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品質(zhì)檢驗標準討論-xuaiwengalvinh(專業(yè)版)

2025-02-22 18:55上一頁面

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【正文】 。 繞腳高度超出引腳定位面 。 線傷 、 爆皮位於磁環(huán)內(nèi)圈進出引腳上或匝間碰接處 。 71 品質(zhì)檢驗標準 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 線傷 、 爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 。 引腳偏移超過 。 鐵片卡腳伸出磁套外部分超過 。 繞線有線傷現(xiàn)象 。 鍍銀品掉銀兩處以上 ,側(cè)面銀垂流超過厚度的 1/2,電極分隔區(qū)銀面擴散超過分隔 區(qū)寬度的 1/3。 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長度尺寸一致時 ) 59 品質(zhì)檢驗標準 產(chǎn)品引腳長度公差在 以上 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/4或以內(nèi) 。 BC產(chǎn)品鐵芯未貼平底座或線圈明顯偏離底座中心點 。 針腳易鬆動或脫落 : 引腳拉力強度不能滿足材料承認要求 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 線圈兩端露出鐵芯目視明顯不均等 。 標記顏色或標簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認書要求 。 線圈排列不均勻 ,線打折 。 裝配不良 (如 2DRUC的產(chǎn)品 ,組裝後會出現(xiàn)線圈與基座鬆脫 )。 包膠帶圈數(shù)不正確 , 接口鬆脫 , 毛邊 。 AP臥式產(chǎn)品插入模具後出現(xiàn)一邊起翹 . 45 品質(zhì)檢驗標準 次要缺點 引腳不平行 (插入量具後 ,量具面與磁芯面不貼 )。 鐵芯掉漆 1處 。 主要缺點 41 品質(zhì)檢驗標準 、破損、皺折等; 絲印斷筆、不清晰、潮濕等。 ,髒污 ,有斑痕 . : 38 品質(zhì)檢驗標準 。掛線柱缺損等 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm; 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過 mm; ψ10 以上的超過 mm 。 24 品質(zhì)檢驗標準 RH磁芯 : 、物理性能不合格; ; 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴重不良。 【 不合格品管制作業(yè)程序 】 QPQT03。 ? 正常檢驗改用減量檢驗時:正常檢驗之前 10批 , 在正常檢驗時均已被允收 ,而且這 10批中其不良品 ( 或缺點 ) 之總數(shù) , 等於或小於抽樣表所列之數(shù)目者 。 ) 缺點 製品單位其品質(zhì)特性不合乎契約所規(guī)定的規(guī)格、圖樣、購買說明書等的要求者 謂之缺點,其符號用 d 表示。 缺點一般可分為 : (1)嚴重缺點 (Critical defect) 凡有危害製品的使用者或攜帶者的生命或安全之缺點謂之嚴重缺點 。 ? 減量檢驗轉(zhuǎn)換成正常檢驗:當施行減量檢驗時 , 如在原來檢驗中有一批被拒收 , 及改為正常檢驗 。 【 MIL STD105E抽樣計劃 】 WIQT021。 : 、裝配燒結(jié)不良點、沙孔或附雜質(zhì); mm, 或線孔處崩口延至外邊緣; ; 1個。 ; 30 品質(zhì)檢驗標準 1個; 。 ; 35 品質(zhì)檢驗標準 BASE(支架 ,基座 )的拉力達不材料承認要求; BASE(支架 ,基座 )的可焊性不良 (須上錫均勻、表面光潔、可靠上錫面積達 90%以上等 )。 : .露銅 ,焊錫脫落 ,氧化發(fā)黑 ,表面錫粒 。 次要缺點 : 、灰塵污物及刻畫等現(xiàn)象。 鐵芯表面有凹痕 : T30或以下規(guī)格超過 mm, T30至 T50規(guī)格超過 mm, T50至 T90規(guī)格超過 , T90或以上規(guī)格超過 。 剝漆粗糙 、 引腳氧化 、 發(fā)黑 、 黃斑 、 黑點 、 少錫 、 PIN歪斜 。 底座燙傷 、 變形 .崩口 。 48 品質(zhì)檢驗標準 針腳易鬆動或脫落 (用繞線線徑做引腳的產(chǎn)品不需做拉力試驗 ) ∮≦ 2mmCORE之引腳拉力 。 引腳氧化、發(fā)黑、焊錫粗糙、黃斑、黑點、包漆過長 。 貼片類產(chǎn)品平整度尺寸超過 (特殊產(chǎn)品除外 )。 剝漆處明顯凹凸不平 。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 標記顏色或標簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認書要求 . 次要缺點 : 支架底座邊緣切口不平整 。 基座有破損現(xiàn)象 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 ~ 之間 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/3或以內(nèi) 。 白點方向錯 。 單個崩口 外表面尺寸 10mm以下 :崩口超過 。 鐵片面凹凸不平 。 兩邊引腳長度差超過 。 貼片刮傷至露銅 . 