2 為隨樣本 容量變化的常數(shù)，如下表： n 2 3 4 5 6 7 8 9
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