【正文】 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個(gè)或多個(gè)不 同的過程流的測(cè)量值（這可能是由于對(duì)可調(diào)整的過程進(jìn)行 過度 控制造成的，這里過程改變是對(duì)過程數(shù)據(jù)中隨機(jī)波 動(dòng)的響應(yīng)）。 32 識(shí)別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖） a 對(duì)于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)特殊原因進(jìn)行標(biāo)注，作一個(gè)過程操作 分析，從而確定該原因并改進(jìn)，防止再發(fā)生。 9 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 10 因此，首先應(yīng)分析 R圖。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。應(yīng)用過程參數(shù)判斷 控制圖類型 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺陷數(shù)控制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺陷數(shù)控制圖 ) 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關(guān)心的是不合格品率？ 否 關(guān)心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓 定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學(xué)槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計(jì)算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià)并且是適用的。它對(duì)生產(chǎn)過程進(jìn)行分析評(píng)價(jià)，根據(jù)反饋信息及時(shí)發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)性因素出現(xiàn)的征兆，并采取措施消除其影響，使過程維持在僅受隨機(jī)性因素影響的受控狀態(tài)，以達(dá)到控制質(zhì)量的目的。有時(shí)被稱為可查明原因，存在它的信號(hào)是：存在超過控制線的點(diǎn)或存在在控制線之內(nèi)的鏈或其他非隨機(jī)性的情形。 SPC技術(shù)原理 SPC的概念 使用諸如控制圖等統(tǒng)計(jì)技術(shù)來分析過程或其輸出以便采取適當(dāng)?shù)拇胧﹣磉_(dá)到并保持統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)從而提高過程能力。 均值和極差圖（ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報(bào)告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 4 5 21 計(jì)算平均極差（ R） 及過程均值（ X） 6 R=（ R1+R2+…+Rk ） / k（ K表示子組數(shù)量） 7 8 X =（ X1+X2+…+Xk ） / k 9 22 計(jì)算控制限 10 計(jì)算控制限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí)子組的均 11 值和極差的變化和范圍。 b2 測(cè)量系統(tǒng)的改好。 A2R 。 37 為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長控制限 a 當(dāng)首批數(shù)據(jù)都在試驗(yàn)控制限之內(nèi)（即控制限確定后），延長控 制限，將其作為將來的一段時(shí)期的控制限。 a1 過程均值已改變 a2 測(cè)量系統(tǒng)已改變（漂移，偏差，靈敏度） 注：標(biāo)注這些使人們作出決定的點(diǎn)，并從該點(diǎn)做一條參考線延伸到 鏈的開始點(diǎn)，分析時(shí)應(yīng)考慮開始出現(xiàn)變化趨勢(shì)或變化的時(shí)間。 c2 過程或取樣方法被分層，每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或多 個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測(cè)量值（如：從幾組 軸中，每組抽一根來測(cè)取數(shù)據(jù)）。 ? 各控制限畫成虛線。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 3 σ范圍的 x值，則認(rèn)為過程存在異常。它對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量影響較小，在技術(shù)上難以消除，在經(jīng)濟(jì)上也不值得消除。正常波動(dòng)是偶然性原因（不可避免因素）造成的。 ? 根據(jù)小概率事件可以“忽略”的原則：如果出現(xiàn)超出 μ177。對(duì)正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進(jìn)行監(jiān)測(cè)的子組頻率可以是每班 2次，或一小時(shí)一 次等。 23 在控制圖上作出均值和極差的控制限 ? 平均極差和過程均值畫成實(shí)線。 C 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R 很近之處（對(duì)于 25子組，如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對(duì)下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限計(jì)算錯(cuò)或描點(diǎn)已描錯(cuò) 。 a3 測(cè)量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（有一點(diǎn)超過控制限） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢(shì)： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 注 1： 當(dāng)子組數(shù)（ n） 變得更小（ 5或更?。r(shí)，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則 8點(diǎn)或更多點(diǎn)組成的鏈才能表明過程變差減小?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 12 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。 注： 應(yīng)制定一個(gè)收集數(shù)據(jù)的計(jì)劃，將其作為收集