【正文】 管理措施，加以糾正。 19 ? 放大規(guī)范使之與過程性能一致（但不能滿足顧客要求） 以上兩種應急辦法與過程改進相比顯然是下策。當未滿足過程能力指數(shù)要求時 ,應采取措施 : — 減少普通原因引起的變差或?qū)⑦^程均值調(diào)整到接近目標值來改 進過程性能 ,這就要采取管理措施來改進過程系統(tǒng)。 Pp= USLLSL 6б s 式中：бS 為所有單個樣本數(shù)據(jù)使用標準偏差（均方根等式） 一般表達式為： б s= n （ xix） 2 ∑ n1 I=1 式中： n 為所有單值讀數(shù)的個數(shù)（一般不小于 100 個） X 為所有單值讀數(shù)的均值 Xi 為單值讀數(shù) —— Ppk：這是考慮到過程中心的性能指數(shù) ZusL= USLX Zlsl= XLSL б s б s Zmin 取 ZusL或 ZLsl中的較小者 Ppk= Zmin 3 或 Ppk= USLX 或 XLSL 兩者中的較小值 3б s 3б s 評價過程能力 計算過程能力指數(shù) —— 對于雙邊容差： 應分別計算超出上、下限規(guī)范界限的百分 比。使用 Z 值和標準正態(tài)分布表來估計有多少比例的輸出會超出規(guī)范值： —— 對于單邊容差： 在正態(tài)分布表上左邊是 Z 值的整數(shù)部分和十進位值，上端為 Z 值的百分位值，行和列的交點的值即為超出規(guī)范的百分比 Pz。 注： Z 值為負值時，說明過程均值超出規(guī)范。當雙邊容差時過程能力 Z 計算： ZUSL= USLX ZLSL= XLSL б R/D2 б R/D2 過程能力 Zmin 取 ZUSL 或 ZLSL 中的較小值者。 可用來評價過程的能力。 計算過程的標準偏差 б б =R/d2=б R/d2 式中： R是子組極差的平均值（極差圖受控時） d2 是隨子組樣本容量不同而變化的常數(shù)，可查表得到。 當現(xiàn)行的控制圖反映過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)（最好是不少于 25 個子組時），可以進行過程能力的評估。調(diào)整子組容量（減小樣本容量但增加抽樣頻率） — 按原子組容量查得的 d2 求過程標準差 б =R/D； — 按調(diào)整后的子組容量查得 d2 新，計算新的均值和極差的控制限。如果過程中心偏離目標值，可調(diào)整過程使之對準 目標值，這些控制限可繼續(xù)用來進行過程監(jiān)控。 重新計算控制限（均值圖） 通過初始研究或重新評定過程能力時，特殊原因已被識別并排除，從 X 圖中去除失控點，重新計算并描繪過程均值和控制限。但大約 1/150 的點落在控制限之外，可認為過程是受控的。明顯非隨機圖形 判斷準則：各點與過程均值的距離，一般情況下，大約 2/3 點應落在控制限 1/3 的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3 的點 落在其余的 2/3 區(qū)域內(nèi)。連續(xù) 7 點在平均值一側(cè)，連續(xù) 7 點上升或下降，證明過程已開始變化或有變化的趨勢，要識別原因： — 過程平均值已改變，也許還在變化； — 測量系統(tǒng)已改變（不穩(wěn)定、偏奇、靈敏度等）。超出控制限 UCLX或 LCLX時： 出現(xiàn)一點或多點超出 UCLX或 LCLX時，證明這點出現(xiàn)特殊原因，要分析： — 控制限計算錯誤或描點錯誤； — 過程已改變（可能是一件獨立事件）或是一種趨勢的一部分； — 測量系統(tǒng)發(fā)生改變（如：不同量具或檢驗員）。重新計算的 R 和X 值可用于重新計算極差和均值的控制限。 重新計算控制限（極差圖） 在進行初次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已被識別和消除或制度化，此時可重新計算控制限。 — 測量系統(tǒng)改變（如：新的檢驗員或量具） C、過程控制解釋 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點 當 n＜ 7 時，極差無下控制限。 B. 