焊錫面出現(xiàn)焊錫過多或過少現(xiàn)象 (錫面應(yīng)剛好復蓋引線為基準 ). 電極端子氧化或側(cè)面附膠 . 、 裂痕 、 掉漆 。 單個崩口 : ψ 6或以下的超過 mm; ψ 6以上的超過 mm; 多個崩口 : ψ 6或以下的超過 mm; ψ 6以上的超過 mm 。 磁芯出現(xiàn)裂痕 。 產(chǎn)品上有錫渣或錫珠 。 74 品質(zhì)檢驗標準 引腳刮傷至露銅 。 、 嘜頭格式及位置不符 【 出貨標籤及嘜頭格式規(guī)範 】 WIWH012要求 。 。 BASE,CASE上的 PIN有鬆動情形 . 加底座之產(chǎn)品 ,線圈未貼平底座 。 產(chǎn)品凹痕深度超過 。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 斷線 、 磁芯斷裂 ,繞線方向反 . 主要缺點 : 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不足 (低於 90%上錫面積 ),焊錫最高處延伸至繞線區(qū) 。 傾斜度超過 。 傾斜度超過 。 貼鐵片品貼片與磁套凹槽間隙超過 mm。 冷焊 、 漏焊 、 焊錫不足 (低於 90%上錫面積 ),焊錫最高處延伸至繞線區(qū) 。 傾斜度超過 。 基座表面燙傷高度大於 1mm,起泡尺寸超過 mm。線傷超過 2處或線傷 2處相碰 。 產(chǎn)品烘烤后磁芯易鬆動 。 (產(chǎn)品 SPEC中引腳長度尺寸一致時 ) 產(chǎn)品引腳長度公差在 以上 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/4或以內(nèi) 。引腳明顯不平行 。 剝漆處漆包殘留或銅線剝傷 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 線傷 、 爆皮尺寸超本身線徑 1半 ,并已氧化發(fā)黑 。 標記不清晰 、 偏斜或易脫落 。 (不能滿足材料承認要求 )。 主要缺點 : 機械尺寸 (角度 )不在規(guī)格內(nèi) . 鐵芯 、 底座本體斷裂 ,裂縫 。 嚴重缺點 : ﹑ 材質(zhì)不合格; ; 。 : ﹑ 黑點 ﹑ 斑痕等有色斑痕 。水口尺寸大於 。 1個 。 次要缺點: ﹑ 髒污等外觀不良。 18 品質(zhì)檢驗標準 參考資料 【 檢驗與測試作業(yè)程序 】 QPQT01。 ? 加嚴檢驗轉(zhuǎn)換成正常檢驗時:當實施加嚴檢驗時 , 如原來檢驗之連續(xù) 5批中被允收時 , 即可開始改用正常檢驗 。 ) 不合格判定數(shù) (判定批為不合格時,樣本內(nèi)所含之最少不良品個數(shù),以 Re表示之。 (2)主要缺點 (Major defect) 製品單位的使用性能不能達到所期望之目的,或顯著的減低其實用性 質(zhì)的缺點謂之主要缺點。 ? 檢驗的終止:在原來加嚴檢驗時 , 如果沒有允收的連續(xù)批數(shù) , 累積到 5批 ,則本標準之允收程序即告終止 。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 : ﹑ 髒污等外觀不良。 . SD等鍍銀品 嚴重缺點 : 、物理性能不合格; ; 、裂縫、破損、變形等嚴重不良; 主要缺點 : 、裝配之燒結(jié)不良點、沙孔或附雜質(zhì); : 外表面 : ψ6 或以下的超過 mm; ψ6 以上的超過 mm; 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過 mm; ψ6 以上的超過 mm; : ψ6 或以下的超過 mm; ψ6 以上的超過 mm; 1個; 31 品質(zhì)檢驗標準 (產(chǎn)品焊錫點或面離開水平面的最大距離大於 ); 1/4; .. : 超過電極分隔區(qū)之 1/5; ..:超過電極分隔區(qū)之 1/5; ..:超越其所在位置厚度之 1/2; .. ﹑ 磨損和發(fā)黑等超過其所在面凸處接觸面積的 10%; .. 95%可靠上錫。 SMD BASE可焊性檢測依 WIQT046. 次要缺點 。 。 麥頭、標簽、貼紙 嚴重缺點 : 材質(zhì)、規(guī)格尺寸。 鐵芯凹痕深度超過 ,或凹痕個數(shù)超過 1處 。 線圈與磁芯間隙超過一根本身線 。 立式多線並繞產(chǎn)品 ,引腳從外磁芯面至內(nèi)徑方向 2/3處內(nèi)有開裂現(xiàn)象 。 2mm∮≦3mm CORE 之引腳拉力 。 套管過長或過短 ,明顯歪斜、偏離、毛邊或收縮不緊 。 角度不符合要求 。 引腳氧化 、 發(fā)黑 、 黃斑 、 黑點 。 產(chǎn)品引腳長度公差在 以下 ,則引腳長度差不需作管制 。 引腳焊錫粗糙 、 氧化發(fā)黑 、 黃點 、 黑點 。 T30或以下規(guī)格崩口尺寸超過 mm,或崩口 2處或以上 。 產(chǎn)品引腳長度公差為 ,則引腳長度差須管控在其長度公差的 1/2或以內(nèi) 。 標記內(nèi)容 、 顏色 、 位置不符合承認書要求 。 外表面尺寸 10mm以上 :崩口超過 。 引出線凸出磁套面 ,鐵片有粘貼不良 。 引腳剪切歪斜超過 。 68 品質(zhì)檢驗標準 (磁芯繞線與基座偏位或傾斜 ,引線按規(guī)定位置引出等 )。 崩口深度: ψ 6或以下的超過 mm; ψ 6以上的超過 ; 單表面崩口數(shù)超過 1個 ,總崩口個數(shù)超過 2個 。 錫珠附著 . 一般缺點 : 線圈排列不緊密 ,不均勻 ,線交叉 。 PIN有冷焊 、 漏焊 、 焊錫不全或錫塊附著 、 端面針孔 。 引腳歪斜 。 【 出貨標籤及嘜頭格式規(guī)範 】 WIWH012要求 。 PIN端上錫不良 (有黑點或上錫不全 ). 包裝外觀檢驗 主要缺點
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