【正文】 排除了與極差和均值有關(guān)的可解釋和可糾正的問題，過程看來是統(tǒng)計受控的。對于影響被選為重要產(chǎn)品特性的新過程能力指數(shù)要求為 Zmin≧ 4 或 Cpk≧ 或 Ppk≧ 17 б =R/d2 稱 為使平均極差 R 來估計過程的標(biāo)準(zhǔn)偏差。 在控制圖上畫出均值和極差的上、下控制限的控制線（虛線）。 ? 定義測量系統(tǒng)：測量設(shè)備本身的準(zhǔn)確性和精密性，必須是可預(yù)測的。 二、控制圖的種類 控制圖分類： 可分為計量型數(shù)據(jù)控制圖和計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖二類 計量型數(shù)據(jù)控制圖： 3）．改進(jìn)過程： 能力指數(shù)是產(chǎn)品規(guī)范與統(tǒng)計分布寬度之比 計算得到的 形狀 (變差的模式 —— 是否對稱偏斜率等 ) 每件產(chǎn)品的尺寸都與別的不同 范圍 范圍 范圍 當(dāng)它們形成一個模型 若穩(wěn)定，可以描述 為一個分布 范圍 范圍 范圍 位置 分布寬度 形狀 分布可以通過 以下因素來 區(qū)分 范圍 范圍 范圍 變差的普通原因 7 ? 普通原因指的是造成隨著時間的推移具有穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布過程中的許多變差的原因； ? 過程處于統(tǒng)計受控狀態(tài)； ? 一個穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因 (即隨機(jī)原因 )； ? 過程的輸出是可以預(yù)測的； ? 分布位置、分布寬度、分布形狀不變化； ? 只有普通原因作用時，過程受控，可計算能力或性能指數(shù)。如果不分析過程中的根本原因，不對過程采取校正措施或驗證，這是時間和材料的極大浪費(fèi)。 一、持續(xù)改進(jìn)及統(tǒng)計過程控制概述 ㈠ 預(yù)防與檢測 ㈡ 過程控制系統(tǒng) ㈢ 變差的普通原因及特殊原因 ㈣ 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ㈤ 過程控制和過程能力 3 ㈥ 過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制 ㈦ 控制圖 —— 過程控制的工具 ㈧ 控制圖的益處 1．預(yù)防與檢測 檢測 —— 容忍浪費(fèi) ? 在生產(chǎn)部門，通過檢查最終產(chǎn)品并剔除不合格產(chǎn)品。 —— 過程特性 (如溫度、循環(huán)時間、進(jìn)給速率、缺勤、周轉(zhuǎn)時間、延遲以及中止的次數(shù)等 )是我們關(guān)心的重點(diǎn)。 6 因此，測量周期以及測量時的條件將會影響存在的變差總量。過程能力由造成 變差的普通原因來確定，代表過程本身的最佳性能 (例如：分布寬度最小 )，而并不表示過程分布的位置和 /或?qū)挾仁欠穹弦?guī)范的要求； 6．過程改進(jìn)循環(huán)及過程控制 持續(xù)改進(jìn)過 程循環(huán)的三個階段 第一階段： 第二階段： 分析過程 計劃 實(shí)施 維護(hù)過程 10 措施 研究 第三階段： 改進(jìn)過程 措施 研究 三個階段應(yīng)考慮的問題 1）．分析過程： 3） 分析及改進(jìn)： ? 特殊原因消除后，過程統(tǒng)計受控，此時可計算過程能力； ? 因普通原因造成變差過大，過程輸出 (產(chǎn)品 )不能滿足規(guī)范要求，必須采取管理措施來改進(jìn)系統(tǒng) 重復(fù)以上三個階段，不斷地改進(jìn)過程。由于質(zhì)量特性是通過一個個計算單位來表示，因此屬離散型數(shù)據(jù)。 計算每個子組的均值（ X）和極差（ R） X= X1+X2+? +Xn 式中 X X2?為子組內(nèi)每個測量值 n n 為子組的樣本容量 R=XMAXXMIN 選擇控制圖刻度 對于 X 圖，縱坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差至少為子組均（ X）的最大值與最小值差的 2 倍。 如果過程中心偏離目標(biāo)值，可調(diào)整過程使之對準(zhǔn) 目標(biāo)值，這些控制限可繼續(xù)用來進(jìn)行過程監(jiān)控。使用 Z 值和標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布表來估計有多少比例的輸出會超出規(guī)范值： —— 對于單邊容差： 在正態(tài)分布表上左邊是 Z 值的整數(shù)部分和十進(jìn)位值，上端為 Z 值的百分位值，行和列的交點(diǎn)的值即為超出規(guī)范的百分比 Pz。 對修改的過程繪制控制圖并分析 Cpm = USLLSL 6б Cpm 或中б Cpm = Σ n （ XiT） 2 i=1 n1 T—— 規(guī)范的目標(biāo)值 Xi—— 為給定的單個樣本讀數(shù) N —— 樣本讀數(shù)的總量 Cpm 與其他指數(shù)的比較 LSL T USL [USLT]=[TLSL] μ Cp CPL Cpu Cpk Cpm 10 11 12 μ 14 15 16 17 18 13 2 LSL T USL 10 11 12 13 μ 15 16 17 18 14 2 LSL T USL 10 11 12 13 14 μ 16 17 18 15 2 LSL T USL 10 11 12 13 14 15 μ 17 18 16 2 3 25 LSL T USL 10 11 12 13 14 15 16 μ 18 17 2 。 注： Z 值為負(fù)值時，說明過程均值超出規(guī)范。 重新計算控制限（均值圖） 通過初始研究或重新評定過程能力時，特殊原因已被識別并排除，從 X 圖中去除失控點(diǎn)，重新計算并描繪過程均值和控制限。 — 測量系統(tǒng)改變（如：新的檢驗員或量具） 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 使用 XS 圖 14 X R 圖通常由 X 圖和 R 圖組成，上方為 X 圖，下方為 R 圖，最下方有一個數(shù)據(jù)欄。其特性數(shù)據(jù)是不能連續(xù)取值的計數(shù)數(shù)據(jù)，如：不合格品數(shù)、不合格品率、缺陷數(shù)、 12 疵點(diǎn)、級別等。 7．控制圖是過程控制的工具 制作和使用控制圖的基本步驟： 1） 收集： ? 按計劃收集數(shù)據(jù)； ? 將被研究的特性 (過程或產(chǎn)品 )的數(shù)據(jù)收集后 轉(zhuǎn)換成可以畫到控制圖上的形式 11 （如：平均值 X、極差 R、不合格品率 P、不合格品數(shù) np 等）。 Cp、 Cpk 是長期的能力指數(shù)。 當(dāng)出現(xiàn)變差的特殊原因時，提供統(tǒng)計信號； 當(dāng)不存在特殊原因時避免提供錯誤信息。如：機(jī)加工一根軸的直徑，影響直徑變差的原因有： ? 機(jī)床 (間隙、軸承磨損 ) ? 刀具 (強(qiáng)度、磨損率 ) ? 材料 (直徑、硬度 ) ? 操作者 (進(jìn)給速率、對中準(zhǔn)確度 ) ? 維修 (潤滑、易損零件的更換 ) ? 環(huán)境 (溫度、濕度、動力供應(yīng)是否恒定 ) ? 造成變差的原因有短期的影響和長期的影 響。 統(tǒng)計方法 顧客 我們工作的方式 /資源的融合 識別不斷變化的需求和期望 4