巖石礦物樣品成分分析法(完整版)
【正文】 P, R處的原子作用而產(chǎn)生散射。光譜線的強(qiáng)度，大致與各成分的含量成正比。其靶極的元素不能是欲分析的樣品中所含的元素。3). 在狹縫A的小負(fù)電位會(huì)將正離子與負(fù)離子分開(kāi)，且被數(shù)百到數(shù)千伏特的電位加速。P 感應(yīng)耦合電漿質(zhì)譜儀 (ICPMS)9 / 9。4). 進(jìn)入分析管中，壓力保持在大約107 torr，快速移動(dòng)的離子被強(qiáng)烈的磁場(chǎng)作用造成彎曲的路徑，此彎曲路徑的半徑依其速度、質(zhì)量，以及磁場(chǎng)強(qiáng)度而定；所以改變加速電位或磁場(chǎng)強(qiáng)度可以將不同質(zhì)量的粒子集中到出口狹縫?？捎迷诙ㄐ耘c定量分析。應(yīng)用：(1) 判別結(jié)晶物質(zhì)中原子的間隔與排列，對(duì)金屬、高分子物質(zhì)和其他固體物理性質(zhì)有更清晰的聊解。又知道AP = PC = d sinθ其中d為結(jié)晶的平面距離，因此可得出光束在θ角的建設(shè)性干涉條件為：nλ= 2d sinθ (Bragg diffraction law)只有在入射角滿足sinθ= nλ/2d時(shí)，X射線像是被晶體反射，其他角度都是破壞性干涉。巖石礦物樣品成分分析法 8 主要元素（major elements）Xray fluorescence spectrometry－X光螢光分析（XRF）8 微量元素（trace elements）Activation analysis－活化分析Emission
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