計算控制限 計算過程均值（ X）和平均極差（ R） X= X1+ X2+? +Xn 式中： K 為子組的數(shù)量 k X1 和 R1 為第一個子組的均值和極差，以此類推。 將均值和極差畫到控制圖上。 計算每個子組的均值（ X）和極差（ R） X= X1+X2+? +Xn 式中 X X2?為子組內(nèi)每個測量值 n n 為子組的樣本容量 R=XMAXXMIN 選擇控制圖刻度 對于 X 圖，縱坐標上的刻度值的最大值與最小值之差至少為子組均（ X）的最大值與最小值差的 2 倍。 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 使用 XS 圖 14 X R 圖通常由 X 圖和 R 圖組成，上方為 X 圖，下方為 R 圖，最下方有一個數(shù)據(jù)欄。 當證明過程穩(wěn)定受控后，可增加子組間的時間間隔（如每班兩次或每小時一次等）。 對于所有的子組樣本容量應保持不變。 ? 使不必要的變差最小化：在開始研究應消除不必 要的變差外部原因，避免過度調(diào)整或過度控制，過程記錄表上記錄所有相關事件，如：刀具更換，新的原材料批次， 如何使用均值和極差圖（ X R 圖） ： ? 收集數(shù)據(jù) ? 計算控制限 ? 過程控制解釋 ? 過程能力解釋 A 收集數(shù)據(jù) 選擇子組大小、頻率和數(shù)據(jù) a. 子組大小：確定“合理子組”，子組變差代表短時間內(nèi)零件間的變差。 ? 確定作圖的（待管理）特性： ? 顧客的需求（顧客呼聲，過程何處需改進）； ? 當前的潛在問題區(qū)域（考慮存在的浪費或低效能的證據(jù)，如：廢品、返工、過多加班、與目標值不符、以及風險區(qū)域）； ? 特性間關系，如：該特性難測量（如：體積），可選一個相關的易測量的特性（如：重量），一個項目的幾個單獨特性，如有相同變化趨勢，可能用一個特性來畫圖就足夠了。管理者必須提供資源（人力 和物力）支持改進措施。收集數(shù)據(jù)快，花費小，且使用簡單量具（如：量規(guī)、目視），通常不需要專業(yè)化的收集技術。由于質(zhì)量特性是通過一個個計算單位來表示，因此屬離散型數(shù)據(jù)。其特性數(shù)據(jù)是不能連續(xù)取值的計數(shù)數(shù)據(jù)，如：不合格品數(shù)、不合格品率、缺陷數(shù)、 12 疵點、級別等。計量型控制圖可以通過分布寬度（零件間的變異性）和其位置（過程的平均值）來解釋數(shù)據(jù)。用計量型數(shù)據(jù)可以 分析一個過程的性能，可以量化所作的改進，即使每個單值都在規(guī)范界限之內(nèi)。大多數(shù)過程和其輸出具有可測量的特性，如：長度、重量、時間、強度、硬度、成分、純度等。 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施時決策的指南。使過程達到： —— 更高的質(zhì)量 —— 更低的單位成本 —— 更高的有效能力 供正在過程控制的操作者使用； 3） 分析及改進： ? 特殊原因消除后，過程統(tǒng)計受控，此時可計算過程能力； ? 因普通原因造成變差過大，過程輸出 (產(chǎn)品 )不能滿足規(guī)范要求，必須采取管理措施來改進系統(tǒng) 重復以上三個階段，不斷地改進過程。 7．控制圖是過程控制的工具 制作和使用控制圖的基本步驟： 1） 收集： ? 按計劃收集數(shù)據(jù)； ? 將被研究的特性 (過程或產(chǎn)品 )的數(shù)據(jù)收集后 轉(zhuǎn)換成可以畫到控制圖上的形式 11 （如：平均值 X、極差 R、不合格品率 P、不合格品數(shù) np 等）。通過操作受統(tǒng)計控制的過程來減少變差，并且不斷地分析過程的變化。 為了不斷改進過程，必須重復以上三個階段。減小變差，改進過程； 采取措施，使過程穩(wěn)定受控。必須監(jiān)控過程性能； 本過程正在做什么？ —— 是否在生產(chǎn)廢品或需返工？ —— 過程是否統(tǒng)計受控？ —— 過程能力是否滿足要求？ —— 過程是否可靠穩(wěn)定？ 2）．維護過程 6．過程改進循環(huán)及過程控制 持續(xù)改進過 程循環(huán)的三個階段 第一階段： 第二階段： 分析過程 計劃 實施 維護過程 10 措施 研究